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基于ATE的PMIC参数测试关键技术研究
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作者 温志贤 杨红亮 褚夫邈 《集成电路与嵌入式系统》 2025年第4期72-78,共7页
以UC3842芯片为例,提出了一种基于华峰公司STS8200的模拟芯片性能测试方案。本文对芯片的几个重要参数(基准电压、负载调整率、线性调整率、振荡器频率、上升沿与下降沿时间等)的测试方法和测试程序进行了研究。最终通过实验验证,各个... 以UC3842芯片为例,提出了一种基于华峰公司STS8200的模拟芯片性能测试方案。本文对芯片的几个重要参数(基准电压、负载调整率、线性调整率、振荡器频率、上升沿与下降沿时间等)的测试方法和测试程序进行了研究。最终通过实验验证,各个参数的实验结果均在有效值范围以内。实验结果表明,在测试了10颗芯片并对第10颗芯片进行LOOP 100次后,芯片的测试良率为100%,说明测试方案真实有效。 展开更多
关键词 PMIC ATE 性能测试 测试数据分析 sts8200
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基于ATE的运放芯片测试策略
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作者 温志贤 褚夫邈 +1 位作者 杨红亮 余婷婷 《电子制作》 2025年第5期118-120,共3页
运算放大器(Operational Amplifier,运放)作为用途十分广泛的器件,对其相关技术指标进行精准且有效的测试是必不可少的。本文提出了针对运放芯片的测试策略,通过对自动测试设备(Automatic Test Equipment,ATE),搭建测试电路,实现运放芯... 运算放大器(Operational Amplifier,运放)作为用途十分广泛的器件,对其相关技术指标进行精准且有效的测试是必不可少的。本文提出了针对运放芯片的测试策略,通过对自动测试设备(Automatic Test Equipment,ATE),搭建测试电路,实现运放芯片输入失调电压、共模抑制比和开环电压增益三种参数的测试方法的研究。 展开更多
关键词 运算放大器 sts8200 测试开发
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一种基于ATE的LDO测试开发方法 被引量:4
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作者 田东 《中国集成电路》 2022年第8期86-89,共4页
LDO(Low Drop Output)即低压差调整器,作为常用的线性电压调整器,常常需要考虑技术指标是否符合使用需求,以及输出精度、线性度、负载能力等问题。因此,必须对其相关技术指标进行精准有效的测试。本文阐述了一款低压差调整器的测试开发... LDO(Low Drop Output)即低压差调整器,作为常用的线性电压调整器,常常需要考虑技术指标是否符合使用需求,以及输出精度、线性度、负载能力等问题。因此,必须对其相关技术指标进行精准有效的测试。本文阐述了一款低压差调整器的测试开发。测试开发平台是华峰公司的STS8200。文章对LDO的5个重要参数(输出电压、线性调整率、负载调整率、压差电压、静态电流)的测试方法和测试程序进行了探讨,进一步阐明了测试源表的合理利用对测试稳定性和测试有效性的重要性。 展开更多
关键词 LDO sts8200 测试开发
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