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边界扫描SRAM簇板级互连测试研究
被引量：
1
1
作者
李桂祥
刘明云
+1 位作者
杨江平
项建涛
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第3期61-66,共6页
由于边界扫描结构的复杂与费用的关系,在现代电子电路中广泛使用的静态随机存取存储器还很少包含边界扫描结构。本文提出了一种能完全实现SRAM簇互连测试的方法,该方法能检测SRAM簇控制线、数据线和地址线的板级互连故障,且测试长度较短。
关键词
边界扫描
sram
簇
板级互连
静态随机存取存储器
测试
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职称材料
SER-Tvpack:基于软错误率评估的SRAM型FPGA的装箱算法
2
作者
夏静
王天成
+2 位作者
吕涛
李华伟
邝继顺
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2014年第8期1764-1772,共9页
为了提高基于SRAM的FPGA(SFPGA)上的容软错误能力,提出了一种基于软错误率(soft error rate,SER)评估的装箱算法SER-Tvpack.通过结合软错误率的两个组成部分错误传播率(error propagation probability,EPP)和节点错误率(node error rate...
为了提高基于SRAM的FPGA(SFPGA)上的容软错误能力,提出了一种基于软错误率(soft error rate,SER)评估的装箱算法SER-Tvpack.通过结合软错误率的两个组成部分错误传播率(error propagation probability,EPP)和节点错误率(node error rate,NER),得到软错误评估标准SER的估算值,并将该值作为可靠性因子加入到代价函数中指导装箱过程,以减少装箱后可编程逻辑块(configuration logic block,CLB)之间互连的软错误率,从而提高设计的可靠性.对20个MCNC基准电路(最大基准电路集)进行实验,结果表明,与基准时序装箱算法T-Vpack及已有的容错装箱算法FTvpack相比较,软故障率分别减少了14.5%和4.11%.而且,与F-Tvpack比较,在仅增加0.04%的面积开销下,减少了2.31%的关键路径的时延,提供了较好的时序性能.
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关键词
sram
型FPGA
软错误率
可靠性
装箱
单粒子翻转
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职称材料
题名
边界扫描SRAM簇板级互连测试研究
被引量：
1
1
作者
李桂祥
刘明云
杨江平
项建涛
机构
空军雷达学院雷达系统工程系
空军雷达学院研究生队
华中科技大学电子与信息工程系
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第3期61-66,共6页
文摘
由于边界扫描结构的复杂与费用的关系,在现代电子电路中广泛使用的静态随机存取存储器还很少包含边界扫描结构。本文提出了一种能完全实现SRAM簇互连测试的方法,该方法能检测SRAM簇控制线、数据线和地址线的板级互连故障,且测试长度较短。
关键词
边界扫描
sram
簇
板级互连
静态随机存取存储器
测试
Keywords
boundary scan
sram cluster
interconnect
testing
分类号
TN304.07 [电子电信—物理电子学]
TP333.8 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
SER-Tvpack:基于软错误率评估的SRAM型FPGA的装箱算法
2
作者
夏静
王天成
吕涛
李华伟
邝继顺
机构
湖南大学信息科学与工程学院
计算机体系结构国家重点实验室(筹)(中国科学院计算技术研究所)
出处
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2014年第8期1764-1772,共9页
基金
国家自然科学基金项目(60773207
60906013)
文摘
为了提高基于SRAM的FPGA(SFPGA)上的容软错误能力,提出了一种基于软错误率(soft error rate,SER)评估的装箱算法SER-Tvpack.通过结合软错误率的两个组成部分错误传播率(error propagation probability,EPP)和节点错误率(node error rate,NER),得到软错误评估标准SER的估算值,并将该值作为可靠性因子加入到代价函数中指导装箱过程,以减少装箱后可编程逻辑块(configuration logic block,CLB)之间互连的软错误率,从而提高设计的可靠性.对20个MCNC基准电路(最大基准电路集)进行实验,结果表明,与基准时序装箱算法T-Vpack及已有的容错装箱算法FTvpack相比较,软故障率分别减少了14.5%和4.11%.而且,与F-Tvpack比较,在仅增加0.04%的面积开销下,减少了2.31%的关键路径的时延,提供了较好的时序性能.
关键词
sram
型FPGA
软错误率
可靠性
装箱
单粒子翻转
Keywords
sram
-based FPGA
soft error rate （SER）
reliability
cluster
ing
single event upset （SEU）
分类号
TP391.72 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
边界扫描SRAM簇板级互连测试研究
李桂祥
刘明云
杨江平
项建涛
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004
1
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职称材料
2
SER-Tvpack:基于软错误率评估的SRAM型FPGA的装箱算法
夏静
王天成
吕涛
李华伟
邝继顺
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2014
0
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