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基于XC7K325T的星载抗SEU系统设计
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作者 刘昌华 蔡纵豪 +3 位作者 龚乐为 吴雅婷 聂际敏 张俊杰 《测控技术》 2025年第10期54-60,共7页
针对SRAM型FPGA芯片XC7K325T的抗单粒子翻转(Single-Event Upset, SEU)加固和在轨重构需求,设计了一种星载抗SEU系统。系统硬件主要由Flash型FPGA A3P1000、XC7K325T、MRAM和3片Flash芯片构成,支持对XC7K325T的配置、刷新和在轨重构功... 针对SRAM型FPGA芯片XC7K325T的抗单粒子翻转(Single-Event Upset, SEU)加固和在轨重构需求,设计了一种星载抗SEU系统。系统硬件主要由Flash型FPGA A3P1000、XC7K325T、MRAM和3片Flash芯片构成,支持对XC7K325T的配置、刷新和在轨重构功能。数据存储采用三模冗余与纠检错编码相结合的容错设计,实现了单芯片任意地址错误屏蔽和单扇区最多4 bit错误纠正;针对配置SRAM,实现了6 s周期的盲刷新策略;重构机制支持断点重传,覆盖5类数据上注异常场景。实验结果表明,该系统可有效修复配置SRAM中的SEU错误,并能在多种异常场景下完成在轨重构。基于该架构的通信机已稳定在轨运行,可为其他SRAM型FPGA系统的抗翻转设计提供参考。 展开更多
关键词 FPGA 单粒子翻转 在轨重构 盲刷新 可靠性
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美国几架航天飞机所发生的SEU研究 被引量:8
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作者 古士芬 臧振群 +1 位作者 师立勤 吴中华 《空间科学学报》 CAS CSCD 北大核心 1998年第3期253-260,共8页
本文对1991年美国发射的5架不同倾角不同高度的低地球轨道航天飞机所遇到的单粒子翻转事件进行了考查和研究.结果证实在极光区和南大西洋异常区仍可能发生大量单粒子事件,大大地影响到航天器的安全,对此文中给出了一些结论和建议.
关键词 航天器异常 航天飞机 单粒子翻转事件 seu
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一种SEU实验数据的处理方法 被引量:6
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作者 黄建国 韩建伟 +6 位作者 林云龙 黄治 路秀琴 张新 符长波 郭继宇 赵葵 《空间科学学报》 CAS CSCD 北大核心 2002年第3期268-274,共7页
对SEU数据—特别是看似不理想,但却包含了丰富的物理信息的所谓“坏数据”—的处理方法进行了分析讨论,并具体针对IDT7164器件的SEU数据进行了处理,从中得到了死层厚度、灵敏体积厚度、能量阈值等进行单粒子翻转预测所需要的关键参数,... 对SEU数据—特别是看似不理想,但却包含了丰富的物理信息的所谓“坏数据”—的处理方法进行了分析讨论,并具体针对IDT7164器件的SEU数据进行了处理,从中得到了死层厚度、灵敏体积厚度、能量阈值等进行单粒子翻转预测所需要的关键参数,并就如何根据国内加速器的实际情况开展有针对性的单粒子效应模拟试验提出了一些初步想法. 展开更多
关键词 单粒子翻转 灵敏体积 seu数据 空间环境效应 数据处理方法 卫星 单粒子效应
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基因循环存储模块的SEU自检 被引量:4
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作者 李丹阳 蔡金燕 +1 位作者 孟亚峰 朱赛 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2016年第4期312-318,共7页
胚胎电子细胞的基因循环存储模块在辐射空间容易受到单粒子翻转(SEU)影响,由于缺乏有效的自检手段,严重制约了胚胎电子阵列在深空等辐射环境中的应用。本文设计了一种新型的具有SEU自修复能力的触发器单元,并结合汉明纠错码,设计了一种... 胚胎电子细胞的基因循环存储模块在辐射空间容易受到单粒子翻转(SEU)影响,由于缺乏有效的自检手段,严重制约了胚胎电子阵列在深空等辐射环境中的应用。本文设计了一种新型的具有SEU自修复能力的触发器单元,并结合汉明纠错码,设计了一种新型的具有SEU自检和自修复能力的基因循环存储模块,可以在维持胚胎电子细胞阵列正常工作的情况下,实时有效的检测并修复1 bit SEU。以2 bit进位加法器为例,通过仿真实验,验证了胚胎电子细胞的SEU自检和自修复能力。 展开更多
关键词 胚胎电子细胞 基因循环存储模块 单粒子翻转(seu) 汉明码 自修复
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基于看门狗的星载软件抗SEL、SEU保护系统设计 被引量:5
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作者 卢东昕 滕丽娟 +1 位作者 洪炳熔 高峰 《哈尔滨工业大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第1期13-19,共7页
一般对星载计算机都要求可靠性高 ,重量轻 ,体积小 ,希望硬件设计尽量少用或不用冗余系统来保证可靠性 .研究尽量少采用硬件冗余而采用看门狗措施来保证星载系统可靠性的方法 .看门狗分为软件看门狗和硬件看门狗 ,分别设在星载机不同位... 一般对星载计算机都要求可靠性高 ,重量轻 ,体积小 ,希望硬件设计尽量少用或不用冗余系统来保证可靠性 .研究尽量少采用硬件冗余而采用看门狗措施来保证星载系统可靠性的方法 .看门狗分为软件看门狗和硬件看门狗 ,分别设在星载机不同位置 .根据故障时间的长短 ,不同看门狗启动不同级别的保护措施 .系统采用先处理软件故障 ,后处理硬件故障 ,保护级别逐步升级策略 .提出了星载计算机五级保护策略和各保护级别的启动条件 ,对各种看门狗进行设计 ,并通过仿真实验证明了该方案的可行性 . 展开更多
关键词 星载计算机系统 软件看门狗 硬件看门狗 SEL seu 保护系统
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民用机载电子硬件的SEU效应FPGA仿真测试研究 被引量:2
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作者 薛茜男 王鹏 +1 位作者 田毅 白杰 《电子器件》 CAS 北大核心 2013年第1期68-72,共5页
针对民用机载电子硬件的现场可编程门阵列(FPGA)芯片高使用频率和长时间运行的特点,以及联邦航空管理局(FAA)等提出的审查条例对单粒子翻转效应(SEU)的防护要求,介绍了民用机载电子硬件的SEU效应评估研究的必要性。并且从民用机载电子... 针对民用机载电子硬件的现场可编程门阵列(FPGA)芯片高使用频率和长时间运行的特点,以及联邦航空管理局(FAA)等提出的审查条例对单粒子翻转效应(SEU)的防护要求,介绍了民用机载电子硬件的SEU效应评估研究的必要性。并且从民用机载电子硬件主流的三模冗余容错电路入手,设计了SEU效应仿真测试电路。将冗余系统与多时钟沿触发相结合,提高了系统的检错能力。对冗余系统进行仿真SEU故障注入,通过与参照单元的比较,可对SEU效应引起的失效的发生进行仿真测试。 展开更多
关键词 民用航空 seu 检错电路 多时钟沿 FPGA
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基于DICE单元的抗SEU加固SRAM设计 被引量:5
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作者 孙永节 刘必慰 《国防科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第4期158-163,共6页
DICE单元是一种有效的SEU加固方法,但是,基于DICE单元的SRAM在读写过程中发生的SEU失效以及其外围电路中发生的失效,仍然是加固SRAM中的薄弱环节。针对这些问题,提出了分离位线结构以解决DICE单元读写过程中的翻转问题,并采用双模冗余... DICE单元是一种有效的SEU加固方法,但是,基于DICE单元的SRAM在读写过程中发生的SEU失效以及其外围电路中发生的失效,仍然是加固SRAM中的薄弱环节。针对这些问题,提出了分离位线结构以解决DICE单元读写过程中的翻转问题,并采用双模冗余的锁存器加固方法解决外围电路的SEU问题。模拟表明本文的方法能够有效弥补传统的基于DICE单元的SRAM的不足。 展开更多
关键词 seu加固 SRAM DICE单元
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CMOS APS用移位寄存器抗SEU加固方法 被引量:1
8
作者 孟丽娅 刘泽东 +1 位作者 胡大江 王庆祥 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第B09期577-581,共5页
电离辐射环境中使用的CMOS有源像素图像传感器(APS)的基于反相器的准静态移位寄存器容易发生单粒子翻转(SEU),而致使CMOS APS不能正常工作。本文对基于反相器的准静态移位寄存器中的单粒子翻转效应进行了分析,其对单粒子瞬态(SET)最敏... 电离辐射环境中使用的CMOS有源像素图像传感器(APS)的基于反相器的准静态移位寄存器容易发生单粒子翻转(SEU),而致使CMOS APS不能正常工作。本文对基于反相器的准静态移位寄存器中的单粒子翻转效应进行了分析,其对单粒子瞬态(SET)最敏感的节点存在于反相器的输入端,反相器的输入阈值电压和输入节点电容决定了其抗SEU的能力。提出了用施密特触发器代替反相器的加固方案,因施密特触发器的电压传输特性存在一滞回区间,所以有更高的翻转阈值,从而可获得更好的抗SEU能力。仿真结果表明,采用施密特触发器的移位寄存器结构较原电路结构的抗SEU能力提高了约10倍。 展开更多
关键词 APS 移位寄存器 seu加固 施密特触发器
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改进DICE结构的D触发器抗SEU设计
9
作者 孙敬 陈振娇 +1 位作者 陶建中 张宇涵 《电子与封装》 2016年第8期19-23,共5页
基于DICE结构主-从型D触发器的抗辐照加固方法的研究,在原有双立互锁存储单元(DICE)结构D触发器的基础上改进电路结构,其主锁存器采用抗静态、动态单粒子翻转(SEU)设计,从锁存器保留原有的DICE结构。主锁存器根据电阻加固与RC滤波的原理... 基于DICE结构主-从型D触发器的抗辐照加固方法的研究,在原有双立互锁存储单元(DICE)结构D触发器的基础上改进电路结构,其主锁存器采用抗静态、动态单粒子翻转(SEU)设计,从锁存器保留原有的DICE结构。主锁存器根据电阻加固与RC滤波的原理,将晶体管作电阻使用,使得电路中存在RC滤波,通过设置晶体管合理的宽长比,使其与晶体管间隔的节点的电平在SEU期间不变化,保持原电平状态,从而使电路具有抗动态SEU的能力。Spectre仿真结果表明,改进的D触发器既具有抗动态SEU能力,又保留了DICE抗静态SEU较好的优点,其抗单粒子翻转效果较好。 展开更多
关键词 单粒子翻转 DICE D触发器 静态seu 动态seu
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PD SOI BTSNMOS器件的三维SEU仿真
10
作者 徐静 陈正才 洪根深 《电子与封装》 2012年第1期28-30,36,共4页
采用silvaco软件对抗辐射PD SOI BTSNMOS器件进行了三维SEU仿真。器件建模采用devedit软件,工艺参考标准0.8μm PD SOI工艺平台。器件基于SIMOX SOI材料,其埋氧层厚度为375nm,顶层硅膜厚度为205nm。三维SEU仿真的入射粒子轨迹垂直于器... 采用silvaco软件对抗辐射PD SOI BTSNMOS器件进行了三维SEU仿真。器件建模采用devedit软件,工艺参考标准0.8μm PD SOI工艺平台。器件基于SIMOX SOI材料,其埋氧层厚度为375nm,顶层硅膜厚度为205nm。三维SEU仿真的入射粒子轨迹垂直于器件表面,主要选取了垂直于沟道方向(DS)和平行于沟道方向(PDS)。对比了不同入射粒子轨迹下器件关断状态下漏端电流随粒子入射时间的变化,确定了器件的敏感区域在漏体PN结处,并且越远离体接触的地方,对SEU效应越敏感。 展开更多
关键词 SOI seu 三维仿真
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适宜模拟SEU的总线级故障注入技术研究
11
作者 周新发 刘群 杨桦 《控制工程(北京)》 2005年第5期68-74,111,共8页
适宜模拟SEU的故障注入技术是针对空间辐射在微电子器件中诱发单粒子翻转事件的,目的在于验证目标机的容错结构的合理性和容错手段的有效性,提高星上电子设备可靠性。本文从总线级故障注入的原理、故障注入系统结构、故障注入属性设... 适宜模拟SEU的故障注入技术是针对空间辐射在微电子器件中诱发单粒子翻转事件的,目的在于验证目标机的容错结构的合理性和容错手段的有效性,提高星上电子设备可靠性。本文从总线级故障注入的原理、故障注入系统结构、故障注入属性设置、故障注入硬件和软件等各个方面进行阐述,采用PCI总线技术、同步总线串行通信技术以及FPGA设计技术实现,并且以目标星载计算机、故障注入系统构建了测试验证环境,通过实践证明该故障注入原理的可实现性和可操作性。基于总线级的故障注入具有非破坏性、安全性、智能可配置和操作简单等特点,对于采用插装存储器的星载计算机系统,具有较高的应用价值。 展开更多
关键词 故障注入 seu FPGA VHDL 总线级
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SEU加固存储单元多节点翻转的准三维数值模拟 被引量:2
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作者 刘琳 赵元富 岳素格 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2010年第5期99-102,共4页
为了深入了解SEU加固存储单元中多节点翻转的内部电荷收集及电压变化机制,采用准三维模拟工具MEDICI,对DIED加固单元进行器件/电路的混合模拟.结果表明,瞬时浮制节点和电荷的横向扩散是多节点翻转的关键原因.还研究其他加固单元多节点... 为了深入了解SEU加固存储单元中多节点翻转的内部电荷收集及电压变化机制,采用准三维模拟工具MEDICI,对DIED加固单元进行器件/电路的混合模拟.结果表明,瞬时浮制节点和电荷的横向扩散是多节点翻转的关键原因.还研究其他加固单元多节点翻转的特点,并给出了避免多节点翻转的方法. 展开更多
关键词 多节点翻转 电荷收集 准三维模拟 seu
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一种SEU硬核检测电路的设计与实现 被引量:1
13
作者 崔鹏 陈利光 +2 位作者 来金梅 周灏 鲍丽春 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2011年第20期252-254,267,共4页
现有的现场可编程门阵列(FPGA)芯片在进行单粒子翻转(SEU)检错时,只能针对FPGA配置单元进行周期性重复擦写而不能连续检错纠错。为此,设计一种能连续检测SEU错误并实时输出检错信息的硬核检测电路。该设计改进传统FPGA芯片的数据帧存储... 现有的现场可编程门阵列(FPGA)芯片在进行单粒子翻转(SEU)检错时,只能针对FPGA配置单元进行周期性重复擦写而不能连续检错纠错。为此,设计一种能连续检测SEU错误并实时输出检错信息的硬核检测电路。该设计改进传统FPGA芯片的数据帧存储结构,能对芯片进行连续回读循环冗余校验(CRC)。在FDP3P7芯片上的流片实现结果表明,该电路能在50 MHz工作频率下连续对芯片进行回读CRC校验,并正确输出SEU帧检错信息。 展开更多
关键词 现场可编程门阵列 单粒子翻转 循环冗余校验 seu检测 片上可编程系统
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SRAM型FPGA的SEU故障注入系统设计 被引量:2
14
作者 邓先坤 肖立伊 李家强 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2014年第3期134-137,共4页
在研究SRAM型FPGA配置存储器物理结构及配置结构的基础上,发现对FPGA配置文件中的帧数据进行0/1翻转可以实现配置存储器的人为翻转,从而来仿真FPGA的SEU效应.基于部分重构技术设计了一种针对SRAM型FPGA的SEU故障注入系统,通过ICAP来实... 在研究SRAM型FPGA配置存储器物理结构及配置结构的基础上,发现对FPGA配置文件中的帧数据进行0/1翻转可以实现配置存储器的人为翻转,从而来仿真FPGA的SEU效应.基于部分重构技术设计了一种针对SRAM型FPGA的SEU故障注入系统,通过ICAP来实现部分重构,不需要额外的硬件开销.故障注入系统在XUP XC2VP30开发板上实现,通过对三个FPGA典型设计进行SEU敏感性分析,验证了所设计系统的有效性,并验证了三模冗余的加固效果. 展开更多
关键词 FPGA seu 故障注入 部分重构 ICAP
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数字太敏SoC的抗SEU加固设计 被引量:1
15
作者 赵昌兵 付方发 肖立伊 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2017年第1期1-5,11,共6页
针对航天应用中数字式太阳敏感器高可靠性的要求,对基于Leon3处理器平台的数字式太阳敏感器SoC在RTL级进行抗SEU加固设计.出于加固后整个系统速度和面积的考虑,本文针对SoC中不同部分采取不同的加固方法,综合使用了三模冗余、EDAC(Error... 针对航天应用中数字式太阳敏感器高可靠性的要求,对基于Leon3处理器平台的数字式太阳敏感器SoC在RTL级进行抗SEU加固设计.出于加固后整个系统速度和面积的考虑,本文针对SoC中不同部分采取不同的加固方法,综合使用了三模冗余、EDAC(Error Detection And Correction)电路、CPU流水线重启和Cache强制不命中等容错方法.使用故障注入的方法测试寄存器文件加固后系统的软错误敏感性,对寄存器加固效果进行评估.并在FPGA上进行原型实现,对比加固前后的速度及开销情况. 展开更多
关键词 数字太敏 SOC seu 故障注入 FPGA
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SEU型惯性除尘器的应用研究 被引量:4
16
作者 楚建华 刘宗明 +1 位作者 刘福田 邓新桂 《山东建材》 2002年第5期27-29,共3页
分析了专利产品SEU型惯性除尘器的除尘机理 ,并详细介绍了其在输煤皮带中的实际应用 ,为中小企业的粉尘治理提供了一种投资少 。
关键词 seu型惯性除尘器 应用 除尘机理 输煤皮带 工业除尘
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SEU的二维数值模拟 被引量:1
17
作者 宋哲 王莉 +1 位作者 陆剑侠 许仲德 《微处理机》 2005年第1期37-39,共3页
本文阐述了单粒子效应原理和损伤机理,对MEDICI软件进行了简要介绍。运用MEDICI软件分别对体硅和SOI(Silicon-On-Insulator)衬底材料进行CMOS SRAM的SEU(Single -Event Upset)模拟实验,得出实验结果,并对实验结果进行分析,证明了SOI材... 本文阐述了单粒子效应原理和损伤机理,对MEDICI软件进行了简要介绍。运用MEDICI软件分别对体硅和SOI(Silicon-On-Insulator)衬底材料进行CMOS SRAM的SEU(Single -Event Upset)模拟实验,得出实验结果,并对实验结果进行分析,证明了SOI材料有良好的抗辐射加固特性,体现出SOI材料的优越性。 展开更多
关键词 seu SOI 抗辐射
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通用总线控制器抗SEU加固设计研究 被引量:2
18
作者 姜爽 刘诗斌 +2 位作者 郭晨光 彭斌 樊旭 《微电子学与计算机》 北大核心 2020年第12期81-86,共6页
随着集成电路制造技术的发展,寄存器和SRAM等存储单元在空间辐射环境中越来越容易受到单粒子翻转(SEU)效应的影响.传统抗SEU加固方法分为工艺加固和设计加固,前者依赖于工艺平台,难度大、周期长,后者仅针对芯片内部特定SEU敏感单元.通... 随着集成电路制造技术的发展,寄存器和SRAM等存储单元在空间辐射环境中越来越容易受到单粒子翻转(SEU)效应的影响.传统抗SEU加固方法分为工艺加固和设计加固,前者依赖于工艺平台,难度大、周期长,后者仅针对芯片内部特定SEU敏感单元.通过提出一种针对通用总线控制器的芯片级抗SEU加固设计方法,采用冗余编码和刷新技术,可以进一步提高芯片的抗SEU能力;通过划分影响域和添加中断源,便于定位芯片中SEU敏感位置,从而有利于片内刷新操作和后续设计优化.实验结果表明,与传统的辐射加固方法相比,新方法具有更高的辐射可靠性和容错能力. 展开更多
关键词 seu 总线控制器 冗余编码 刷新 中断源
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空间DSP信息处理系统存储器SEU加固技术研究 被引量:12
19
作者 贺兴华 肖山竹 +3 位作者 张路 张开锋 陶华敏 卢焕章 《宇航学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第2期472-477,共6页
当前以高性能DSP为核心的信息处理系统被广泛应用于空间飞行器电子系统中。DSP系统为实现大数据量信息处理,通常需要扩展其外部存储器。而存储器件在空间应用中容易发生单粒子翻转(SEU:SingleEventUpset),使得存储器件中数据发生改变,... 当前以高性能DSP为核心的信息处理系统被广泛应用于空间飞行器电子系统中。DSP系统为实现大数据量信息处理,通常需要扩展其外部存储器。而存储器件在空间应用中容易发生单粒子翻转(SEU:SingleEventUpset),使得存储器件中数据发生改变,从而导致系统计算结果错误,甚至可能导致系统功能失效。在介绍信息处理系统存储器件SEU机理的基础上,针对DSP信息处理系统存储器的结构特点,提出了一种基于"反熔丝型PROM+TMR加固设计FLASH+EDAC加固设计SRAM"结构的存储器SEU加固设计方案,并进行了原型实现。实验分析表明该设计具有较好的抗SEU性能和较强的实时性,可以为同类型的空间信息处理系统设计提供参考。 展开更多
关键词 空间信息处理系统 数字信号处理器 存储器 单粒子翻转效应 错误检测与纠正
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一种抗SEU存储器电路的FPGA设计 被引量:1
20
作者 卜雷雷 兰家隆 《电子元器件应用》 2010年第9期24-28,共5页
为了改善星载存储器的抗SEU性能,增加星载存储器在空间使用的灵活性,文中基于ACTEL公司的ProAsic系列A3P400FPGA并采用扩展汉明码和TMR两种检错纠错方法相结合的方式,同时使用可变内存配置方案,设计了一种新型的抗SEU存储器电路。与传统... 为了改善星载存储器的抗SEU性能,增加星载存储器在空间使用的灵活性,文中基于ACTEL公司的ProAsic系列A3P400FPGA并采用扩展汉明码和TMR两种检错纠错方法相结合的方式,同时使用可变内存配置方案,设计了一种新型的抗SEU存储器电路。与传统的EDAC芯片相比,本设计不仅可以对出错数据进行修正而且还可以实时的进行回写。 展开更多
关键词 seu 扩展汉明码 TMR ACTEL RAM
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