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IEC/TC47、SC47E及SC47F工作组会议在我国召开
1
《信息技术与标准化》 2016年第7期66-66,共1页
近日,IEC/TC47、SC47E半导体分立器件分技术委员会和SC47F MEMS分技术委员会工作组会议在成都召开。来自中国、日本、韩国、德国等国家的36位专家参加了会议。各工作组召集人介绍了各工作组的工作进展情况,对SC47E、SC47F目前正在制修... 近日,IEC/TC47、SC47E半导体分立器件分技术委员会和SC47F MEMS分技术委员会工作组会议在成都召开。来自中国、日本、韩国、德国等国家的36位专家参加了会议。各工作组召集人介绍了各工作组的工作进展情况,对SC47E、SC47F目前正在制修订的半导体传感器、微波半导体器件、MEMS器件标准展开了讨论,主要包括IEC 62047和IEC 60747系列标准。 展开更多
关键词 工作组会议 IEC/TC47 SC47E sc47f 半导体分立器件 技术委员会 半导体传感器 通用技术要求 传感器特性 石墨烯
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