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Approach for Reliability Evaluation of Cross-Linked Polyethylene Under Combined Thermal and Vibration Stresses 被引量:2
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作者 LIU Jiz ZHANG Mingze +1 位作者 CHEN Xin QI Pengshuai 《Journal of Shanghai Jiaotong university(Science)》 EI 2018年第6期758-763,共6页
Based on Wiener process model, a new approach for reliability evaluation of cross-linked polyethylene(XLPE) is proposed to improve the lifetime evaluation reliability of XLPE under multi-stressing conditions and study... Based on Wiener process model, a new approach for reliability evaluation of cross-linked polyethylene(XLPE) is proposed to improve the lifetime evaluation reliability of XLPE under multi-stressing conditions and study the failure probability distribution. In this paper, two accelerated aging tests are carried out under combined thermal and vibration conditions. The volume resistance degradation data of XLPE samples are tested with a24 h interval under the accelerated stressing conditions at(130℃, 12 m/s^2) and(150℃, 8.5 m/s^2), respectively.Nonlinear degradation data obtained from the experiment are transformed to linear intermediate-variable values using time scaling function, and then linearized degradation data are calculated and evaluated on the basis of linear Wiener process model. Considering traditional Arrhenius equation and inverse power criterion, parameters of the linear Wiener model are estimated according to the maximum likelihood function. The relationship curves on probability density and reliability are given, and the lifetime distribution of XLPE under different stressing conditions is also obtained for evaluating the reliability of XLPE insulation. Finally, the life expectancy of XLPE is 17.9 a under an allowance temperature of 90℃ and an actual vibration acceleration of 0.5 m/s^2. The approach and results in this paper may be used for reliability assessment of high-voltage multiple samples or apparatuses. 展开更多
关键词 accelerated multifactor aging lifetime evaluation reliability distribution degradation test crosslinked polyethylene(XLPE)
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避雷器加速热老化下的可靠性模型参数估计
2
作者 柳姝姌 韩睿 +3 位作者 杨帆 王文浩 朱云逸 钱政 《电测与仪表》 北大核心 2026年第1期178-185,共8页
作为变电站必不可少的电压冲击防护设备,避雷器的可靠性评估对于提高电力系统的稳定性至关重要,而避雷器老化试验耗时较长、失效数据较少等问题使得可靠性评估受到限制。针对试验耗时长的问题,文章设计并开展了阀片的加速老化试验,使用... 作为变电站必不可少的电压冲击防护设备,避雷器的可靠性评估对于提高电力系统的稳定性至关重要,而避雷器老化试验耗时较长、失效数据较少等问题使得可靠性评估受到限制。针对试验耗时长的问题,文章设计并开展了阀片的加速老化试验,使用阿伦尼乌斯模型实现加速条件到正常条件下寿命数据的等效。针对失效数据少的问题,文章基于双参数和三参数威布尔分布模型,分别使用最小二乘法和灰色模型估计法对小样本数据进行可靠性建模,并分析不同参数和不同失效率估计公式对可靠性模型的影响。经验证明三参数威布尔分布模型拟合效果优于双参数,相关系数提高了0.0268,失效率估计公式影响模型参数估计值和拟合效果,参数估计值差距可达1.312,相关系数差距可达0.0183。文章通过调整模型参数和参数估计方法,实现了模型拟合效果的优化,为小样本数据下可靠性模型参数估计的精度提升提供了参考。 展开更多
关键词 氧化锌阀片 加速热老化试验 可靠性评估 威布尔分布模型 灰色模型
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面向MMC应用的大功率IGCT器件加速老化试验拓扑研究
3
作者 朱鸿凡 吴锦鹏 +5 位作者 王鹏 刘佳鹏 陈政宇 余占清 赵彪 曾嵘 《中国电机工程学报》 北大核心 2025年第1期266-276,I0022,共12页
集成门极换流晶闸管(integrated gate commutated thyristor, IGCT)具有阻断电压高、通流能力强等特点,在柔性直流输电等领域具有广阔的应用潜力,但其在高电压、大通流应力下的可靠性问题,成为限制应用的潜在因素,如何针对不同工况开展... 集成门极换流晶闸管(integrated gate commutated thyristor, IGCT)具有阻断电压高、通流能力强等特点,在柔性直流输电等领域具有广阔的应用潜力,但其在高电压、大通流应力下的可靠性问题,成为限制应用的潜在因素,如何针对不同工况开展加速老化等效测试成为开展可靠性研究的关键瓶颈。文中以模块化多电平换流器(modular multilevel converter,MMC)工况为代表,针对IGCT器件可靠性等效测试难题开展研究。首先分析MMC工况下IGCT器件的暂态电气应力和长期电热应力,分别采用TCAD仿真软件与平均值等效计算模型定量获得IGCT器件在实际工况下的应力大小;其次,基于应力分析结果,提出一种三半桥式两级电流应力加速老化试验拓扑,设计并搭建2 500 V/4 000 A/150 Hz参数的IGCT加速老化试验平台;最后,开展约100 h高压、大电流老化运行试验,验证平台具备长时运行的能力,且等效测试应力达到设计要求。所提出的等效拓扑及其构建方法,不仅解决了MMC工况下IGCT器件的加速老化测试问题,对其他交直流变换工况、其他类型功率半导体亦有很好的参考价值。 展开更多
关键词 集成门极换流晶闸管 可靠性 加速老化试验 电热应力 电力电子
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SnBi36Ag0.5Sbx无铅焊料界面结构研究 被引量:1
4
作者 朱文嘉 赵玲彦 +4 位作者 把明芳 段泽平 张欣 吕金梅 张振华 《热加工工艺》 北大核心 2025年第1期114-120,共7页
Bi元素偏析带来的可靠性问题限制了Sn-Bi-Ag合金焊料在电子封装中的运用。微合金化是改善可靠性的有效方法,研究微量元素的添加对Sn-Bi-Ag合金焊料界面层结构和形貌的影响具有重要意义。采用加速老化的方法,研究SnBi36Ag0.5Sbx(x=0.3,0.... Bi元素偏析带来的可靠性问题限制了Sn-Bi-Ag合金焊料在电子封装中的运用。微合金化是改善可靠性的有效方法,研究微量元素的添加对Sn-Bi-Ag合金焊料界面层结构和形貌的影响具有重要意义。采用加速老化的方法,研究SnBi36Ag0.5Sbx(x=0.3,0.7,1.0,1.5,2.0)焊料合金在等温时效、高低温冲击、高低温循环下的界面层结构和形貌。研究表明:随着等温时效时间的延长界面层厚度逐渐增加,在2000 h达到峰值。界面层分为与富Bi相交区域和未相交区域。相交区域的界面层更厚,存在“富Bi层”。由于相交区域相组成复杂,裂纹大多在该区域生成。Sb元素能够抑制界面层裂纹的产生。高低温循环的结果显示,界面层厚度随着Sb元素的升高而升高。 展开更多
关键词 SnBi36Ag0.5 可靠性 界面层 加速老化
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功率循环下GaN器件栅极可靠性研究
5
作者 郭世龙 薛炳君 +1 位作者 严焱津 汪文涛 《现代电子技术》 北大核心 2025年第2期41-45,共5页
氮化镓(GaN)功率器件长期在高功率密度工况下运行,其栅极可靠性一直是关注的重点,栅极的退化会造成器件误导通以及导通损耗增加等问题。为此,设计一个直流功率循环装置,通过功率循环的方式加速器件老化。同时为了评估栅极可靠性,采用与... 氮化镓(GaN)功率器件长期在高功率密度工况下运行,其栅极可靠性一直是关注的重点,栅极的退化会造成器件误导通以及导通损耗增加等问题。为此,设计一个直流功率循环装置,通过功率循环的方式加速器件老化。同时为了评估栅极可靠性,采用与栅极紧密相关的阈值电压(VTH)以及栅极电容(CGS)作为特征参量,设计VTH与CGS监测电路。通过实验研究了器件栅极的温度特性、恢复特性以及在100000次功率循环后的退化情况。结果表明,随着温度的增加,VTH正向漂移,漂移量超过10%,CGS则与温度解耦保持不变。器件在功率循环后VTH存在恢复现象,前10 min恢复超过70%,在3 h后保持稳定,CGS不存在恢复特性。所选两款GaN在100000次功率循环后特征参量发生不同程度的变化,表明器件栅极在功率循环后发生了一定程度的退化。因此,有必要在设计器件及应用时考虑温度及热应力冲击所造成的栅极性能退化,优化设计工艺以提高GaN器件的可靠性。 展开更多
关键词 GAN器件 栅极可靠性 功率循环 阈值电压 栅极电容 加速老化
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大功率半导体激光器加速寿命测试方法 被引量:14
6
作者 荣宝辉 王晓燕 +3 位作者 安振峰 仲琳 陈国鹰 张存善 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第4期360-362,共3页
大功率半导体激光器在高可靠性光学系统的应用中,寿命值预测十分关键。采用808nm波长的无Al大功率半导体单管激光器进行了40、80℃的恒定温度的加速老化试验。应用Arrhenius和对数正态分布的理论对试验结果进行分析,计算出激光器长期退... 大功率半导体激光器在高可靠性光学系统的应用中,寿命值预测十分关键。采用808nm波长的无Al大功率半导体单管激光器进行了40、80℃的恒定温度的加速老化试验。应用Arrhenius和对数正态分布的理论对试验结果进行分析,计算出激光器长期退化的激活能为0.52eV,推导得到激光器室温下工作的平均寿命为15000h。并对试验后的器件进行失效分析,找出失效原因。 展开更多
关键词 半导体激光器 加速老化 可靠性 寿命试验
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IGBT模块寿命预测模型综述 被引量:36
7
作者 方鑫 周雒维 +3 位作者 姚丹 杜雄 孙鹏菊 吴军科 《电源学报》 CSCD 2014年第3期14-21,共8页
在风力发电、柔性交流输电以及电机牵引和航空中等应用的变流器系统失效中,IGBT的失效所占比重较大。因此,相继提出了一些IGBT寿命预测的模型以研究其可靠性。为给系统可靠性设计者以及终端用户提供更多变流器中IGBT模块的寿命信息,文... 在风力发电、柔性交流输电以及电机牵引和航空中等应用的变流器系统失效中,IGBT的失效所占比重较大。因此,相继提出了一些IGBT寿命预测的模型以研究其可靠性。为给系统可靠性设计者以及终端用户提供更多变流器中IGBT模块的寿命信息,文中综述了IGBT寿命预测模型的发展与研究现状。根据建模方法的不同,寿命模型可分为解析模型和物理模型两大类。文中对不同模型的建模依据分别做出了说明,在分析IGBT常见失效机理的基础上,对比分析了各模型在实际应用中的精确度、通用性与局限性。同时,介绍了加速老化试验对寿命预测模型的影响。最后,讨论了IGBT模块寿命预测模型的挑战与发展趋势。 展开更多
关键词 IGBT 可靠性 失效机理 寿命预测模型 加速老化试验
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密封式电磁继电器贮存加速寿命试验方法研究 被引量:12
8
作者 骆燕燕 陆俭国 +1 位作者 李文华 王立忠 《兵工学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第8期997-1001,共5页
随着我国航空与空间技术的迅速发展,对密封式电磁继电器可靠性提出了更高的要求。着重研究了密封式电磁继电器在贮存期间的可靠性问题。在分析了贮存条件下电磁继电器失效机理的基础上,提出了一种快速评价其贮存寿命的试验方法,即在恒... 随着我国航空与空间技术的迅速发展,对密封式电磁继电器可靠性提出了更高的要求。着重研究了密封式电磁继电器在贮存期间的可靠性问题。在分析了贮存条件下电磁继电器失效机理的基础上,提出了一种快速评价其贮存寿命的试验方法,即在恒定应力贮存加速寿命试验方法的设计中,对试验加速应力类型的选择,应力水平及试验样品数量,试验测试参数等进行了详细的分析。论文对密封式电磁继电器贮存加速寿命试验数据进行了处理,并得到了试验样品的贮存寿命预测数值。 展开更多
关键词 航空、航天系统工程 加速寿命试验 电磁继电器 贮存寿命 试验方法 可靠性
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核电厂继电器加速老化分析及管理研究 被引量:2
9
作者 张圣 马沂荩 +3 位作者 江虹 陈世均 黄立军 莫春铌 《核动力工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第2期129-132,共4页
通过对大亚湾和岭澳核电站中压配电盘的中间和出口继电器老化与失效数据进行统计,分析核电厂继电器加速老化的主要因素。继电器加速老化的影响因素为运行环境,主要是湿度、温度和振动冲击;老化机理为氧化腐蚀、机械磨损、电磨损、有机... 通过对大亚湾和岭澳核电站中压配电盘的中间和出口继电器老化与失效数据进行统计,分析核电厂继电器加速老化的主要因素。继电器加速老化的影响因素为运行环境,主要是湿度、温度和振动冲击;老化机理为氧化腐蚀、机械磨损、电磨损、有机气体腐蚀、绝缘老化和电磁干扰。建议对继电器分类管理、替代使用,进行周期检测、更换或维护。 展开更多
关键词 继电器 加速老化 可靠性
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IGBT加速老化实验研究 被引量:5
10
作者 毛娅婕 周雒维 +1 位作者 杜雄 孙鹏菊 《电源技术》 CAS CSCD 北大核心 2014年第12期2383-2385,2420,共4页
绝缘栅双极型晶体管(IGBT)功率模块作为电力电子设备的关键器件被广泛应用,其工作寿命与可靠性将影响到整个装置或系统的正常运行,对于IGBT可靠性研究具有重要意义。IGBT加速老化实验是研究IGBT可靠性问题的重要方法,其在不改变产品故... 绝缘栅双极型晶体管(IGBT)功率模块作为电力电子设备的关键器件被广泛应用,其工作寿命与可靠性将影响到整个装置或系统的正常运行,对于IGBT可靠性研究具有重要意义。IGBT加速老化实验是研究IGBT可靠性问题的重要方法,其在不改变产品故障机制的前提下,提高实验应力,加速产品的故障进程,能有效缩短实验时间,节约成本。分析了IGBT的失效机理,依据IEC标准,设计了IGBT直流功率循环加速老化实验,自行设计搭建了IGBT加速老化实验系统,能够完成器件的老化以及监测老化前后器件参数的变化。研究成果为IGBT模块的可靠性研究以及健康状态评估提供了重要依据。 展开更多
关键词 绝缘栅双极型晶体管 失效机理 加速寿命实验 可靠性
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整机级加速贮存试验加速因子与真实度评估方法 被引量:7
11
作者 苏承毅 牟春晖 +1 位作者 何江 何保成 《战术导弹技术》 北大核心 2015年第1期37-41,共5页
在电子装备整机加速贮存试验中,需要评估试验的加速因子,以及试验效果与真实贮存退化的一致程度。以某型发动机控制器加速寿命试验为例,采用Moura方法将元器件失效率按数量加权求和计算整机加速因子。通过分析比较,说明加速寿命试验中... 在电子装备整机加速贮存试验中,需要评估试验的加速因子,以及试验效果与真实贮存退化的一致程度。以某型发动机控制器加速寿命试验为例,采用Moura方法将元器件失效率按数量加权求和计算整机加速因子。通过分析比较,说明加速寿命试验中整机的失效率不符合目前普遍采用的Arrhenius模型假设。针对整机加速寿命试验,提出以故障率分布差异评估试验真实度。针对整机加速退化试验,提出了基于退化空间矢量的评估方法,以加速贮存退化矢量和自然贮存退化矢量的长度倍数关系作为加速因子,以两个退化矢量的方向偏差评估试验真实度。 展开更多
关键词 贮存可靠性 电子整机 加速贮存试验 加速因子 真实度
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IGBT功率模块加速老化方法综述 被引量:15
12
作者 李亚萍 周雒维 孙鹏菊 《电源学报》 CSCD 2016年第6期122-135,共14页
功率变流器的可靠性评估和寿命预测已经成为非常重要的研究课题。IGBT功率模块的大量使用在诸多领域里越来越广泛,它们的失效主要由热机械疲劳引起,而在正常工作运行时,这种疲劳老化过程很漫长。因此,为全面观察和探究功率模块的疲劳老... 功率变流器的可靠性评估和寿命预测已经成为非常重要的研究课题。IGBT功率模块的大量使用在诸多领域里越来越广泛,它们的失效主要由热机械疲劳引起,而在正常工作运行时,这种疲劳老化过程很漫长。因此,为全面观察和探究功率模块的疲劳老化失效过程,需要设计加速老化试验以缩短研究周期。最普遍的老化试验方法是对器件施加热应力和电应力,对器件不断热冲击实现加速老化进程的目的。文中主要归纳分析了各种加速老化方法的目的和差别,并重点总结了功率循环加速老化方法在不同试验条件、失效方式、试验持续时间、试验电路设计、监测的电气参数和热参数等方面的不同,目的在于提出加速老化方法的一般步骤和需要考虑的问题。最后根据这些问题对加速老化方法的研究进行了展望,为IGBT功率模块乃至整个变流器系统的失效机理分析、可靠性分析、寿命预测、健康状态评估和状态监测的研究奠定了基础。 展开更多
关键词 可靠性 功率循环 热循环 加速老化 先兆参量
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继电器贮存寿命加速试验装置的研究 被引量:4
13
作者 李文华 陆俭国 +1 位作者 刘宏勋 骆燕燕 《继电器》 CSCD 北大核心 2006年第20期70-72,共3页
继电器的应用十分广泛,其寿命和可靠性非常重要。寿命不仅仅是指电寿命和机械寿命,也包括贮存寿命。产品在贮存过程中处于非工作状态,因贮存而失效是长期的缓变过程,采用贮存寿命加速试验可大大缩短试验时间和费用。介绍了研制的继电器... 继电器的应用十分广泛,其寿命和可靠性非常重要。寿命不仅仅是指电寿命和机械寿命,也包括贮存寿命。产品在贮存过程中处于非工作状态,因贮存而失效是长期的缓变过程,采用贮存寿命加速试验可大大缩短试验时间和费用。介绍了研制的继电器贮存寿命加速试验装置,采用寿命加速试验方案能同时对处在不同应力水平下的多台继电器的多对触点进行电参数检测,以完成贮存寿命加速试验。进一步工作集中在进行长时间的试验并积累试验数据,进而预测贮存寿命。对失效试品作表面物理分析以便分析其失效机理,验证寿命加速试验是否正常。 展开更多
关键词 贮存寿命 继电器 寿命加速试验 加速应力 电器可靠性
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电磁继电器有机污染接触寿命评价方法 被引量:5
14
作者 刘建 恩云飞 +1 位作者 黄云 杨丹 《低压电器》 北大核心 2006年第9期8-10,共3页
由有机污染接触引起的失效在电磁继电器的使用和贮存过程中占有很大的比例。从这单一失效机理出发,基于失效物理的方法,通过恒定结合步进应力加速试验,计算出有机污染接触失效机理的激活能。同时提出有机污染接触失效机理决定的电磁继... 由有机污染接触引起的失效在电磁继电器的使用和贮存过程中占有很大的比例。从这单一失效机理出发,基于失效物理的方法,通过恒定结合步进应力加速试验,计算出有机污染接触失效机理的激活能。同时提出有机污染接触失效机理决定的电磁继电器贮存15年的寿命评价方案。 展开更多
关键词 电磁继电器 贮存寿命 加速试验 失效机理 可靠性
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大亚湾核电站中压配电盘中间和出口继电器加速老化原因分析和管理对策 被引量:2
15
作者 张圣 陈世均 +1 位作者 江虹 马沂荩 《核科学与工程》 CSCD 北大核心 2012年第A01期78-82,共5页
针对大亚湾核电站中压配电盘的中间和出口继电器加速老化问题,结合采集的老化数据和国外经验反馈,详细分析了老化机理,总结了继电器加速老化的根本原因,并对目前继电器的老化管理和剩余寿命进行了评估。根据分析结果并结合核电厂的实际... 针对大亚湾核电站中压配电盘的中间和出口继电器加速老化问题,结合采集的老化数据和国外经验反馈,详细分析了老化机理,总结了继电器加速老化的根本原因,并对目前继电器的老化管理和剩余寿命进行了评估。根据分析结果并结合核电厂的实际,提出了继电器老化管理流程和建议,为解决核电厂继电器加速老化的管理问题提供了新思路。 展开更多
关键词 中间和出口继电器 加速老化 老化机理 剩余寿命评估
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密封式电磁继电器加速寿命试验最优方案设计与分析 被引量:4
16
作者 李凌 徐伟 《低压电器》 北大核心 2010年第4期13-16,共4页
以密封式电磁继电器为研究对象,分析其失效机理,应用极大似然理论,以在正常应力水平时密封式电磁继电器中位寿命估计值的渐进方差最小为目标,建立了寿命服从威布尔分布密封式电磁继电器加速寿命试验的最优方案模型;并以密封式电磁继电... 以密封式电磁继电器为研究对象,分析其失效机理,应用极大似然理论,以在正常应力水平时密封式电磁继电器中位寿命估计值的渐进方差最小为目标,建立了寿命服从威布尔分布密封式电磁继电器加速寿命试验的最优方案模型;并以密封式电磁继电器中位寿命方差的均值和标准离差作为试验方案优劣的评价指标,给出试验方案优劣的评价准则。模拟结果表明,提出的最优试验方案是可行的,可以实现受温度和湿度双应力作用下密封式电磁继电器可靠性水平的快速有效评定。 展开更多
关键词 加速寿命试验 密封式电磁继电器 威布尔分布 可靠性
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考虑性能退化的IGBT模块可靠性度量模型 被引量:3
17
作者 李玲玲 孙进 张鑫保 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2018年第12期930-935,共6页
提出了一种考虑性能退化因素的IGBT模块可靠性度量模型,该模型以广义应力-强度干涉模型为基础,同时考虑了应力和强度间的相关性以及使用过程中强度的退化性问题。分析了IGBT模块失效原因和失效类型,通过功率循环加速老化试验获取IGBT模... 提出了一种考虑性能退化因素的IGBT模块可靠性度量模型,该模型以广义应力-强度干涉模型为基础,同时考虑了应力和强度间的相关性以及使用过程中强度的退化性问题。分析了IGBT模块失效原因和失效类型,通过功率循环加速老化试验获取IGBT模块的退化数据,并选用Gamma分布来描述IGBT模块性能退化参数的退化过程;最后,根据广义应力-强度干涉模型求取某种应力环境下对应的IGBT模块可靠度,建立了广义应力与广义强度间的关系,计算得到IGBT模块在某种应力环境下的可靠度区间值。计算结果表明,与现有的可靠性度量模型相比,该方法能够实现IGBT模块可靠性度量,可应用于IGBT模块的器件选型。 展开更多
关键词 IGBT模块 加速老化试验 GAMMA分布 广义应力-强度干涉模型 可靠性度量
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传导冷却高功率半导体激光器单巴器件CW工作模式下的热加速寿命试验 被引量:7
18
作者 聂志强 王明培 +2 位作者 孙玉博 李小宁 吴迪 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第9期1136-1145,共10页
可靠性是高功率半导体激光器(HLD)的一个重要性能。热加速寿命试验是HLD寿命评价和可靠性分析的重要技术。在本文中,我们在高温测试平台上对铟焊料封装的18个中心波长为808 nm的传导冷却型HLD单巴器件在恒定电流60 A条件下进行55,65,80... 可靠性是高功率半导体激光器(HLD)的一个重要性能。热加速寿命试验是HLD寿命评价和可靠性分析的重要技术。在本文中,我们在高温测试平台上对铟焊料封装的18个中心波长为808 nm的传导冷却型HLD单巴器件在恒定电流60 A条件下进行55,65,80℃3组热沉温度下的热加速寿命试验。根据器件输出功率在加速寿命测试期间的降低趋势,得到该批HLD器件的寿命分别为1 022,620,298 h,再根据Arrhenius公式得到该器件的激活能为0.565 41 eV,从而外推得到器件在室温下的寿命为5 762 h。可见55℃下器件寿命加速了5倍,而在65℃下寿命加速了8.5倍,80℃下寿命加速17倍。此外,我们还分析了器件热加速寿命试验后的性能。 展开更多
关键词 高功率半导体激光器 热加速寿命测试 可靠性 退化
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橡胶密封性能多元双方差回归分析方法 被引量:2
19
作者 吴琼 傅惠民 《航空动力学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第8期1855-1859,共5页
建立了橡胶密封材料压缩永久变形的加速老化模型及其多元双方差回归分析方法,给出了密封性能的回归方程及其高置信水平、高可靠度的单侧置信上限曲线,并建立了可靠贮存寿命、贮存可靠度的计算方法.橡胶密封性能的多元双方差回归模型包... 建立了橡胶密封材料压缩永久变形的加速老化模型及其多元双方差回归分析方法,给出了密封性能的回归方程及其高置信水平、高可靠度的单侧置信上限曲线,并建立了可靠贮存寿命、贮存可靠度的计算方法.橡胶密封性能的多元双方差回归模型包含与时间有关的过程自变量和与温度有关的状态自变量,可以将不同温度下的加速老化试验数据作为一个整体进行回归分析,充分利用了不同时刻压缩永久变形间的纵向信息,具有信息量大、精度高且计算简单的特点. 展开更多
关键词 橡胶密封材料 密封性能 加速老化 贮存寿命 贮存可靠度 多元双方差回归分析
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光纤通信系统中光电探测器可靠性理论 被引量:3
20
作者 解金山 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1990年第2期171-181,共11页
本文详细而系统地论述了用于光纤通信系统中光电探测器的可靠性。其主要内容包括:从可靠性考虑器件的设计和制造;器件关键性参数和潜在的失效模式;探测器退化和接收机灵敏度的关系;可靠性基本概念和参数;加速老化试验;寿命试验结果与计算。
关键词 光纤通信系统 光电探测器 可靠性
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