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题名关于光学元件面形评价参数峰谷值(PV)的分析
被引量：7
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作者
高波
李瑞洁
魏小红
陈磊
李强
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机构
成都精密光学工程研究中心
南京理工大学
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出处
《应用光学》
CAS
CSCD
北大核心
2010年第6期1046-1049,共4页
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文摘
光学元件的表面面形或波前质量一般采用数字指标峰谷值PV(表面最高点和最低点之差)来评价。而两点PV在高分辨率干涉仪的测量结果中具有很大不确定性。为了更准确地评价光学元件的表面面形或波前质量,讨论了针对两点PV进行改进后的评价方式PV20,PVr,PVq。通过模拟实验证明其可以描述真实波面,并在实验中证明其可以消除灰尘等杂点对测量结果带来的干扰,以及这几种评价方式对CCD分辩率的变化不敏感,并发现上述3种方式在测量重复性方面也有较好的表现。
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关键词
面形评价
pv20
PVR
PVq
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Keywords
surface evaluating
pv20
PVr
PVq
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分类号
TN247
[电子电信—物理电子学]
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题名手机镜片非球面面形精度PV评价标准分析
被引量：1
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作者
陈科伟
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机构
浙江舜宇光学有限公司
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出处
《光电技术应用》
2014年第4期13-16,共4页
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文摘
光学元件的面形精度是评价其是否符合要求的重要指标,一般使用峰谷PV值作为评价标准,即元件表面最高点与最低点的差值。PV值在用UA3P检测仪进行测量时具有较大的波动性,易受环境影响。为更有效地对手机镜片非球面面形精度做出评价,通过实验检讨了三种评价标准PV、PV、PVq对真实表面的反映情况,结果显示PV、PVq对环境因素相对不敏感,可以在一定程度上排除脏污点等奇异点对测量结果的不良影响;同时证明PV、PVq对检测精度的变化相对不敏感,以及在批次生产中具有较好的评价稳定性。
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关键词
非球面
面形评价标准
PV
pv20
PVq
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Keywords
aspheric surface surface evaluation standard peak-to-valley （PV） pv20 PVq
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分类号
O439
[机械工程—光学工程]
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