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用于智能功率集成电路的PTG-LDMOST
1
作者
成建兵
张波
李肇基
《中国集成电路》
2011年第12期51-54,59,共5页
提出一种用于智能功率集成电路的基于绝缘体上硅(SOI)的部分槽栅横向双扩散MOS晶体管(PTG-LDMOST)。PTG-LDMOST由传统的平面沟道变为垂直沟道,提高了器件击穿电压与导通电阻之间的折衷。垂直沟道将开态电流由器件的表面引向体内降低了...
提出一种用于智能功率集成电路的基于绝缘体上硅(SOI)的部分槽栅横向双扩散MOS晶体管(PTG-LDMOST)。PTG-LDMOST由传统的平面沟道变为垂直沟道,提高了器件击穿电压与导通电阻之间的折衷。垂直沟道将开态电流由器件的表面引向体内降低了导通电阻,而且关态的时候耗尽的JFET区参与耐压,提高单位漂移区长度击穿电压。仿真结果表明:对于相同的10微米漂移区长度,新结构的击穿电压从常规结构的111V增大到192V,增长率为73%。
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关键词
SOI
ptg-ldmost
击穿电压
导通电阻
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职称材料
题名
用于智能功率集成电路的PTG-LDMOST
1
作者
成建兵
张波
李肇基
机构
南京邮电大学微电子系
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
出处
《中国集成电路》
2011年第12期51-54,59,共5页
文摘
提出一种用于智能功率集成电路的基于绝缘体上硅(SOI)的部分槽栅横向双扩散MOS晶体管(PTG-LDMOST)。PTG-LDMOST由传统的平面沟道变为垂直沟道,提高了器件击穿电压与导通电阻之间的折衷。垂直沟道将开态电流由器件的表面引向体内降低了导通电阻,而且关态的时候耗尽的JFET区参与耐压,提高单位漂移区长度击穿电压。仿真结果表明:对于相同的10微米漂移区长度,新结构的击穿电压从常规结构的111V增大到192V,增长率为73%。
关键词
SOI
ptg-ldmost
击穿电压
导通电阻
Keywords
SOI
ptg-ldmost
Breakdown voltage
On-resistance
分类号
TN386 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
用于智能功率集成电路的PTG-LDMOST
成建兵
张波
李肇基
《中国集成电路》
2011
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