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YBCO薄膜的PHREM研究
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作者 刘维 吴源 +1 位作者 陈烈 李林 《电子显微学报》 CAS CSCD 1998年第5期525-526,共2页
ＹＢＣＯ薄膜截面样品的高分辨电子显微镜（ＸＨＲＥＭ）研究已有报导［１，２］。它能给出薄膜与衬底之间的界面结构，薄膜的取向和缺陷等结构特征，为制备高质量的薄膜提供依据。与之相比，ＹＢＣＯ平面样品的高分辨电子显微镜（ＰＨ... ＹＢＣＯ薄膜截面样品的高分辨电子显微镜（ＸＨＲＥＭ）研究已有报导［１，２］。它能给出薄膜与衬底之间的界面结构，薄膜的取向和缺陷等结构特征，为制备高质量的薄膜提供依据。与之相比，ＹＢＣＯ平面样品的高分辨电子显微镜（ＰＨＲＥＭ）研究则能给出较大区域的薄膜... 展开更多
关键词 YBCO 薄膜 phrem 超导体
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