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嵌入式处理器在片调试功能的设计与实现 被引量：9
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作者 黄海林 范东睿 +4 位作者 许彤 朱鹏飞 郑保建 曹非 陈亮 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2006年第7期1005-1010,共6页
以龙芯1号处理器为研究对象,探讨了嵌入式处理器中在片调试功能的设计实现方法.通过扩充IEEEP1149.1协议的JTAG测试访问端口(TAP),并在处理器内部增加控制模块,实现了软件调试断点、调试中断、硬件断点以及单步执行等多种在片调试功能.... 以龙芯1号处理器为研究对象,探讨了嵌入式处理器中在片调试功能的设计实现方法.通过扩充IEEEP1149.1协议的JTAG测试访问端口(TAP),并在处理器内部增加控制模块,实现了软件调试断点、调试中断、硬件断点以及单步执行等多种在片调试功能.调试主机只需要通过一根JTAG调试电缆就可以访问目标处理器内部寄存器等各种资源,并控制目标处理器的运行过程,实现了处理器的在片调试功能,大大地方便了软件开发与系统调试. 展开更多
关键词 在片调试 IEEE p1149.1 JTAG 龙芯1号处理器
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