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Preparation of a halogen-free P/N/Si flame retardant monomer with reactive siloxy groups and its application in cotton fabrics 被引量:3
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作者 Peihua Zhao Kuankuan Xiong +1 位作者 Wentao Wang Yaqing Liu 《Chinese Journal of Chemical Engineering》 SCIE EI CAS CSCD 2017年第9期1322-1328,共7页
A novel halogen-free phosphorus–nitrogen–silicon flame retardant monomer with reactive siloxy groups,N-(diphenylphosphino)-1,1-diphenyl-N-(3-(triethoxysilyl)propyl) phosphinamine(DPTA) has been synthesized and was a... A novel halogen-free phosphorus–nitrogen–silicon flame retardant monomer with reactive siloxy groups,N-(diphenylphosphino)-1,1-diphenyl-N-(3-(triethoxysilyl)propyl) phosphinamine(DPTA) has been synthesized and was applied to the fire-resistant finishing of cotton fabrics. The molecular structure of DPTA has been well characterized by elemental analysis, FTIR,1H NMR, and ^(31)P NMR spectroscopies. The chemically-grafted cotton fabrics, which were treated with 25 wt% DPTA, were obtained and confirmed by attenuated total reflectance Fourier infrared spectroscopy(ATR-FTIR). The flame retardancy and thermal property of the treated samples were investigated by limited oxygen index(LOI), vertical flammability test(VFT), thermogravimetric analysis(TGA) and microscale combustion calorimeter(MCC). It is noted that in vertical flammability test, the treated samples extinguished immediately upon removing the ignition source, whereas the untreated one was completely burned out. Furthermore, TGA and MCC tests revealed that the treated samples produced a high char formation and a low heated release during combustion. The surface morphology of the untreated and treated samples and the char residues after LOI tests were observed by scanning electron microscopy(SEM). Therefore, all the results showed that the treated cotton fabrics with 25 wt% DPTA apparently improved the fireresistant and thermal performances. 展开更多
关键词 p/n/si flame retardant Synthesis Cotton fabrics Flame retardancy
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生物基改性纳米P-N-Si协效阻燃聚氨酯泡沫的制备与研究 被引量:1
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作者 蔡军 陈鑫宇 +4 位作者 谷晓昱 孙军 李洪飞 张胜 范瑞兰 《塑料科技》 北大核心 2025年第1期61-67,共7页
硬质聚氨酯泡沫(PU)是一种主链含有大量氨基甲酸酯基(—NHCOO—)重复结构单元的有机高分子材料,遇火极易被点燃。为改善其燃烧性能,研究以m-SiO_(2)为硅源,植酸(PA)为酸源,4-氨基吡啶(4-AP)为氮源,同时选用过渡金属离子Zn^(2+)为催化成... 硬质聚氨酯泡沫(PU)是一种主链含有大量氨基甲酸酯基(—NHCOO—)重复结构单元的有机高分子材料,遇火极易被点燃。为改善其燃烧性能,研究以m-SiO_(2)为硅源,植酸(PA)为酸源,4-氨基吡啶(4-AP)为氮源,同时选用过渡金属离子Zn^(2+)为催化成炭剂,采用逐层改性的方式制备生物基改性P-N-Si系阻燃剂m-SKAPA-Zn。按照质量分数5%、10%、15%的比例添加到PU中,制备阻燃PU复合材料。结果表明:随着m-SKAPA-Zn添加量的增加,阻燃性能整体呈上升趋势,添加质量分数15%m-SKAPA-Zn的PU材料,极限氧指数(LOI)提高至22.6%,UL-94测试可达V-1级,烟密度等级降低37.5%。m-SKAPA-Zn表现出较好的阻燃性和抑烟效果。 展开更多
关键词 硬质聚氨酯泡沫 介孔纳米二氧化硅(m-siO_(2)) 植酸(pA) p-n-si阻燃剂
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TiO_2/n-Si/p-Si及n-PS/p-PS/Si的光伏特性 被引量:4
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作者 向梅 贾振红 涂楚辙 《半导体光电》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第2期218-220,共3页
在抛光的p型单晶硅上通过扩散工艺制备pn结,采用此种硅片利用阳极腐蚀法制备多孔硅(PS)。用磁控溅射镀膜机在有pn结的单晶硅表面镀上一层TiO2纳米结构薄膜,并用表面光电压谱(SPS)研究了n-PS/p-PS/Si和TiO2/n-Si/p-Si的表面光伏特性... 在抛光的p型单晶硅上通过扩散工艺制备pn结,采用此种硅片利用阳极腐蚀法制备多孔硅(PS)。用磁控溅射镀膜机在有pn结的单晶硅表面镀上一层TiO2纳米结构薄膜,并用表面光电压谱(SPS)研究了n-PS/p-PS/Si和TiO2/n-Si/p-Si的表面光伏特性。结果表明TiO2/n-Si/p-Si和n-PS/p-PS/Si的光伏效应比n-Si/p-Si在不同程度上有所提高。在300~600℃热处理温度范围内TiO2/n-Si/p-Si的光伏效应随温度的升高而增强,600~800℃范围内随温度的升高而降低。 展开更多
关键词 n-pS/ppS/si TiO2/n-si/psi nsi/psi 光伏效应
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n-Si/p-CuI异质结的制备及其光电特性研究 被引量:1
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作者 熊超 朱锡芳 +5 位作者 陈磊 陆兴中 袁洪春 肖进 丁丽华 徐安成 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2013年第5期787-790,803,共5页
采用成本低廉的连续离子层沉积法通过在n型Si衬底上沉积γ相的多晶结构的CuI薄膜而制备了CuI/n-Si异质结。并通过测试其光照下的I-V、C-V特性对其光电特性、载流子输运特性及导电机理进行了研究。研究表明CuI/n-Si异质结存在良好的整流... 采用成本低廉的连续离子层沉积法通过在n型Si衬底上沉积γ相的多晶结构的CuI薄膜而制备了CuI/n-Si异质结。并通过测试其光照下的I-V、C-V特性对其光电特性、载流子输运特性及导电机理进行了研究。研究表明CuI/n-Si异质结存在良好的整流特性,由于在CuI/nSi异质结界面处的导带补偿与价带补偿相差较大,在正向电压、无光照下,导电机理为空间电荷限制电流导电,此时空穴电流主导;在光照下,异质结表现出良好的光电响应,因此可以广泛应用在光电探测和太阳电池等领域。 展开更多
关键词 p-CuI/n-si异质结 I-V特性 C-V特性 内建电势 界面态
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Heteroepitaxial Growth and Heterojunction Characteristics of Voids-Free n-3C-SiC on p-Si(100) 被引量:2
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作者 孙国胜 孙艳玲 +6 位作者 王雷 赵万顺 罗木昌 张永兴 曾一平 李晋闽 林兰英 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第6期567-573,共7页
Highly oriented voids-free 3C-SiC heteroepitaxial layers are grown onφ50mm Si (100) substrates by low pressure chemical vapor deposition (LPCVD).The initial stage of carbonization and the surface morphology of carbon... Highly oriented voids-free 3C-SiC heteroepitaxial layers are grown onφ50mm Si (100) substrates by low pressure chemical vapor deposition (LPCVD).The initial stage of carbonization and the surface morphology of carbonization layers of Si (100) are studied using reflection high energy electron diffraction (RHEED) and scanning electron microscopy (SEM).It is shown that the optimized carbonization temperature for the growth of voids-free 3C-SiC on Si (100) substrates is 1100℃.The electrical properties of SiC layers are characterized using Van der Pauw method.The I-V,C-V,and the temperature dependence of I-V characteristics in n-3C-SiC/p-Si heterojunctions with AuGeNi and Al electrical pads are investigated.It is shown that the maximum reverse breakdown voltage of the n-3C-SiC/p-Si heterojunction diodes reaches to 220V at room temperature.These results indicate that the SiC/Si heterojunction diode can be used to fabricate the wide bandgap emitter SiC/Si heterojunction bipolar transistors (HBT's). 展开更多
关键词 LpCVD voids-free n-3C-siC/p-si(100) heterojunction characteristics
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(p)nc-Si∶H/(n)c-Si异质结变容二极管
6
作者 韦文生 王天民 +2 位作者 张春熹 李国华 卢励吾 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第4期745-750,共6页
采用等离子体增强化学气相沉积技术和电子束蒸发技术制备了一种新型的线性缓变异质结变容二极管———Au/Cr合金(电极)/multi-layer(p)nc-Si∶H/(n)c-Si/(电极)Au/Ge合金结构.I V,C V,C f以及DLTS的测试结果表明:其电容变化系数远大于... 采用等离子体增强化学气相沉积技术和电子束蒸发技术制备了一种新型的线性缓变异质结变容二极管———Au/Cr合金(电极)/multi-layer(p)nc-Si∶H/(n)c-Si/(电极)Au/Ge合金结构.I V,C V,C f以及DLTS的测试结果表明:其电容变化系数远大于单晶硅线性缓变异质结的电容变化系数,正向导电机制符合隧穿辅助辐射复合模型,这是nc-Si∶H层中nc-Si晶粒的量子效应所致;反向电流主要由异质结中空间电荷区的产生电流决定,且反向漏电流小,反向击穿电压高,表现出较好的整流特性. 展开更多
关键词 (p)nc-si H薄膜 (p)nc si H/(n)c si异质结 变容二极管
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p-CuSCN/n-Si异质结的光电特性研究
7
作者 熊超 朱锡芳 +3 位作者 陈磊 袁洪春 潘雪涛 周祥才 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2013年第6期464-468,共5页
采用成本廉价的连续离子层沉积法在n型Si衬底上沉积β相的六方晶体结构的CuSCN薄膜制备了p-CuSCN/n-Si异质结。并通过测试其光照下的I-V和C-V特性对其光电特性以及载流子输运特性与导电机理进行了研究。研究表明,CuSCN/n-Si异质结存在... 采用成本廉价的连续离子层沉积法在n型Si衬底上沉积β相的六方晶体结构的CuSCN薄膜制备了p-CuSCN/n-Si异质结。并通过测试其光照下的I-V和C-V特性对其光电特性以及载流子输运特性与导电机理进行了研究。研究表明,CuSCN/n-Si异质结存在良好的整流特性;由于在p-CuSCN/n-Si异质结界面处的导带补偿与价带补偿相差较大的缘故,在正向电压,无光照下,导电机理为空间电荷限制电流导电,此时空穴电流主导;在光照下,异质结表现出良好的光电响应,因此可以广泛应用在光电探测和太阳电池等领域。 展开更多
关键词 p-CuSCn n-si异质结 I-V特性 C-V特性 内建电势 界面态
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新型P-N-Si协效型阻燃剂的合成及其在PA66中的应用
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作者 陈佳 刘继延 刘学清 《江汉大学学报(自然科学版)》 2017年第4期293-297,共5页
通过甲基丙酸基次膦酸铝(Al(MPP))和γ-氨基丙基三乙氧基硅烷(KH550)反应制备得到一种新型P-N-Si协效型阻燃剂(Al(MPP)-KH550)。采用FTIR、XRF、TGA等技术表征了其产物结构及热降解行为。作为阻燃剂应用于PA66时,质量分数为20 wt%的添... 通过甲基丙酸基次膦酸铝(Al(MPP))和γ-氨基丙基三乙氧基硅烷(KH550)反应制备得到一种新型P-N-Si协效型阻燃剂(Al(MPP)-KH550)。采用FTIR、XRF、TGA等技术表征了其产物结构及热降解行为。作为阻燃剂应用于PA66时,质量分数为20 wt%的添加量可使PA66的极限氧指数(LOI)由19.3%提高到29.6%,复合材料的垂直燃烧测试达到UL94 V-0级别;此外,添加Al(MPP)-KH550可有效抑制PA66的热释放速率,促进致密炭层的形成。 展开更多
关键词 p-n-si协效 阻燃剂 合成 pA66
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cBN/SiN-p异质结的电学性质研究
9
作者 陈光华 邓金祥 +3 位作者 宋雪梅 李茂登 于春娜 冯贞健 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2002年第4期483-486,共4页
用射频溅射系统成功制备出 c BN/ Si N-p异质结 ,并系统研究了其电学性质。掺硫 (S)的 n型 c-BN薄膜用 1 3 .5 6MHz射频溅射系统沉积在 P型 Si(1 0 0 ) (8~ 1 5 Ω·cm)衬底上 ,靶材为 h-BN靶 (纯度达 99.99% )。溅射气体为氩气和... 用射频溅射系统成功制备出 c BN/ Si N-p异质结 ,并系统研究了其电学性质。掺硫 (S)的 n型 c-BN薄膜用 1 3 .5 6MHz射频溅射系统沉积在 P型 Si(1 0 0 ) (8~ 1 5 Ω·cm)衬底上 ,靶材为 h-BN靶 (纯度达 99.99% )。溅射气体为氩气和氮气混合而成 ,固态硫 (S)通过加热蒸发混入工作气体 ,改变硫的加热温度可改变硫的掺杂剂量。为了测量异质结的电学性质 ,用真空蒸镀法在异质结表面蒸镀了 1 .5 mm× 2 .0 mm的铝电极。实验结果表明 ,c BN/ Si N-p异质结的 I-V曲线具有明显的整流特性 ,其正向导电特性的拟合结果表明异质结的电流输运符合安德森理论 ,c BN/ Si N-p异质结的 C-V曲线也和理想异质结的 C-V特性非常接近。得到的 c BN/ Si N-p异质结的自建势为 4.71 V,c-BN薄膜层中的施主浓度为 6.5 0× 1 0 1 4/ cm3。 展开更多
关键词 立方氮化硼/硅n-p异质结 伏-安特性 电容-电压特性
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SnO_2薄膜与n-SnO_2/p-Si异质结光电特性的研究
10
作者 刘咏梅 赵灵智 +1 位作者 姜如青 邢瑞林 《华南师范大学学报(自然科学版)》 CAS 北大核心 2014年第5期45-48,共4页
基于密度泛函理论的第一性原理平面波超软赝势方法,建立SnO2超晶胞模型并进行几何结构优化,对其能带结构进行了模拟计算.结果显示,导带底和价带顶位于G点处,表明SnO2是一种直接带隙半导体.同时,采用脉冲激光沉积法分别在蓝宝石衬底和Si... 基于密度泛函理论的第一性原理平面波超软赝势方法,建立SnO2超晶胞模型并进行几何结构优化,对其能带结构进行了模拟计算.结果显示,导带底和价带顶位于G点处,表明SnO2是一种直接带隙半导体.同时,采用脉冲激光沉积法分别在蓝宝石衬底和Si衬底上制备出SnO2薄膜及n-SnO2/p-Si异质结.扫描电镜结果表明,SnO2薄膜晶粒均匀.霍尔测试结果表明,SnO2薄膜载流子浓度高达1.39×1 020 cm-3.吸收谱测试表明,SnO2薄膜光学带隙为3.73 eV.n-SnO2/p-Si异质结的I-V曲线显示出其良好的整流特性. 展开更多
关键词 第一性原理 SnO2 薄膜 脉冲激光沉积法 n-SnO2/p-si异质结 光电性质
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高阻NTD-FZ-Si-P^+n结电子辐照缺陷能级N_2气氛的退火特性
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作者 董友梅 戴培英 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 1999年第1期105-110,共6页
报导了高阻(81~110Ω·cm)NTDFZSiP+n结中电子辐照缺陷态的退火特性。在N2气氛保护下进行等时、等温退火,测量了它们的DLTS谱和相应的少数载流子寿命,并对结果进行了分析讨论。
关键词 电子辐照 退火 少数载流子寿命 缺陷 p-n
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ZnO纳米管阵列/p-Si异质结构的低温控制合成及其光电性能 被引量:3
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作者 徐玉睿 田永涛 +5 位作者 王文闯 贺川 陈文丽 赵晓峰 王新昌 李新建 《郑州大学学报(理学版)》 CAS 北大核心 2012年第2期56-61,共6页
通过选择性腐蚀ZnO纳米棒,在p型Si衬底上低温合成了ZnO纳米管阵列,构成ZnO纳米管阵列/p-Si异质结构(n-ZnONT/p-Si).ZnO纳米管阵列光致发光谱显示,在378 nm处出现了很强的紫外发射峰,而在500 nm左右有一个较宽的绿色发光峰,表明ZnO纳米... 通过选择性腐蚀ZnO纳米棒,在p型Si衬底上低温合成了ZnO纳米管阵列,构成ZnO纳米管阵列/p-Si异质结构(n-ZnONT/p-Si).ZnO纳米管阵列光致发光谱显示,在378 nm处出现了很强的紫外发射峰,而在500 nm左右有一个较宽的绿色发光峰,表明ZnO纳米管具有较好的结晶性.电流-电压曲线显示,n-ZnONT/p-Si异质结构在光暗两种条件下都表现出了较好的整流特性.在紫外光照射下,反向偏压区电流出现了较大的变化,反映出n-ZnONT/p-Si异质结构有较强的紫外光响应,有望成为潜在的紫外光探测器件. 展开更多
关键词 ZnO纳米管阵列 n-ZnOnT/p-si异质结构 光致发光 电流-电压曲线
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μc-Si∶Hp-i-n薄膜太阳能电池中i层的设计分析
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作者 林鸿生 《电子器件》 CAS 1997年第4期1-5,共5页
通过应用Scharfeter-Gummel解法数值求解Poisson方程,对热平衡μc-Si∶Hp-i-n薄膜太阳能电池进行计算机数值模拟。结果表明,光吸收体i层中N型或P型掺杂都会在i层中造成低场区而不利于光生载流... 通过应用Scharfeter-Gummel解法数值求解Poisson方程,对热平衡μc-Si∶Hp-i-n薄膜太阳能电池进行计算机数值模拟。结果表明,光吸收体i层中N型或P型掺杂都会在i层中造成低场区而不利于光生载流子传输,指出μc-Si∶Hp-i-n太阳能电池制造中采用补偿μc-Si∶H薄膜充当吸收体i层能提高长波(>800nm)载流子收集效率。 展开更多
关键词 薄膜太阳能电池 载流子收集效率 太阳能电池
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p-Si/n-Ga_(2)O_(3)异质结制备与特性研究 被引量:2
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作者 陈沛然 焦腾 +6 位作者 陈威 党新明 刁肇悌 李政达 韩宇 于含 董鑫 《人工晶体学报》 北大核心 2024年第1期73-81,共9页
本实验采用金属有机化学气相沉积(MOCVD)工艺,在p(111)型Si衬底上制备了p-Si/n-Ga_(2)O_(3)结构的PN结。通过X射线衍射仪、原子力显微镜等对样品进行了晶体结构、表面形貌、表面粗糙度等的表征分析;通过磁控溅射与蒸镀方法在样品上生长T... 本实验采用金属有机化学气相沉积(MOCVD)工艺,在p(111)型Si衬底上制备了p-Si/n-Ga_(2)O_(3)结构的PN结。通过X射线衍射仪、原子力显微镜等对样品进行了晶体结构、表面形貌、表面粗糙度等的表征分析;通过磁控溅射与蒸镀方法在样品上生长Ti/Au电极并进行I-V特性曲线、开启电压、开关电流比、反向饱和电流、理想因子、零偏压下的势垒高度等结特性测试,研究了掺杂浓度与薄膜厚度对PN结特性的影响,并对其原因进行了分析;通过二步生长法和缓冲层温度优化实验,减少了Si衬底与β-Ga_(2)O_(3)之间的晶格失配与热失配带来的影响,对薄膜与器件特性进行了优化。最终获得了表面粗糙度最低可达到4.21 nm的高质量n型β-Ga_(2)O_(3)薄膜,以及具有较低理想因子(42.1)的PN结。 展开更多
关键词 β-Ga_(2)O_(3)薄膜 金属有机化学气相沉积 p-si/n-Ga_(2)O_(3) pn 晶体质量 电学特性
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PLD法生长n-Zn_(1-x)Co_xO/p-Si异质结的电学性能研究
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作者 王东生 江国顺 《光谱实验室》 CAS CSCD 2007年第5期768-772,共5页
用高功率脉冲激光轰击Zn1-xCoxO,得到锌、钴和氧的原子、分子和团簇等混合体,并在p型单晶Si表面反应生成n型Zn1-xCoxO。X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)研究表明,这层材料是结构致密均匀、呈c轴高度择优取向的薄膜,与p型Si材料形成n-... 用高功率脉冲激光轰击Zn1-xCoxO,得到锌、钴和氧的原子、分子和团簇等混合体,并在p型单晶Si表面反应生成n型Zn1-xCoxO。X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)研究表明,这层材料是结构致密均匀、呈c轴高度择优取向的薄膜,与p型Si材料形成n-Zn1-xCoxO/p-Si异质结。在Zn1-xCoxO中加入H,生成了Co—H—Co聚合体,异质结的势垒高度随着Co含量的增加而增加,同时深能级的Co—d轨道捕获作为浅施主的间隙H提供的电子,造成的体系n型半导体层的载流子浓度降低,电阻率提高,使得n-Zn1-xCoxO/p-Si异质结在6.5V时漏电流降致6×10-3mA,反向击穿电压超过20V,电学性能得到显著改进。 展开更多
关键词 n-ZnxCo1-xO/p-si 激光脉冲沉积(pLD) 电流-电压曲线
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N/P比对铁锂/硅碳体系全电池性能的影响
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作者 郭旺中 于宝军 陈超 《电源技术》 北大核心 2025年第4期715-719,共5页
硅负极因有着极高的比容量而受到广泛关注,在负极中少量添加即可显著提升负极比容量,但是其巨大的体积膨胀会制约其循环寿命。在全电池中,可以通过改变N/P比来调节负极利用率,控制硅负极的嵌锂深度,从而改变电池比能量和循环性能。制作... 硅负极因有着极高的比容量而受到广泛关注,在负极中少量添加即可显著提升负极比容量,但是其巨大的体积膨胀会制约其循环寿命。在全电池中,可以通过改变N/P比来调节负极利用率,控制硅负极的嵌锂深度,从而改变电池比能量和循环性能。制作了1.09、1.06和1.03三种N/P比的聚合物软包电池,测试结果表明随着N/P比的降低,负极中硅总量减少,电池质量减轻,使电池的首次效率和比能量升高,但是在长循环测试时,硅负极嵌脱锂深度进行,体积膨胀加剧,最终导致循环寿命缩短。因此,在磷酸铁锂体系中引入硅负极,并设计合适的N/P比,有望以牺牲循环寿命为代价提升铁锂体系比能量至200 Wh/kg。 展开更多
关键词 硅碳 n/p 磷酸铁锂 能量密度 循环寿命
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n-In_(0.35)Ga_(0.65)N/p-Si异质结的制备及其电学性能研究
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作者 王婷 赵红莉 +5 位作者 郭世伟 姚娟 李爽 符跃春 沈晓明 何欢 《人工晶体学报》 CAS 北大核心 2021年第3期484-490,共7页
采用双光路双靶材脉冲激光沉积(PLD)系统在p-Si衬底上外延生长InGaN薄膜,研究了InGaN薄膜的显微组织结构和n-InGaN/p-Si异质结的电学性能。研究表明,InGaN薄膜为单晶结构,沿[0001]方向择优生长,薄膜表面光滑致密,In的原子含量为35%。霍... 采用双光路双靶材脉冲激光沉积(PLD)系统在p-Si衬底上外延生长InGaN薄膜,研究了InGaN薄膜的显微组织结构和n-InGaN/p-Si异质结的电学性能。研究表明,InGaN薄膜为单晶结构,沿[0001]方向择优生长,薄膜表面光滑致密,In的原子含量为35%。霍尔(Hall)效应测试表明In 0.35 Ga 0.65 N薄膜呈n型半导体特性,具有高的载流子浓度和迁移率及低的电阻率。I-V曲线分析表明In_(0.35)Ga_(0.65) N/p-Si异质结具有良好的整流特性,在±4 V时的整流比为25,开路电压为1.32 V。In_(0.35)Ga_(0.65) N/p-Si异质结中存在热辅助载流子隧穿和复合隧穿两种电流传输机制。经拟合,得到异质结的反向饱和电流为1.05×10^(-8) A,势垒高度为0.86 eV,理想因子为6.87。 展开更多
关键词 脉冲激光沉积 n-In_(0.35)Ga_(0.65)n/p-si异质结 InGAn薄膜 整流特性 半导体
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Improved performance of Ge n^+/p diode by combining laser annealing and epitaxial Si passivation
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作者 王尘 许怡红 +1 位作者 李成 林海军 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2018年第1期598-601,共4页
A method to improve Ge n+/p junction diode performance by excimer laser annealing (ELA) and epitaxial Si passi- vation under a low ion implantation dose is demonstrated. The epitaxial Si passivation layer can unpin... A method to improve Ge n+/p junction diode performance by excimer laser annealing (ELA) and epitaxial Si passi- vation under a low ion implantation dose is demonstrated. The epitaxial Si passivation layer can unpin the Fermi level of the contact of Al/n-Ge to some extent and reduce the contact resistance. In addition, the fabricated Ge n :/p junction diode by ELA plus epitaxial Si passivation exhibits a decreased reverse current density and an increased forward current density, resulting in a rectification ratio of about 6.5 x 10^6 beyond two orders magnitude larger than that by ELA alone. The reduced specific contact resistivity of metal on n-doped germanium and well-behaved germanium n+/p diode arc beneficial for the performance improvement of Ge n-MOSFETs and other opto-electronic devices. 展开更多
关键词 epitaxial si passivation excimer laser annealing Ge n+/p junction
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Numerical Analysis on the Effect of n-Si on Cu(In, Ga)Se2 Based Thin-Films for High-Performance Solar Cells by 1D-SCAPS
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作者 Rasika N. Mohottige Micheal Farndale +1 位作者 Gary S. Coombs Shahnoza Saburhhojayeva 《Open Journal of Applied Sciences》 2024年第5期1315-1329,共15页
We report the performances of a chalcopyrite Cu(In, Ga)Se<sub>2 </sub>CIGS-based thin-film solar cell with a newly employed high conductive n-Si layer. The data analysis was performed with the help of the ... We report the performances of a chalcopyrite Cu(In, Ga)Se<sub>2 </sub>CIGS-based thin-film solar cell with a newly employed high conductive n-Si layer. The data analysis was performed with the help of the 1D-Solar Cell Capacitance Simulator (1D-SCAPS) software program. The new device structure is based on the CIGS layer as the absorber layer, n-Si as the high conductive layer, i-In<sub>2</sub>S<sub>3</sub>, and i-ZnO as the buffer and window layers, respectively. The optimum CIGS bandgap was determined first and used to simulate and analyze the cell performance throughout the experiment. This analysis revealed that the absorber layer’s optimum bandgap value has to be 1.4 eV to achieve maximum efficiency of 22.57%. Subsequently, output solar cell parameters were analyzed as a function of CIGS layer thickness, defect density, and the operating temperature with an optimized n-Si layer. The newly modeled device has a p-CIGS/n-Si/In<sub>2</sub>S<sub>3</sub>/Al-ZnO structure. The main objective was to improve the overall cell performance while optimizing the thickness of absorber layers, defect density, bandgap, and operating temperature with the newly employed optimized n-Si layer. The increase of absorber layer thickness from 0.2 - 2 µm showed an upward trend in the cell’s performance, while the increase of defect density and operating temperature showed a downward trend in solar cell performance. This study illustrates that the proposed cell structure shows higher cell performances and can be fabricated on the lab-scale and industrial levels. 展开更多
关键词 n-si p-CIGS 1D-SCApS Thin-Films In2S3
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Modelling of the Quantum Transport in Strained Si/SiGe/Si Superlattices Based P-i-n Infrared Photodetectors for 1.3 - 1.55 μm Optical Communication
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作者 Noureddine Sfina Naima Yahyaoui +1 位作者 Moncef Said Jean-Louis Lazzari 《Modeling and Numerical Simulation of Material Science》 2014年第1期37-52,共16页
In this paper, a p-i-n heterojunction based on strain-compensated Si/Si1-xGex/Si multiple quantum wells on relaxed Si1-yGey is proposed for photodetection applications. The Si1-yGey/Si/Si1-xGex/Si/Si1-yGey stack consi... In this paper, a p-i-n heterojunction based on strain-compensated Si/Si1-xGex/Si multiple quantum wells on relaxed Si1-yGey is proposed for photodetection applications. The Si1-yGey/Si/Si1-xGex/Si/Si1-yGey stack consists in a W-like potential profile strain-compensated in the two low absorption windows of silica fibers infrared (IR) photodetectors. These computations have been used for the study of p-i-n infrared photodetectors operating at room temperature (RT) in the range 1.3 - 1.55 μm. The electron transport in the Si/Si1-xGex/Si multi-quantum wells-based p-i-n structure was analyzed and numerically simulated taking into account tunneling process and thermally activated transfer through the barriers mainly. These processes were modeled with a system of Schrodinger and kinetic equations self-consistently resolved with the Poisson equation. Temperature dependence of zero-bias resistance area product (RoA) and bias-dependent dynamic resistance of the diode have been analyzed in details to investigate the contribution of dark current mechanisms which reduce the electrical performances of the diode. 展开更多
关键词 STRAInED siGE/si Quantum WELLS Band Structure Device Engineering p-I-n Infrared photodetectors
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