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IEEE1149.7标准两线星型扫描格式研究 被引量:5
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作者 杨轲 颜学龙 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2015年第10期147-150,共4页
针对目前现代测试系统集成度越来越高,IEEE 1149.7标准提出了两线星型扫描拓扑的测试方法以满足需要较少的引脚来实现边界扫描的现状.以IEEE 1149.7标准为依据,在深入研究该标准的基础上,利用Quartus II仿真开发平台设计了基于该标准的... 针对目前现代测试系统集成度越来越高,IEEE 1149.7标准提出了两线星型扫描拓扑的测试方法以满足需要较少的引脚来实现边界扫描的现状.以IEEE 1149.7标准为依据,在深入研究该标准的基础上,利用Quartus II仿真开发平台设计了基于该标准的两线星型扫描控制器,并进行了仿真验证.结果表明测试控制器能够产生符合标准要求的Mscan扫描格式及Oscan扫描格式两线星型扫描测试信号. 展开更多
关键词 IEEE 1149.7标准 两线星型扫描 MSCAN oscan
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聚乙烯薄膜开口性差的原因分析及预检测研究
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作者 张祖平 周雪云 +3 位作者 李建 艾书伦 艾照全 王彩霞 《应用化工》 CAS CSCD 北大核心 2020年第S01期250-252,255,共4页
聚乙烯吹膜时,为防薄膜开口性不好,常加入开口剂和滑爽剂,但市场上现有的薄膜开口性能很差.在调查原因时,生产者和应用者均发现薄膜在刚生产出来时的开口性能尚可,随后开口性能变差,其可能原因是高温长时间堆压造成.从市场上收集的数种... 聚乙烯吹膜时,为防薄膜开口性不好,常加入开口剂和滑爽剂,但市场上现有的薄膜开口性能很差.在调查原因时,生产者和应用者均发现薄膜在刚生产出来时的开口性能尚可,随后开口性能变差,其可能原因是高温长时间堆压造成.从市场上收集的数种不同开口性能的聚乙烯膜通过扫描电镜进行观察分析.结果显示膜开口性能的好坏与其在扫描电镜图上观察到的形貌特征有明显相关性.这为刚生产的塑料薄膜在长期高温堆压存放后的开口性能好坏提供一种预检测方法. 展开更多
关键词 聚乙烯薄膜 开口滑爽剂 开口不清 扫描电镜 开口性能预测定
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