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基于FPGA的OCTA NOR Flash存储芯片高效测试方法 被引量:4
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作者 沈欣 陈良权 +1 位作者 高敏 林媛 《微电子学与计算机》 北大核心 2019年第10期65-67,72,共4页
针对OCTA NOR Flash的测试占用接口多,传统测试方法耗时较长的问题,提出了一种基于I/O口共用的OCTA NOR Flash高效测试系统及方法,以FPGA作为控制器,将测试指令传输给多颗Flash芯片,FPGA接收Flash芯片传回的数据后经过处理,可显示到相... 针对OCTA NOR Flash的测试占用接口多,传统测试方法耗时较长的问题,提出了一种基于I/O口共用的OCTA NOR Flash高效测试系统及方法,以FPGA作为控制器,将测试指令传输给多颗Flash芯片,FPGA接收Flash芯片传回的数据后经过处理,可显示到相应的显示装置上.实际验证了系统的可行性.实际验证的结果表明,在测试过程中,数据传输稳定,无误码. 展开更多
关键词 octa nor flash 高效测试 FPGA
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