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应用同步辐射白光形貌术研究Nd:SGG晶体的缺陷 被引量：1
1
作者 丁嘉瑄 徐家跃 +3 位作者 肖敬忠 田玉莲 朱佩平 袁清习 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第7期481-484,共4页
应用同步辐射X射线形貌术对坩埚下降法生长的Nd:SGG晶体的缺陷进行了研究。观察到该晶体中存在较为明显的镶嵌结构晶界缺陷和位错缺陷,并分析了上述缺陷的形成原因。对提高Nd:SGG晶体质量、改进生长工艺具有一定的参考价值。
关键词 nd:sgg 激光晶体 同步辐射白光形貌术 晶体缺陷
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