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题名扫描探针显微镜在材料表征的应用
被引量：2
- 1
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作者
褚宏祥
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机构
曲阜师范大学物理工程学院
淄博师范高等专科学校科研处
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出处
《曲阜师范大学学报（自然科学版）》
CAS
2010年第2期80-84,共5页
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文摘
作为一种广泛应用的表面表征工具,扫描探针显微镜(SPM)不仅可以表征三维形貌,还能定量地研究表面的粗糙度、孔径大小和分布及颗粒尺寸,在许多学科均可发挥作用.综述了国外最新的几种扫描探针显微表征技术,包括扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)和近场扫描光学显微镜(SNOM)等方法,以纳米材料为主要研究对象,展示了这几种技术在表征纳米材料的结构和性能方面的应用.
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关键词
材料表征
SPM
STM
AFM
nosm
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Keywords
material characterization
SPM
STM
AFM
nosm
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分类号
O434.14
[机械工程—光学工程]
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题名纳米级光纤探针的拉制与镀膜
被引量：1
- 2
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作者
叶昶
叶虎年
吴巍
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机构
华中理工大学机械科学与工程学院
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出处
《华中理工大学学报》
CSCD
北大核心
2000年第1期33-34,共2页
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文摘
光学显微镜希望能够得到更高的分辨率 ,作为高分辨率探测系统中的关键部分——纳米级光纤探针的研制则显得尤为重要 .介绍一种利用激光器加热 ,通过重物在光纤一端拉制并进行镀膜的方法 .采用该方法可得到尖端曲率半径小于 4 0
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关键词
光纤探针
拉制
镀膜
纳米级
光学显微镜
nosm
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Keywords
near field scanning optical microscopy
optical fiber probe
pulling
plating film
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分类号
TH742
[机械工程—光学工程]
TN253
[电子电信—物理电子学]
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