期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
基于YOLOv5的印刷电路板表面缺陷检测 被引量：2
1
作者 范泽鹏 张乐平 杨迎新 《安徽科技学院学报》 2025年第1期77-84,共8页
针对印刷电路板表面缺陷检测效果不理想,本文提出一种改进的YOLOv5检测模型,采用浅层特征图,并针对数据集中印刷电路板表面缺陷的像素大小进行重聚类锚框;使用NGWD损失函数替代CIoU定位损失函数,加入Biformer注意力机制。在保证模型轻... 针对印刷电路板表面缺陷检测效果不理想,本文提出一种改进的YOLOv5检测模型,采用浅层特征图,并针对数据集中印刷电路板表面缺陷的像素大小进行重聚类锚框;使用NGWD损失函数替代CIoU定位损失函数,加入Biformer注意力机制。在保证模型轻量化的同时,达到了0.953的平均检测精度。改进算法能够有效提高印刷电路板表面缺陷检测能力。 展开更多
关键词 缺陷检测 YOLOv5 尺度检测层变换 ngwd Biformer
在线阅读 下载PDF
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
上一页 1 下一页 到第 页
使用帮助 返回顶部