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纳米MoS_2制备及MoS_2/Al的I-V性能研究 被引量:2
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作者 马兴科 郭新江 《科学技术与工程》 北大核心 2013年第28期8467-8471,共5页
用前驱体分解法制备纳米MoS2微粒;并且以铝片为基底,制备了MoS2/Al薄膜,对MoS2/Al薄膜的I-V性能进行了研究。结果表明:以(NH4)6Mo7O24·4H2O和(NH4)2S为原料,在60℃氨水溶液中合成了具有金属光泽的斜方晶系(NH4)2MoS4。(NH4)2MoS4... 用前驱体分解法制备纳米MoS2微粒;并且以铝片为基底,制备了MoS2/Al薄膜,对MoS2/Al薄膜的I-V性能进行了研究。结果表明:以(NH4)6Mo7O24·4H2O和(NH4)2S为原料,在60℃氨水溶液中合成了具有金属光泽的斜方晶系(NH4)2MoS4。(NH4)2MoS4在80℃水中分解4 h,制备得到粒径约100 nm^200 nm的纳米MoS2微粒,团聚严重。以热浸镀法制备的MoS2/Al涂层薄膜经过30 min、40 min、60 min退火处理的样品的I-V曲线均具有良好的半导体性能。 展开更多
关键词 纳米moS2 前驱体分解法 moS2 Al薄膜 I-V性能
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添加Mo,Ce的NiMgAl水滑石基催化剂对CH_4-CO_2重整反应的影响 被引量:2
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作者 杜亚丽 成强强 +2 位作者 李晓建 李晓东 黄伟 《太原理工大学学报》 CAS 北大核心 2018年第1期55-60,共6页
基于传统共沉淀法制备了NiMgAl,NiMgAl-Mo和NiMgAl-MoCe类水滑石前驱体。将3种前驱体焙烧后得到的复合氧化物催化剂用于CH_4-CO_2重整反应体系中,考察了这3种水滑石基催化剂对反应气CH_4,CO_2转化率的影响。借助XRD,BET等对催化剂物化... 基于传统共沉淀法制备了NiMgAl,NiMgAl-Mo和NiMgAl-MoCe类水滑石前驱体。将3种前驱体焙烧后得到的复合氧化物催化剂用于CH_4-CO_2重整反应体系中,考察了这3种水滑石基催化剂对反应气CH_4,CO_2转化率的影响。借助XRD,BET等对催化剂物化性能进行表征,通过程序升温还原(H_2-TPR)过程对各催化剂的还原性能进行检测。结果表明:以类水滑石化合物为前驱体制得的NiMgAl,NiMgAl-Mo和NiMgAl-MoCe等3种催化剂均具有介孔材料性质,NiMgAl基础上助剂Mo,Ce的适量添加会降低其比表面积,影响其氧化物的还原温度;650~1 000℃范围内,NiMgAl的催化能力相对较差,CH_4,CO_2的转化率均相对最低;添加Mo的NiMgAl-Mo催化剂能提高CH_4及CO_2转化率;而同时添加Mo,Ce的NiMgAl-MoCe催化剂能显著提升CH_4的转化率,但对CO_2的转化却有一定抑制作用。 展开更多
关键词 mo CE NiMgAl 水滑石 CH4-CO2重整 NI基催化剂 前驱体
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Mo硫化物/Ti复合薄膜的制备及其环境摩擦磨损性能研究
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作者 彭仕敏 杨友志 +2 位作者 郑晓华 顾斌 涂江平 《摩擦学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第6期509-514,共6页
采用高温硫化处理磁控溅射Mo/Ti金属前驱体薄膜制备Mo硫化物/Ti复合薄膜,采用X射线衍射仪、能谱仪和扫描电子显微镜对复合薄膜的组织结构、化学成分和表面形貌进行分析,采用涂层附着力自动划痕仪和可控气氛球-盘式摩擦磨损试验仪分别测... 采用高温硫化处理磁控溅射Mo/Ti金属前驱体薄膜制备Mo硫化物/Ti复合薄膜,采用X射线衍射仪、能谱仪和扫描电子显微镜对复合薄膜的组织结构、化学成分和表面形貌进行分析,采用涂层附着力自动划痕仪和可控气氛球-盘式摩擦磨损试验仪分别测试薄膜与基体的结合力以及摩擦系数,并用扫描电子显微镜观察薄膜的磨损表面形貌,分析其磨损机制.结果表明:硫化温度在450℃以上时能够生成较多Mo硫化物,最佳硫化工艺为450℃×15 h;提高硫化温度或延长硫化时间均使薄膜的结合力下降;磁控溅射Mo/Ti前驱体复合薄膜经450℃×15 h硫化处理后,薄膜中生成复杂的Mo硫化物,形成Mo硫化物/Ti复合薄膜;与纯Mo薄膜硫化后相比,Mo硫化物/Ti复合薄膜具有更高的界面结合力和更优异的摩擦磨损性能. 展开更多
关键词 mo/Ti前驱体 硫化 mo硫化物/Ti复合薄膜 摩擦磨损性能
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Review : Controllable Synthesis of Two-Dimensional (2D) MoS2 by Chemical Vapor Deposition Process
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作者 Wei Li Yanglong Hou 《Journal of Harbin Institute of Technology(New Series)》 EI CAS 2018年第5期1-23,共23页
Atomically thin MoS_2 has draw n tremendous attention due to its great potential in a range of electronic devices such as photodetectors,field effect transistors( FET),and sensors. In the past few years,numerous metho... Atomically thin MoS_2 has draw n tremendous attention due to its great potential in a range of electronic devices such as photodetectors,field effect transistors( FET),and sensors. In the past few years,numerous methods including mechanical cleavage,liquid exfoliation,chemical vapor deposition( CVD)have been devoted to synthesizing tw o dimensional atomically thin MoS_2. Among these methods,CVD is the most promising method for preparing large-size and highly crystalline MoS_2 monolayers,exhibiting relatively good optical and electrical properties. Nevertheless,there are so many experiment parameters in CVD process that w e should take into account,w hich makes it still a challenge for us to grow large-scale,single-crystalline MoS_2 monolayer films suitable for practical applications. This review systematically summarized some synthetic strategies of MoS_2 by CVD in recent years. We also discussed in detail how these vital factors such as substrates,carrier gases,M o precursors,influenced the process of grow th,w hich w as expected to help us to controllably synthesize high-quality MoS_2 and other kinds of transition metal dichalcogenides including WS_2,VS_2,WSe_2 and so forth. 展开更多
关键词 CVD moS2 substrate CARRIER gas mo precursor
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前驱粉团聚度对钼粉及后期制品性能的影响 被引量:13
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作者 孙院军 王林 +3 位作者 孙军 唐丽霞 陈强 罗建海 《中国钼业》 2006年第1期31-34,共4页
通过不同团聚度前驱粉钼酸铵在制粉、压型、烧结以及拉拔工艺过程中存在的差异进行了对比分析,结果表明前驱粉的团聚度对钼金属材料制备的各个环节都有影响,且随着团聚度的提高,影响程度提高。同时,对粉体团聚的机理进行了分析,提出了... 通过不同团聚度前驱粉钼酸铵在制粉、压型、烧结以及拉拔工艺过程中存在的差异进行了对比分析,结果表明前驱粉的团聚度对钼金属材料制备的各个环节都有影响,且随着团聚度的提高,影响程度提高。同时,对粉体团聚的机理进行了分析,提出了消除团聚的意见和建议,指出非团聚前驱粉的研究和工业应用对提高钼金属材料性能具有重要意义。 展开更多
关键词 前驱粉 团聚度 钼制品
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