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BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用
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作者 江伴东 牛军伟 汪志成 《单片机与嵌入式系统应用》 2009年第9期12-13,17,共3页
介绍了SoC片上嵌入式微处理器核的一种测试技术——片内测试(BIST)。讲述了片上系统的由来以及两个重要特点。与传统的测试方法比较后,讨论了MemBIST、LogicBIST等常用BIST测试技术的结构和特点,分析了这几种测试方法的优缺点。
关键词 片上系统 片内测试 嵌入式微处理器核 membist LogicBIST
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