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题名一种Flash故障检测算法的设计与验证
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作者
唐俊龙
杨晟熙
邹望辉
陈俊杰
龚源浩
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机构
长沙理工大学物理与电子科学学院
广东华芯微特集成电路有限公司
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出处
《微电子学与计算机》
2024年第12期100-110,共11页
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基金
柔性电子材料基因工程湖南省重点实验室开放基金(202015)。
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文摘
随着芯片制造工艺与逻辑复杂度的提升,对非易失性存储部件的要求越来越高。Flash存储部件由于高稳定性和性价比被广泛使用,且以IP形式集成到芯片内部,导致芯片原型样品测试时间成本和资源成本增加。为降低芯片样品测试时间和提高检测Flash的故障覆盖率,提出了一种新的Flash故障算法,通过对Flash存储器不同故障相同部分的敏化序列进行提取,提取内容替换部分March-like算法内容,再加入少量读写操作,达到符合所有故障敏化序列的要求,减少了算法步骤,使Flash存储单元通过自动测试设备(ATE)检测时,提高测试效率和所能探测的故障种类。实验结果表明,该算法在存储器规格一致的情况下,比较于March-like pFlash和March-like算法,测试效率分别提高39%与52%,故障覆盖种类分别增加2到3种。
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关键词
Flash故障检测
march-like算法
Flash故障敏化序列
ATE检测
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Keywords
Flash fault detection
march-like algorithm
Flash fault-sensitizing sequences
ATE testing
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分类号
TN707
[电子电信—电路与系统]
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题名pFlash故障测试算法
被引量：4
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作者
杨丽婷
王琴
倪昊
赵子鉴
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机构
上海交通大学电子信息与电气工程学院
中芯国际集成电路制造有限公司
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出处
《微电子学与计算机》
北大核心
2019年第9期55-60,共6页
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基金
自然基金(61176037)
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文摘
Flash存储器快速发展得益于便携式设备的进步,而pFlash存储器因编程电压低、功耗小并可以有效抑制带-带隧道效应而被广泛应用.由于可靠性和成本是衡量所有存储器设备性能的两个关键指标,本文提出了一种高效的pFlash故障测试算法来减小存储器的测试成本并保证其故障覆盖率.通过改变写入的测试向量以及写入的方式来准确定位pFlash存储器的故障.测试效率较于March-like算法提高了33%,且故障覆盖率仍然为100%.此算法用于开发pFlash内建自测试电路(BIST,Built-in Self Test)可以适当减少其硬件开销,用于测试机台可以减少测试时间.
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关键词
pFlash故障检测算法
棋盘格式向量
march-like算法
Flash故障模型
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Keywords
pFlash fault detection algorithm
checkerboard format vector
march-like algorithm
flash fault model
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分类号
TN459
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名基于内建自测试电路的NAND Flash测试方法
被引量：3
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作者
解维坤
白月芃
季伟伟
王厚军
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机构
电子科技大学自动化学院
中国电子科技集团公司第五十八研究所
电子科技大学深圳高等研究院
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出处
《电子与封装》
2023年第11期18-24,共7页
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文摘
随着NAND Flash在存储器市场中的占比与日俱增,对NAND Flash的测试需求也越来越大。针对NAND Flash存储器中存在的故障类型进行讨论,并对现有测试算法进行分析,为提高故障覆盖率以及降低测试时间,对现有的March-like测试算法做出改进,改进算法比March-like算法的故障覆盖率提高了16.7%,测试时间减少了30%。完成存储器内建自测试(MBIST)电路设计,设计了FPGA最小系统板并进行板级验证,结果验证了MBIST电路以及改进的测试算法的可行性。
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关键词
NAND
Flash
存储器内建自测试
march-like
Flash故障类型
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Keywords
NAND Flash
memory built-in self-test
march-like
Flash fault type
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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