基于March C-算法的SRAM芯片的SEU失效测试系统 被引量：2

1

作者 王鹏 李振 +1 位作者 邵伟 薛茜男 《电子器件》 CAS 北大核心 2014年第5期803-807,共5页

为实现SRAM芯片的单粒子翻转故障检测,基于LabVIEW和FPGA设计了一套存储器测试系统:故障监测端基于LabVIEW开发了可视化的测试平台,执行数据的采集、存储及结果分析任务,板卡测试端通过FPGA向参考SRAM和待测SRAM注入基于March C-算法的... 为实现SRAM芯片的单粒子翻转故障检测,基于LabVIEW和FPGA设计了一套存储器测试系统:故障监测端基于LabVIEW开发了可视化的测试平台,执行数据的采集、存储及结果分析任务,板卡测试端通过FPGA向参考SRAM和待测SRAM注入基于March C-算法的测试向量,通过NI公司的HSDIO-6548板卡采集2个SRAM的数据,根据其比较结果判定SEU故障是否发生。该系统可以实时监测故障状态及测试进程,并且具有较好的可扩展性。 展开更多

关键词 仿真测试 单粒子翻转 LabVIEW march c-算法 SRAM

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基于March C+算法的RAM内建自测试设计

2

作者 刘兴辉 孙守英 程宇 《辽宁大学学报（自然科学版）》 CAS 2018年第2期125-128,共4页

为解决HSC32K1芯片传统测试的不足,基于March C+算法的内建自测试(Built In Self Test,BIST)方法,并利用perl语言调用Mbist Architect工具自动产生March C+算法,生成时间只需要3.5 s,相比手动编写算法代码几十分钟甚至几小时来说缩短了... 为解决HSC32K1芯片传统测试的不足,基于March C+算法的内建自测试(Built In Self Test,BIST)方法,并利用perl语言调用Mbist Architect工具自动产生March C+算法,生成时间只需要3.5 s,相比手动编写算法代码几十分钟甚至几小时来说缩短了测试时间,提高了测试效率。仿真结果表明,提出的测试方法,可以有效地达到测试效果。该方法可以推广到对其他芯片进行测试,适用性强. 展开更多

关键词 PERL语言 march c+算法 HSc32K1芯片 内建自测试

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基于March C-算法的单片机存储器测试 被引量：4

3

作者 于文考 高成 张栋 《现代电子技术》 2010年第6期19-21,33,共4页

为了保证单片机系统的可靠性,对单片机内嵌存储器的测试显得尤为重要。根据MCS-51系列单片机系统内嵌存储器的结构特点和故障模型,研究了测试算法的选择、数据背景的产生等问题,首次提出将March C-算法用于单片机内嵌存储器的用户级测... 为了保证单片机系统的可靠性,对单片机内嵌存储器的测试显得尤为重要。根据MCS-51系列单片机系统内嵌存储器的结构特点和故障模型,研究了测试算法的选择、数据背景的产生等问题,首次提出将March C-算法用于单片机内嵌存储器的用户级测试程序编写。该测试程序对SAF,TF,AF,CF的故障覆盖率可达到100%,并且能够检测部分NPSF故障,具有较高的故障覆盖率,适合于对用户级MCS-51系列单片机存储器的测试。 展开更多

关键词 单片机 march c-算法 存储器测试 故障覆盖率

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一种优化FPGA内嵌BRAM自检测March C+算法 被引量：3

4

作者 葛云侠 武乾文 +1 位作者 赵益波 陈龙 《国外电子测量技术》 北大核心 2022年第4期1-7,共7页

在现场可编程门阵列内嵌块存储器(BRAM)测试中,传统测试方法存在故障覆盖率不高、测试内容较多、测试成本较高等问题。为了提高故障覆盖率,在March C+算法的基础上,提出一种March CG新算法。该算法通过增加连续写操作和测试算法的数据... 在现场可编程门阵列内嵌块存储器(BRAM)测试中,传统测试方法存在故障覆盖率不高、测试内容较多、测试成本较高等问题。为了提高故障覆盖率,在March C+算法的基础上,提出一种March CG新算法。该算法通过增加连续写操作和测试算法的数据背景提高字内耦合故障、写干扰故障覆盖率。构建高效率存储器内建自测试电路,采用March CG算法实现对单个BRAM和多个BRAM的测试。实验表明,在单个BRAM测试中,相比March C+算法,March CG算法对故障的覆盖率提高了13.6%;在多个BRAM测试中,对BRAM资源的覆盖率达到了100%。 展开更多

关键词 存储器内建自测试 块存储器 march c+ 故障覆盖率

原文传递

铁电存储器的故障模型和March C-1T1C测试

5

作者 魏蓬博 《河南科技》 2020年第28期5-8,共4页

铁电存储器读写时间短、功耗低、可重复擦除性好,因此,在航天航空、军事和公共交通等领域得到了越来越广泛的应用。一个晶体管和一个电容(1T1C)单元结构是常见的铁电存储器存储单元。本文对1T1C铁电存储阵列提出了几种基于电气缺陷的故... 铁电存储器读写时间短、功耗低、可重复擦除性好,因此,在航天航空、军事和公共交通等领域得到了越来越广泛的应用。一个晶体管和一个电容(1T1C)单元结构是常见的铁电存储器存储单元。本文对1T1C铁电存储阵列提出了几种基于电气缺陷的故障模型,包括晶体管常开、常关、开路和桥接故障。与现有的存储器故障相比,发现了两个新的故障,即写入故障(WDF)和动态写入故障(dWDF)。此外,还提出了一种改进的March C-1T1C测试,可以有效覆盖现有的故障和新发现的故障。 展开更多

关键词 铁电存储器 存储故障 march c测试 HSPIcE仿真

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片上网络存储器的BIST电路设计 被引量：1

6

作者 许川佩 陶意 吴玉龙 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2013年第10期105-109,113,共6页

片上网络(Network-on-Chip,NoC)作为解决片上系统存在的问题而提出的一种解决方案,正受到越来越多的关注,测试技术是NoC设计工作的重要组成部分.该设计针对NoC系统中SRAM存储器模块,研究了SRAM的故障模型,建立了片上网络通信架构的功能... 片上网络(Network-on-Chip,NoC)作为解决片上系统存在的问题而提出的一种解决方案,正受到越来越多的关注,测试技术是NoC设计工作的重要组成部分.该设计针对NoC系统中SRAM存储器模块,研究了SRAM的故障模型,建立了片上网络通信架构的功能模型,复用片上网络作为测试存取路径,设计完成了基于March C+算法的BIST电路设计.该方案采用Verilog语言完成设计,并且在基于FPGA的NoC系统平台上实现了对SRAM的测试.实验结果表明,在面积开销增加较小的情况下,该方法具有较高的故障覆盖率. 展开更多

关键词 片上网络 march c+ SRAM BIST

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基于FPGA的SRAM测试电路的设计与实现 被引量：4

7

作者 田勇 孙晓凌 申华 《电子工程师》 2008年第12期57-59,共3页

为了保证独立的SRAM模块或嵌入式SRAM模块功能的完整性与可靠性,必须对SRAM模块进行测试。介绍了一种基于Altera DE2开发板的面向字节的SRAM测试电路的设计与实现。测试算法采用分为字内和字间测试两部分的高故障覆盖率March C-算法;设... 为了保证独立的SRAM模块或嵌入式SRAM模块功能的完整性与可靠性,必须对SRAM模块进行测试。介绍了一种基于Altera DE2开发板的面向字节的SRAM测试电路的设计与实现。测试算法采用分为字内和字间测试两部分的高故障覆盖率March C-算法;设计的测试电路可由标准的JTAG(联合测试工作组)接口进行控制。设计的测试电路可测试独立的SRAM模块或作为BIST(内建自测试)电路测试嵌入式SRAM模块。验证结果表明该SRAM测试系统是非常高效的。 展开更多

关键词 SRAM(静态随机存储器) march c-算法 JTAG BIST

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NoC系统测试软件设计

8

作者 许川佩 孙统雷 万春霆 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2015年第11期21-26,共6页

针对片上网络故障检测的需求,采用复用NoC通讯架构与边界扫描相结合的技术,实现NoC系统故障检测软件的设计.主要以NoC中SRAM、组合电路为测试对象,研究其易发故障的模型,采用易于实现且故障覆盖率高的March C+、G-F算法获得测试矢量,完... 针对片上网络故障检测的需求,采用复用NoC通讯架构与边界扫描相结合的技术,实现NoC系统故障检测软件的设计.主要以NoC中SRAM、组合电路为测试对象,研究其易发故障的模型,采用易于实现且故障覆盖率高的March C+、G-F算法获得测试矢量,完成故障测试.该设计软件具有人机界面友好、操作简便的优点,可通过图形化的方法实现故障定位.在NoC系统平台上进行测试,结果表明在增加较少外围电路的情况下,即可完成对NoC系统中易发故障的检测,实现了预定功能.! 展开更多

关键词 片上网络 SRAM march c+ G-F 数据转换通信模块 测试矢量

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随机存取存储器故障分析及测试方案实现 被引量：5

9

作者 蒋登峰 周娟 《中国计量学院学报》 2010年第3期257-262,共6页

通过随机存取存储器(RAM)物理电路缺陷分析,建立了RAM故障模型.在RAM故障模型的基础上,分析了传统RAM测试算法MARCH-C算法的不足和缺陷,提出了改进的MARCH-C算法.该算法不但适用于面向位的测试,而且适用于面向字节或字的RAM测试.基于该... 通过随机存取存储器(RAM)物理电路缺陷分析,建立了RAM故障模型.在RAM故障模型的基础上,分析了传统RAM测试算法MARCH-C算法的不足和缺陷,提出了改进的MARCH-C算法.该算法不但适用于面向位的测试,而且适用于面向字节或字的RAM测试.基于该算法,构建了用于SOC片内RAM和通用RAM的系统测试方案.实验表明,RAM故障模型和改进的MARCH-C算法的有效性. 展开更多

关键词 随机存取存储器检测 故障模型 故障表现

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基于FPGA测试电路的SRAM自测试研究 被引量：1

10

作者 陈亚坤 《单片机与嵌入式系统应用》 2012年第1期8-11,共4页

SRAM是微机系统中的记忆设备,用来存放程序和数据。因此对SRAM的自测试可以有效地避免存储器工作不正常给系统带来的损害。采用硬件描述语言对FPGA电路进行编程,构造SRAM测试电路。以对各种存储器常见故障模型能够有效检测的March C-算... SRAM是微机系统中的记忆设备,用来存放程序和数据。因此对SRAM的自测试可以有效地避免存储器工作不正常给系统带来的损害。采用硬件描述语言对FPGA电路进行编程,构造SRAM测试电路。以对各种存储器常见故障模型能够有效检测的March C-算法为主要测试算法,对存储器单元进行故障测试,并将有错误的地址单元映射到备用的存储单元,以确保微机系统稳定运行。 展开更多

关键词 SRAM自测试 故障模型 FPGA march c-算法

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带自测功能的DDR2控制器设计

11

作者 肖侃 《电子设计工程》 2013年第18期112-114,共3页

在研究了JEDEC制定的DDR2标准的基础上,基于对DDR2快速测试的目的,设计了一种带自测功能的新型DDR2控制器。该控制器既拥有常见的控制时序、刷新、初始化等功能,又可以在没有外部激励的情况下对DDR2进行测试。整个设计完全遵循JEDEC标准... 在研究了JEDEC制定的DDR2标准的基础上,基于对DDR2快速测试的目的,设计了一种带自测功能的新型DDR2控制器。该控制器既拥有常见的控制时序、刷新、初始化等功能,又可以在没有外部激励的情况下对DDR2进行测试。整个设计完全遵循JEDEC标准,采用自顶向下的设计方法,通过异步FIFO进行跨时钟域的信号通讯,接口部分兼容FPGA的MCB模块,可以实现和MCB的简单替代,最后用verilog语言进行描述并通过仿真验证和FPGA验证,达到了较高的性能和实现了要求的功能。与常见的控制器相比,本设计虽然增加了自测试功能,但综合后的面积只增加10%。 展开更多

关键词 控制器 自测试 数字电路设计 DDR2 march c+

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