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基于MURA编码孔γ相机的编码板参数优化模拟研究
1
作者 林姿 朱志超 +2 位作者 张水军 罗文 李鑫祥 《核电子学与探测技术》 北大核心 2025年第4期511-518,共8页
编码孔成像技术已成为射线探测和定位γ源的重要手段。为获得宽能量范围内MURA编码孔γ相机的编码板参数对成像性能的影响,采用Geant4软件模拟研究了几种能量的放射源照射不同编码板材料、编码阶数、编码板厚度及编码板基本单元像素尺... 编码孔成像技术已成为射线探测和定位γ源的重要手段。为获得宽能量范围内MURA编码孔γ相机的编码板参数对成像性能的影响,采用Geant4软件模拟研究了几种能量的放射源照射不同编码板材料、编码阶数、编码板厚度及编码板基本单元像素尺寸下的相机成像质量,并对重建图像的位置分辨率和信噪比进行了分析。研究表明,要使成像质量最佳,需要系统优化编码板材料、编码阶数、编码板厚度及编码板基本单元像素尺寸。本研究可为宽能量范围的编码孔γ相机的优化设计提供理论依据。 展开更多
关键词 Γ相机 mura 蒙特卡罗模拟 编码板 优化
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基于改进YOLOv8n的液晶屏Mura缺陷检测 被引量：2
2
作者 陈顺龙 廖映华 +1 位作者 林峰 舒成业 《液晶与显示》 北大核心 2025年第3期439-447,共9页
针对液晶屏Mura缺陷检测中因对比度低和尺度差异多样而导致的检测精度不足的问题,从提升模型对小尺度缺陷和微弱缺陷检测性能的角度,提出了一种基于改进YOLOv8n的液晶屏Mura缺陷检测模型YOLO-D3MNet。首先,通过引入ConvNeXtv2模块重构... 针对液晶屏Mura缺陷检测中因对比度低和尺度差异多样而导致的检测精度不足的问题,从提升模型对小尺度缺陷和微弱缺陷检测性能的角度,提出了一种基于改进YOLOv8n的液晶屏Mura缺陷检测模型YOLO-D3MNet。首先,通过引入ConvNeXtv2模块重构模型的主干网络和颈部网络,提高模型在复杂纹理背景下的微弱特征提取能力;其次,针对检测头模块特征信息跨通道交流不足的问题,提出了一种结合通道混洗策略和深度可分离卷积的高效解耦头,促进不同特征通道之间的信息流动,降低模型的算力需求;最后,针对基于预测框和真值框的交并比度量对小尺度缺陷的位置偏差敏感的问题,引入归一化高斯Wasserstein距离损失函数,提供更多的正样本候选框,从而提高模型对Mura缺陷的检测性能。改进后的YOLO-D3MNet模型的准确率、召回率和mAP_(50)分别为92.9%、88.8%和94.8%。相较于基础模型YOLOv8n,YOLO-D3MNet模型的准确率、召回率和mAP_(50)分别提高了3.4%、2.7%和3.6%,同时模型的GFLOPs降低了24.7%。与YOLOv5n等主流目标检测模型相比,本文提出的YOLO-D3MNet模型在液晶屏Mura缺陷检测方面具有更好的性能。 展开更多
关键词 mura缺陷 液晶屏 目标检测 深度学习 微弱特征
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基于小波变换的TFT-LCD屏Mura缺陷检测
3
作者 靳宏 左右祥 陶素连 《科技创新与应用》 2025年第8期58-63,共6页
为实现对TFT-LCD Mura缺陷的自动检测,针对Mura缺陷对比度低及背景亮度不均匀的特点,提出一种基于小波变换的Mura缺陷自动识别算法。首先,通过对CCD相机采集到的Mura缺陷图像进行图像预处理。接着,基于小波变换选择合适的小波函数,进行... 为实现对TFT-LCD Mura缺陷的自动检测,针对Mura缺陷对比度低及背景亮度不均匀的特点,提出一种基于小波变换的Mura缺陷自动识别算法。首先,通过对CCD相机采集到的Mura缺陷图像进行图像预处理。接着,基于小波变换选择合适的小波函数,进行小波变换。然后,对小波变换后的细节图像进行处理分析,得到Mura缺陷的轮廓边缘。最终,根据Mura轮廓进行图像处理即可得到相应的Mura缺陷区域。实验结果表明,该算法在Mura缺陷检测中对100张Mura图像进行检测,准确率达到98%,特别是针对缺陷背景亮度严重不均匀的20张Mura图像,识别率100%,满足AOI设备稳定可靠、精度高、抗干扰能力强等要求。 展开更多
关键词 LCD 小波变换 mura缺陷 缺陷检测 AOI
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可减少Mura的车载双联屏结构设计与研究
4
作者 李晓军 方培森 《自动化应用》 2025年第7期198-200,共3页
车载双联屏常因为拼接强度问题,导致显示屏刚度不够。在汽车行驶过程中,振动、应力等环境会导致Mura问题。基于两块显示屏模组共用同一玻璃盖板、背光支架、补强板、后盖、印刷电路板装配控制卡和安装支架的形式,设计了一种车载双联屏... 车载双联屏常因为拼接强度问题,导致显示屏刚度不够。在汽车行驶过程中,振动、应力等环境会导致Mura问题。基于两块显示屏模组共用同一玻璃盖板、背光支架、补强板、后盖、印刷电路板装配控制卡和安装支架的形式,设计了一种车载双联屏。通过室温硫化硅橡胶柔性连结并吸收装配公差,防止由于尺寸公差造成显示屏模组受力。在背光支架背面设置补强板,以避免显示模组直接受力,并利用背光支架和补强板的刚度抑制因振动和挤压导致的受力不均,以避免出现Mura问题。 展开更多
关键词 车载显示屏 双联屏 mura 结构设计
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液晶显示模组Mura抑制技术研究
5
作者 周苏令 《电子制作》 2025年第18期110-113,共4页
本文从液晶显示模组结构工艺入手,同步介绍了LCD盒内基本结构和LCD液晶显示玻璃制程,重点阐述了液晶显示模组产生Mura的原因,然后针对Mura抑制进行深入的研究以及优劣势分析,比如CellGap管控、LCD液晶量管控、LCD减薄、模组COG工艺管控... 本文从液晶显示模组结构工艺入手,同步介绍了LCD盒内基本结构和LCD液晶显示玻璃制程,重点阐述了液晶显示模组产生Mura的原因,然后针对Mura抑制进行深入的研究以及优劣势分析,比如CellGap管控、LCD液晶量管控、LCD减薄、模组COG工艺管控、模组FPC弯折管控、对比度调整,以及全新的贴合材料和贴合方式。在实践中证明这些技术解决方案可以实现远超工业标准甚至达到没有Mura的表现。 展开更多
关键词 液晶显示模组 mura CellGap DOE 对比度 贴合
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Mura科技与比利时大学合作,探索化学回收的能力
6
作者 钱伯章 《合成材料老化与应用》 2025年第1期95-95,共1页
化学回收公司Mura科技有限公司(伦敦)宣布,它已经与比利时根特大学化学技术实验室签署了一项为期五年的研究合作伙伴关系。Mura说,这两个合作伙伴将建立一个连续流动的中试规模测试设施,该设施将用于一系列研究项目,以评估难以回收的聚... 化学回收公司Mura科技有限公司(伦敦)宣布,它已经与比利时根特大学化学技术实验室签署了一项为期五年的研究合作伙伴关系。Mura说,这两个合作伙伴将建立一个连续流动的中试规模测试设施,该设施将用于一系列研究项目,以评估难以回收的聚合物,包括复杂的复合材料。该公司表示,评估结果将有助于推动未来的技术扩展,并帮助Mura的化学合作伙伴了解循环原料产品的潜力。 展开更多
关键词 mura 根特大学 合作伙伴关系 连续流动 中试规模 实验室 比利时 复合材料
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基于机器视觉的手机屏幕Mura缺陷检测方法研究 被引量：2
7
作者 侯一帆 楼佩煌 +1 位作者 钱晓明 武星 《机械设计与制造工程》 2024年第6期87-90,共4页
通过分析手机屏幕质量检测的重要性以及人工检测的弊端,提出了一种基于机器视觉的手机屏幕Mura缺陷检测方法。首先针对手机屏幕中Mura缺陷对比度低、无明显边界以及背景存在周期性纹理的特点,设计Mura缺陷检测算法,通过图像预处理技术... 通过分析手机屏幕质量检测的重要性以及人工检测的弊端,提出了一种基于机器视觉的手机屏幕Mura缺陷检测方法。首先针对手机屏幕中Mura缺陷对比度低、无明显边界以及背景存在周期性纹理的特点,设计Mura缺陷检测算法,通过图像预处理技术提取感兴趣区域(ROI),设计多尺度多方向的Gabor滤波器组抑制图像重复纹理背景。然后提出基于高斯差分思想的图像增强算法以提高缺陷与背景的对比度,采用局部自适应阈值分割方法对缺陷进行分割,并选取合适的特征参数对Mura缺陷进行量化。试验结果表明,该算法能有效地抑制纹理背景,准确地分割量化缺陷,且算法鲁棒性好,检测准确率≥95%,误检率≤5%,漏检率≤0.5%,检测平均耗时2.3 s,能够满足实际生产中液晶屏缺陷检测的准确度和实时性要求。 展开更多
关键词 机器视觉 mura缺陷 GABOR滤波 纹理背景 缺陷分割
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OLED掩模版Mura缺陷分析与改善 被引量：1
8
作者 束名扬 张玉星 袁卓颖 《电子与封装》 2024年第3期82-86,共5页
Mura缺陷管控作为关键技术指标直接决定着OLED器件的显示画质与良品率。针对OLED掩模版生产过程中发生的Mura缺陷,通过Mura不良分析发现这种缺陷与阵列像素单元邻近辅助图形有关,并在显影工艺后表现出阵列像素单元关键尺寸(CD)不均匀与... Mura缺陷管控作为关键技术指标直接决定着OLED器件的显示画质与良品率。针对OLED掩模版生产过程中发生的Mura缺陷,通过Mura不良分析发现这种缺陷与阵列像素单元邻近辅助图形有关,并在显影工艺后表现出阵列像素单元关键尺寸(CD)不均匀与宏观色差。依据显影工艺分析,基于旋喷式显影模式提出了一种分步显影方案,实验测试分析了显影液流速、旋转速度、纯水流速以及纯水/显影液过渡时间等工艺参数对Mura缺陷的影响。通过优化显影工艺,实现阵列像素单元CD不均匀性优于120 nm,阵列像素单元边缘Mura不良区域由大于3%降低至无视觉可见Mura,结果表明该工艺方案可以显著改善Mura缺陷。 展开更多
关键词 mura OLED 掩模版 显影
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TFT-LCD表面Mura缺陷的AOI检测研究进展
9
作者 陈泽康 沈奕 +2 位作者 翟晨阳 董晨瑶 王双喜 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2024年第11期1463-1476,共14页
液晶显示屏幕的表面缺陷检测是保证TFT-LCD等液晶显示屏质量稳定性的关键。得益于在检测表面缺陷方面高效率、低成本的优势,机器视觉技术目前已经成为TFT-LCD质量检测的主要手段。本文首先概述了液晶屏的发展历程,列举了常见Mura缺陷的... 液晶显示屏幕的表面缺陷检测是保证TFT-LCD等液晶显示屏质量稳定性的关键。得益于在检测表面缺陷方面高效率、低成本的优势,机器视觉技术目前已经成为TFT-LCD质量检测的主要手段。本文首先概述了液晶屏的发展历程,列举了常见Mura缺陷的类型,分别介绍了基于传统图像处理和基于深度学习的Mura缺陷检测方法,概述了图像滤波和图像亮度校正等图像预处理技术的研究动态。本文重点阐述了监督学习、无监督学习和迁移学习等人工智能技术在TFT-LCD表面Mura缺陷检测领域的应用,并对基于机器视觉的TFT-LCD表面Mura缺陷检测的技术发展趋势进行了展望。 展开更多
关键词 TFT-LCD mura缺陷 机器视觉 图像处理 深度学习
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基于自适应局部增强的手机TFT-LCD屏Mura缺陷自动检测 被引量：11
10
作者 廖苗 刘毅志 +3 位作者 欧阳军林 余建勇 肖文辉 彭理 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2018年第6期475-482,共8页
针对手机屏幕图像整体亮度不均以及Mura缺陷对比度低等特点,提出一种基于自适应局部增强的Mura缺陷自动在线检测方法。首先对CCD相机采集的手机屏幕原始图像进行感兴趣区域提取、几何校正、滤波等预处理,获取图像中的屏幕区域,然后将屏... 针对手机屏幕图像整体亮度不均以及Mura缺陷对比度低等特点,提出一种基于自适应局部增强的Mura缺陷自动在线检测方法。首先对CCD相机采集的手机屏幕原始图像进行感兴趣区域提取、几何校正、滤波等预处理,获取图像中的屏幕区域,然后将屏幕区域划分为多个不重叠的像素块,并根据每个像素块的灰度分布特征,采用自适应局部增强算法自动识别并定位图像中的Mura区域,最后考虑到Mura缺陷大小的不确定,提出采用多层级分块的方式对屏幕区域进行检测,提高算法鲁棒性。实验结果表明,相较现有多种屏幕缺陷自动检测算法,本文方法能更准确有效地识别手机屏幕中的Mura缺陷,且覆盖率和误检率分别为91.17%和5.84%。 展开更多
关键词 TFT-LCD屏 mura 图像增强 缺陷检测
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一种TFT-LCD Vertical Block Mura的研究与改善 被引量：26
11
作者 吴洪江 王威 龙春平 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2007年第4期433-439,共7页
在TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)以及其他显示器件产品中,Mura是一种比较常见的不良现象,它可以直接影响到产品的画面品质。文章结合生产工艺的实际情况,采用MM,CD,EPM,SEM,FIB等检测设备,对一种Vertical Block... 在TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)以及其他显示器件产品中,Mura是一种比较常见的不良现象,它可以直接影响到产品的画面品质。文章结合生产工艺的实际情况,采用MM,CD,EPM,SEM,FIB等检测设备,对一种Vertical Block Mura进行了大量的实验测试、数据分析和理论研究工作,特别是对其产生的原因创新性地提出了两种方向上的理论观点。通过加强设备科学管理监控,减小耦合电容效应等一系列改善措施,产品质量得到了很大程度的提升,Vertical Block Mura从改善前的26.1%降到了1.3%,从而使Vertical Block Mura得以改善,很大程度地提高了产品的品质,并为今后相关问题的进一步研究和解决奠定了一定的理论基础。 展开更多
关键词 TFT-LCD mura 抖动 耦合电容 画面品质
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LCD Mura缺陷的B样条曲面拟合背景抑制 被引量：13
12
作者 李坤 李辉 +2 位作者 刘云杰 梁平 卢小鹏 《光电工程》 CAS CSCD 北大核心 2014年第2期33-39,共7页
针对机器视觉检测TFT-LCD Mura缺陷时存在的图像整体亮度不均匀、背景复杂等影响检测准确性的问题,提出一种基于B样条曲面拟合的背景抑制方法。在最小二乘法准则的约束下,采用双三次B样条曲面拟合算法拟合出背景,并添加光顺项调整拟合精... 针对机器视觉检测TFT-LCD Mura缺陷时存在的图像整体亮度不均匀、背景复杂等影响检测准确性的问题,提出一种基于B样条曲面拟合的背景抑制方法。在最小二乘法准则的约束下,采用双三次B样条曲面拟合算法拟合出背景,并添加光顺项调整拟合精度,用原始图像减去拟合背景,从而消除亮度不均匀背景对缺陷分割造成的影响。为提高算法速度,对原始图像进行分块拟合,并将双三次B样条函数分解为一元函数求解,减小了计算量,同时避免了对原函数求解时容易出现的病态解问题。实验结果表明,该算法准确、高效。 展开更多
关键词 mura缺陷 亮度不均匀 B样条 曲面拟合 背景抑制
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基于Chan-Vese模型的TFT-LCD Mura缺陷快速分割算法 被引量：10
13
作者 卢小鹏 李辉 +2 位作者 刘云杰 梁平 李坤 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2014年第1期146-151,共6页
针对传统的Chan-Vese模型(C-V模型)分割背景不均匀的TFT-LCD Mura缺陷速度慢的问题,将水平集函数与符号距离函数的偏差作为能量项引入C-V模型,去掉了符号距离函数重初始化步骤;为了平衡图像的整体亮度不均匀,在传统的C-V模型中引入轮廓... 针对传统的Chan-Vese模型(C-V模型)分割背景不均匀的TFT-LCD Mura缺陷速度慢的问题,将水平集函数与符号距离函数的偏差作为能量项引入C-V模型,去掉了符号距离函数重初始化步骤;为了平衡图像的整体亮度不均匀,在传统的C-V模型中引入轮廓曲线内、外部区域之间的亮度差项,提高了分割准确性。在数值实现上,采用无条件稳定的半隐差分格式,适当加大步长,加速曲线演化过程,相比于有限差分格式和AOS格式,分割速度明显提高。实验结果表明,本文提出的算法能够准确地分割背景不均匀的Mura缺陷图像,并且分割速度快。 展开更多
关键词 Chan—Vese模型 TFT-LCD mura缺陷 水平集 半隐差分格式
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原核表达MurA蛋白并制备其多克隆抗体用于免疫磁珠快速检测单增李斯特菌 被引量：10
14
作者 童吉宇 李志清 +2 位作者 闻一鸣 李雨辰 向军俭 《微生物学通报》 CAS CSCD 北大核心 2014年第6期1234-1242,共9页
【目的】制备MurA多抗,结合免疫磁珠与选择平板进行单增李斯特菌的快速检测,建立单增李斯特菌的免疫磁珠快速检测方法。【方法】构建MurA的原核表达载体,转化大肠杆菌进行优化表达。镍柱纯化表达产物,质谱鉴定重组蛋白,再免疫小鼠,制备... 【目的】制备MurA多抗,结合免疫磁珠与选择平板进行单增李斯特菌的快速检测,建立单增李斯特菌的免疫磁珠快速检测方法。【方法】构建MurA的原核表达载体,转化大肠杆菌进行优化表达。镍柱纯化表达产物,质谱鉴定重组蛋白,再免疫小鼠,制备其多克隆抗体。用所获多抗制备免疫磁珠,建立单增李斯特菌免疫磁珠-选择性培养基检测方法,并对人工污染牛奶样品进行检测。【结果】在大肠杆菌中高效表达了分子量约为72 kD的可溶性融合蛋白,质谱鉴定其为MurA蛋白;免疫小鼠获得的抗血清效价达1:10 000,与伤寒沙门氏菌、副溶血弧菌、大肠杆菌及属内其它病原菌均无交叉;所建立的免疫磁珠-选择性培养基检测法可检出浓度为103 CFU/mL及以上的单增李斯特菌,仅与英诺克李斯特菌存在一定交叉反应;牛奶样品单次仅需9 h增菌就能被检出,较常规增菌时间缩短39 h;检测限为0.4 CFU/mL。【结论】表达并纯化得到高纯度的单增李斯特菌MurA蛋白,制备的鼠源多克隆抗体亲和力高,特异性好;建立了快速检测单增李斯特菌的免疫磁珠联合选择性培养基法,在灵敏度不变的情况下,实现24 h内成功对牛奶样品的检测,较国标法减少42 h以上。 展开更多
关键词 单增李斯特菌 mura 多克隆抗体 免疫磁珠
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基于机器视觉的液晶屏Mura缺陷检测方法 被引量：25
15
作者 钱基德 陈斌 +2 位作者 钱基业 赵恒军 陈刚 《计算机科学》 CSCD 北大核心 2018年第6期296-300,313,共6页
通过分析液晶屏中缺陷检测的必要性和人工检测的不足,研究一种基于机器视觉的液晶屏Mura缺陷在线检测系统。针对液晶屏中的Mura缺陷区域和周围背景对比度低、边缘模糊、形状各异、整体亮度不均等特点,建立模拟人工检测的成像系统。提出... 通过分析液晶屏中缺陷检测的必要性和人工检测的不足,研究一种基于机器视觉的液晶屏Mura缺陷在线检测系统。针对液晶屏中的Mura缺陷区域和周围背景对比度低、边缘模糊、形状各异、整体亮度不均等特点,建立模拟人工检测的成像系统。提出单帧图像背景建模和背景差分方法,该方法能有效解决液晶屏的亮度不均问题,同时增强Mura缺陷的特征信息。然后基于最大稳定极值区域(Maximally Stable Extremal Region,MSER),提出Mura缺陷自适应阈值缺陷分割方法,建立一个全自动缺陷在线检测的视觉系统。实验结果表明,所提检测算法能很好地解决液晶屏亮度不均的问题,准确地对Mura缺陷进行分割定位,算法的鲁棒性好。并且该系统人工干预少,效率高,能实现在线自动检测。 展开更多
关键词 最大稳定极值 背景建模 背景差分 mura缺陷 机器视觉
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MATLAB在TFT-LCD屏显示MURA缺陷检测的应用 被引量：10
16
作者 刘毅 郑学仁 +1 位作者 王亚南 梁志明 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2007年第6期731-736,共6页
提出一种以MATLAB为主要工具的TFT-LCD屏显示缺陷检测方案,该方案根据CMOS工业摄像机采集到的数字图像,结合二维图像拟合技术和以韦伯定律为原理的自动阈值获取技术,使用MATLAB作为数字图像分析工具实现对屏幕缺陷的检测。介绍了该方案... 提出一种以MATLAB为主要工具的TFT-LCD屏显示缺陷检测方案,该方案根据CMOS工业摄像机采集到的数字图像,结合二维图像拟合技术和以韦伯定律为原理的自动阈值获取技术,使用MATLAB作为数字图像分析工具实现对屏幕缺陷的检测。介绍了该方案的硬件组成和检测原理,给出了MATLAB算法流程和部分代码、介绍了GUI检测界面的设计和详细的检测步骤及结果,为TFT-LCD液晶屏显示缺陷的检测提供了一种快速有效的方法。 展开更多
关键词 TFT-LCD mura MATLAB 缺陷检测
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TFT-LCD横向线状未确认Mura分析及改善研究 被引量：13
17
作者 徐伟 彭毅雯 +1 位作者 雷有华 邱海军 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2013年第4期539-546,共8页
研究了产品开发过程中新出现的一种原因未知的横向线状Mura问题。通过分析和改善研究表明,Gate Fan-out区域栅极线金属交替布线设计中不同金属层线电阻差异是导致横向线状未确认Mura发生的主要原因;通过变更栅极线金属层厚度及材料,以... 研究了产品开发过程中新出现的一种原因未知的横向线状Mura问题。通过分析和改善研究表明,Gate Fan-out区域栅极线金属交替布线设计中不同金属层线电阻差异是导致横向线状未确认Mura发生的主要原因;通过变更栅极线金属层厚度及材料,以降低整体电阻和不同金属层线电阻差异可以解决此种不良现象;并通过试验论证此方法的量产可行性。 展开更多
关键词 横向线状mura 扇形区域 栅极线金属层交替布线
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TFT-LCD Mura缺陷机器视觉检测方法 被引量：58
18
作者 毕昕 丁汉 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第12期13-19,共7页
针对液晶显示器(Liquid crystal display,LCD)制程中Mura缺陷检测的重要性和人工检测的弊端,研究TFT-LCD Mura缺陷的机器视觉自动检测方法。基于国际半导体设备与材料组织(Semiconductor Equipment and Materials International,SEMI)... 针对液晶显示器(Liquid crystal display,LCD)制程中Mura缺陷检测的重要性和人工检测的弊端,研究TFT-LCD Mura缺陷的机器视觉自动检测方法。基于国际半导体设备与材料组织(Semiconductor Equipment and Materials International,SEMI)标准中Mura缺陷的测量规范和LCD视觉检测试验平台,针对Mura缺陷边缘模糊、对比度低、图像中存在重复纹理背景和整体的亮度不均匀等特点,分别研究基于实值Gabor小波滤波的纹理背景抑制方法、基于同态变换和独立分量分析的亮度不均匀校正方法、基于主动轮廓模型和水平集方法的缺陷分割以及基于SEMI标准的缺陷量化方法,综合几个方面的研究,建立Mura缺陷自动检测流程。检测试验证明,所提出方法能较好地抑制纹理背景、校正背景亮度不均匀和莫尔条纹,准确的分割缺陷并进行量化评定。该方法适用于Mura缺陷的自动检测,检测方法与人的视觉特性相似,具有较好的鲁棒性。对于50个带有Mura缺陷的LCD样本,有48个样本被成功检测。 展开更多
关键词 mura缺陷 GABOR滤波 独立分量分析 主动轮廓模型 水平集
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未确认Mura分析及改善对策 被引量：9
19
作者 徐伟 彭毅雯 肖光辉 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2011年第5期612-615,共4页
未确认Mura是一种能够影响TFT-LCD画面品质的不良。文章对未确认Mura不良进行了详细的分析,认为扇形区域出现有源层残留是导致未确认Mura不良发生的原因,介绍了一种通过变更曝光工艺条件来解决此种不良的方法,并通过试验论证了此方法的... 未确认Mura是一种能够影响TFT-LCD画面品质的不良。文章对未确认Mura不良进行了详细的分析,认为扇形区域出现有源层残留是导致未确认Mura不良发生的原因,介绍了一种通过变更曝光工艺条件来解决此种不良的方法,并通过试验论证了此方法的量产可行性。 展开更多
关键词 未确认mura 扇形区域 有源层残留 曝光工艺条件
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液晶量对Touch Mura的影响 被引量：5
20
作者 张卓 柳在健 侯延冰 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2008年第5期525-529,共5页
Touch Mura会影响液晶显示器侧视时的视觉效果,因此其检测也很严格。讨论了液晶量对Touch Mura的影响。实验结果表明,拍击位移量与Touch Mura严重程度有直接联系。随着液晶量增加,拍击位移量会变小,同时Touch Mura现象也会减轻直至消失... Touch Mura会影响液晶显示器侧视时的视觉效果,因此其检测也很严格。讨论了液晶量对Touch Mura的影响。实验结果表明,拍击位移量与Touch Mura严重程度有直接联系。随着液晶量增加,拍击位移量会变小,同时Touch Mura现象也会减轻直至消失。另外,不同人拍击或者拍击液晶面板位置为左侧或右侧,对拍击位移量随液晶量的变化趋势没有明显影响。 展开更多
关键词 液晶量 TOUCH mura 拍击位移量
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