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MOVCD生长GaAs/AlGaAs量子阱红外探测器的暗电流特性 被引量:1
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作者 胡小英 刘卫国 陈智利 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2012年第6期809-812,816,共5页
用金属有机物化学气相沉积法(MOCVD)生长了GaAs/AlGaAs量子阱材料,分别制备了300μm×300μm台面,峰值波长8.5μm,外电极压焊点面积80μm×80μm,内电极压焊点面积20μm×20μm的单元测试样品。用变温液氦制冷机测试系统对... 用金属有机物化学气相沉积法(MOCVD)生长了GaAs/AlGaAs量子阱材料,分别制备了300μm×300μm台面,峰值波长8.5μm,外电极压焊点面积80μm×80μm,内电极压焊点面积20μm×20μm的单元测试样品。用变温液氦制冷机测试系统对两个样品进行50~300K的变温测试,分析了器件在不同偏压条件下的暗电流特性。发现该量子阱红外探测器的背景限温度为50K。不同生长次序中GaAs与AlGaAs界面的不对称性,以及掺杂元素的扩散导致了正负偏压下的I/V曲线呈不对成性。探测器电极压焊点面积大小与位置的不同对暗电流有一定的影响。 展开更多
关键词 量子阱红外探测器 movcd 暗电流特性
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MOCVD生长中利用Al双原子层控制和转变GaN的极性 被引量:1
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作者 刘宝林 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2001年第6期433-436,共4页
讨论了采用MOCVD在Al2 O3衬底上生长GaN过程中的极性问题。在氮化衬底上生长低温缓冲层前沉积一Al层来改变外延层的极性 ,并用CICISS来测量这一极性 。
关键词 movcd 氮化镓 原子层控制 半导体材料
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MOCVD材料生长的在位反射谱监测与表面不均衡平整度的模拟计算
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作者 潘群峰 《闽西职业大学学报》 2004年第2期118-120,共3页
介绍了MOCVD在位反射谱监测的原理,利用高斯分布模拟GaN材料生长过程中表面不均衡平整度,计算其对反射谱的影响。
关键词 movcd 反射谱 平整度 反射率
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GaAs/Al_(0.3)Ga_(0.7)As QWIP暗电流特性HRTEM研究 被引量:5
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作者 胡小英 刘卫国 +3 位作者 段存丽 蔡长龙 韩军 刘钧 《红外与激光工程》 EI CSCD 北大核心 2014年第9期3057-3060,共4页
采用金属有机物化学气相沉积法(MOCVD)生长GaAs/Al0.3Ga0.7As量子阱材料,制备300μm×300μm台面,内电极压焊点面积为20μm×20μm,外电极压焊点面积为80μm×80μm的单元样品两种。用变温液氮制冷系统对样品进行77~30... 采用金属有机物化学气相沉积法(MOCVD)生长GaAs/Al0.3Ga0.7As量子阱材料,制备300μm×300μm台面,内电极压焊点面积为20μm×20μm,外电极压焊点面积为80μm×80μm的单元样品两种。用变温液氮制冷系统对样品进行77~300 K暗电流特性测试。结果显示,器件暗电流曲线呈现出正负偏压的不对称性。利用高分辨透射扫描电镜(HRTEM)获得样品纳米尺度横断面高分辨像,分析结果表明:样品横断面处存在不同程度的位错及不均匀性。说明样品内部穿透位错造成相位分离是引起量子阱光电性能变差的根本原因,不同生长次序中AlGaAs与GaAs界面的不对称性与掺杂元素的扩散现象加剧了暗电流曲线的不对称性。 展开更多
关键词 量子阱红外探测器 GAAS/ALGAAS 金属有机物化学气相沉积 暗电流 高分辨透射扫描电镜
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水平式MOCVD系统生长速度均匀性的研究
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作者 刘国军 徐莉 +2 位作者 史全林 王喜祥 张千勇 《长春光学精密机械学院学报》 1993年第1期11-15,共5页
本文讨论了影响生长速度的因素,如主载气流量、金属有机源流量(在一定蒸气压下),衬底放置位置,及掺杂和非掺杂情况等.对实验结果进行了计论,并与其它文献进行了比较.着重阐述了改善侧向均匀性问题.
关键词 movcd 生长速率 均匀性
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MOCVD脉冲生长对InGaN太阳能电池材料的影响 被引量:1
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作者 贾文博 李培咸 +1 位作者 周小伟 杨扬 《电子科技》 2013年第1期10-11,共2页
通过对InGaN三元合金的生长方式做对比,发现在相同条件下,因常规生长过程中反应室In的浓度更高,生长出的InGaN中In组分更高。但是由于预反应的原因晶体质量较差,而脉冲生长由于源的分时输运,大幅减小了预反应的发生,提高了晶体质量。但... 通过对InGaN三元合金的生长方式做对比,发现在相同条件下,因常规生长过程中反应室In的浓度更高,生长出的InGaN中In组分更高。但是由于预反应的原因晶体质量较差,而脉冲生长由于源的分时输运,大幅减小了预反应的发生,提高了晶体质量。但由于生长时反应室In原子浓度变小,In的组分会降低,也会减小In滴的析出。 展开更多
关键词 INGAN 脉冲生长 太阳能电池 MOCVD
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MOCVD法生长富GaSb和富InAs的GaInAsSb合金
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作者 苏宇欢 《电子材料快报》 1998年第7期17-17,共1页
关键词 movcd GASB INAS GaInAsAb 合金
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Influence of substrate temperature on in situ-textured ZnO thin films grown by MOCVD
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作者 Yajuan ZHENG Xiangbin ZENG Xiaohu SUN Diqiu HUANG 《Frontiers of Optoelectronics》 CSCD 2013年第3期270-274,共5页
The influence of substrate temperature on microstructure, electrical and optical properties of in situ- textured zinc oxide (ZnO) films fabricated by metal organic chemical vapor deposition (MOVCD) had been invest... The influence of substrate temperature on microstructure, electrical and optical properties of in situ- textured zinc oxide (ZnO) films fabricated by metal organic chemical vapor deposition (MOVCD) had been investigated. Results indicated that the substrate tempera- ture played a very important role on preparation of ZnO thin film. With the raising of temperature, firstly ZnO crystals were perpendicular to the substrate, then they were grown inclining toward the substrate, finally ZnO crystals grown in layers but not regular. Consequently, ZnO film surface morphology changed from smooth to a pyramid structure and then disappeared little by little. Moreover, it was also found in this study that ZnO film was characterized with high crystallinity, low resistivity (2.17 x 10 2) and high transmittance (〉 80%). These results suggested that ZnO thin film is suitable for front electrode of silicon thin film solar cell. 展开更多
关键词 metal organic chemical vapor deposition(movcd in situ-textured zinc oxide (ZnO) thin film temperature
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A review of GaN-based optoelectronic devices on silicon substrate 被引量:11
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作者 Baijun Zhang Yang Liu 《Chinese Science Bulletin》 SCIE EI CAS 2014年第12期1251-1275,共25页
Group Ⅲ-nitride material system possesses some unique properties,such as large spectrum coverage from infrared to deep ultraviolet,wide energy band gap,high electron saturation velocity,high electrical breakdown fiel... Group Ⅲ-nitride material system possesses some unique properties,such as large spectrum coverage from infrared to deep ultraviolet,wide energy band gap,high electron saturation velocity,high electrical breakdown field,and strong polarization effect,which enables the big family has a very wide application range from optoelectronic to power electronic area.Furthermore,the successful growth of GaN-related III-nitride material on large size silicon substrate enable the above applications easily realize the commercialization,because of the cost-effective device fabrication on the platform of Si-based integrated circuits.In this article,the progress and development of the GaN-based materials and light-emitting diodes grown on Si substrate were summarized,in which some key issues regarding to the material growth and device fabrication were reviewed. 展开更多
关键词 光电子器件 硅衬底 GAN 综述 材料系统 材料生长 发光二极管 远紫外线
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