Static random-access memory(SRAM)-based eld programmable gate arrays(FPGAs)are sensitive to radiationinduced single event upsets(SEUs)^([1]).Single-bit upsets(SBUs),as a well-known effect in FPGAs,occur when the energ...Static random-access memory(SRAM)-based eld programmable gate arrays(FPGAs)are sensitive to radiationinduced single event upsets(SEUs)^([1]).Single-bit upsets(SBUs),as a well-known effect in FPGAs,occur when the energy deposited by a single particle(such as heavy ion)exceeds the critical charge in single memory cell.However,in modern advanced process technologies,owing to the smaller area and decreased critical charge of transistors.展开更多
为提升船舶喷推进器双微控制单元(Microcontroller Unit,MCU)冗余系统通信与故障检测功能,提高喷水推进器控制系统的可靠性和稳定性。在RS232串口心跳检测的基础上,通过自定义控制器局域网(Controller Area Network,CAN)通信协议,对现有...为提升船舶喷推进器双微控制单元(Microcontroller Unit,MCU)冗余系统通信与故障检测功能,提高喷水推进器控制系统的可靠性和稳定性。在RS232串口心跳检测的基础上,通过自定义控制器局域网(Controller Area Network,CAN)通信协议,对现有CAN通信网络进行功能复用,提出一种基于CAN总线的双MCU冗余上位机监控检测机制。实验测试结果表明,上位机监控检测方法克服了传统故障检测方法仅针对MCU故障而忽视其外围通信故障的缺点,避免了“双主机现象”,提高了冗余控制系统故障检测的速度与精准度,可以保障双MCU冗余系统平稳、可靠运行。研究成果可为喷水推进器双MCU冗余系统故障检测方式提供一定参考。展开更多
微控制器(Microcontroller Unit,MCU)芯片以其高性能、多功能、可编程等优点被广泛应用于各种信号处理和嵌入式系统。MCU芯片测试是保证产品可靠性的重要手段之一,由于市场上的MCU芯片愈发多样化,如何实现高性能和复杂功能的高效测试是...微控制器(Microcontroller Unit,MCU)芯片以其高性能、多功能、可编程等优点被广泛应用于各种信号处理和嵌入式系统。MCU芯片测试是保证产品可靠性的重要手段之一,由于市场上的MCU芯片愈发多样化,如何实现高性能和复杂功能的高效测试是MCU芯片测试的难点。论文针对一款32位高性能MCU芯片,基于自动测试设备(Automatic Test Equipment,ATE)开展了MCU芯片在线测试技术研究,详细说明了MCU电性能测试系统的硬件电路设计方法和软件程序实现流程,实现了批量MCU芯片的产线测试,保障了MCU芯片的可靠性。展开更多
基金National Natural Science Foundation of China(12035019,11690041)。
文摘Static random-access memory(SRAM)-based eld programmable gate arrays(FPGAs)are sensitive to radiationinduced single event upsets(SEUs)^([1]).Single-bit upsets(SBUs),as a well-known effect in FPGAs,occur when the energy deposited by a single particle(such as heavy ion)exceeds the critical charge in single memory cell.However,in modern advanced process technologies,owing to the smaller area and decreased critical charge of transistors.
文摘为提升船舶喷推进器双微控制单元(Microcontroller Unit,MCU)冗余系统通信与故障检测功能,提高喷水推进器控制系统的可靠性和稳定性。在RS232串口心跳检测的基础上,通过自定义控制器局域网(Controller Area Network,CAN)通信协议,对现有CAN通信网络进行功能复用,提出一种基于CAN总线的双MCU冗余上位机监控检测机制。实验测试结果表明,上位机监控检测方法克服了传统故障检测方法仅针对MCU故障而忽视其外围通信故障的缺点,避免了“双主机现象”,提高了冗余控制系统故障检测的速度与精准度,可以保障双MCU冗余系统平稳、可靠运行。研究成果可为喷水推进器双MCU冗余系统故障检测方式提供一定参考。
文摘微控制器(Microcontroller Unit,MCU)芯片以其高性能、多功能、可编程等优点被广泛应用于各种信号处理和嵌入式系统。MCU芯片测试是保证产品可靠性的重要手段之一,由于市场上的MCU芯片愈发多样化,如何实现高性能和复杂功能的高效测试是MCU芯片测试的难点。论文针对一款32位高性能MCU芯片,基于自动测试设备(Automatic Test Equipment,ATE)开展了MCU芯片在线测试技术研究,详细说明了MCU电性能测试系统的硬件电路设计方法和软件程序实现流程,实现了批量MCU芯片的产线测试,保障了MCU芯片的可靠性。
