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MCU可测性设计的实现
被引量：
3
1
作者
孙艺
汪东旭
《微处理机》
1999年第3期4-8,共5页
由于 MCU(Micro-Controller Unit)的结构非常复杂 ,因此若在设计时采用一般数字电路设计的从结构出发的 DFT(Design For Testability)技术 (包括扫描设计和 BIST—— Built-In Self-Test)将使电路的规模急剧增大。本文从功能测试的角度...
由于 MCU(Micro-Controller Unit)的结构非常复杂 ,因此若在设计时采用一般数字电路设计的从结构出发的 DFT(Design For Testability)技术 (包括扫描设计和 BIST—— Built-In Self-Test)将使电路的规模急剧增大。本文从功能测试的角度出发 ,提出了一种在 MCU中加入规模很小的模式选择电路 ,对部分电路作较小改动 ,就使芯片内的各块电路都可被测试的方法。在完成了 MCU 的可测性设计(Testable Design)
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关键词
mcu
dft
可测性
专用集成电路
ASIC
设计
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职称材料
系统级的可测性设计
被引量：
6
2
作者
郭筝
郭炜
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第20期202-204,共3页
随着IC设计的不断发展,SoC由于其可重用性而被广泛应用,这使得可测性设计(DFT)也被提高到系统级的高度。从顶层模块考虑,必须对不同模块采用不同的测试策略,合理分配测试资源。该文通过实例,提供了一种可行的系统级DFT方案。
关键词
可测性设计
内建自测
扫描测试
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职称材料
基于微控制器的嵌入式边界扫描解决方案
被引量：
2
3
作者
杜影
李洋
+3 位作者
徐鹏程
王石记
安佰岳
郑义
《计算机测量与控制》
北大核心
2014年第3期686-689,共4页
为了解决电路板快速诊断维修问题,嵌入式测试正以全新的概念成为板级电路测试的研究方向;嵌入式测试性设计,是将自动故障检测和诊断功能内置于电路板中,利用嵌入式测试控制器,在UUT内部实现故障检测;边界扫描技术作为高密度电路板故障...
为了解决电路板快速诊断维修问题,嵌入式测试正以全新的概念成为板级电路测试的研究方向;嵌入式测试性设计,是将自动故障检测和诊断功能内置于电路板中,利用嵌入式测试控制器,在UUT内部实现故障检测;边界扫描技术作为高密度电路板故障检测的主流技术,将结合嵌人式测试方法,成为板级乃至系统级故障检测的新发展方向;文章首先概述了嵌入式边界扫描技术,然后提出了一种基于微控制器的嵌入式边界扫描解决方案,阐述了嵌入式边界扫描的数据生成技术,最后以数字IO电路板为对象进行了测试性设计与验证,并给出结论;总体上,嵌入式测试以增强测试自动化、提高测试覆盖率和测试效率为目的,能够更好地降低产品整个寿命周期的测试维修成本。
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关键词
嵌入式测试
可测性
边界扫描
微控制器
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职称材料
一种兼容IEEE1149.1接口的模拟电压监测器的应用
4
作者
杜影
王石记
安百岳
《计算机测量与控制》
CSCD
北大核心
2010年第10期2427-2429,共3页
针对模拟电压监测的技术现状,提出以支持IEEE1149.1接口标准的模拟电压监测器进行电压监测电路设计;简要介绍了模拟电压监测器的基本结构、操作原理和应用方式;通过实际电压电路可测性设计方案的制定分析、实验和测试,说明了该电压监测...
针对模拟电压监测的技术现状,提出以支持IEEE1149.1接口标准的模拟电压监测器进行电压监测电路设计;简要介绍了模拟电压监测器的基本结构、操作原理和应用方式;通过实际电压电路可测性设计方案的制定分析、实验和测试,说明了该电压监测器的优势和特点;同时,文中提出应用FPGA作为内建自测试(BIST)控制器执行监测操作,是边界扫描技术与BIST技术结合应用的一次创新;最后的应用结果表明,该监测器的使用为电路设计人员的可测性设计提供了一种新思路和参考方法。
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关键词
模拟电压监测器
边界扫描测试
可测试性设计
内建自测试
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职称材料
基于电力线通信芯片可测性设计的研究实现
5
作者
潘照华
万培元
林平分
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第7期554-557,共4页
集成电路的快速发展,迫切地需要快速、高效、低成本且具有可重复性的测试方案,这也成为可测性设计的发展方向。此次设计基于一款电力线通信芯片,数字部分采用传统常用的数字模块扫描链测试和存储器内建自测试;同时利用芯片正常的通信信...
集成电路的快速发展,迫切地需要快速、高效、低成本且具有可重复性的测试方案,这也成为可测性设计的发展方向。此次设计基于一款电力线通信芯片,数字部分采用传统常用的数字模块扫描链测试和存储器内建自测试;同时利用芯片正常的通信信道,引入模拟环路测试和芯片环路内建自测试,即覆盖了所有模拟模块又保证了芯片的基本通信功能,而且最大限度地减少了对芯片整体功能布局的影响。最终使芯片良率在98%以上,达到了大规模生产的要求。此设计可以为当前数模混合通信芯片的测试提供参考。
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关键词
可测性设计
扫描测试
内建自测试
芯片环路内建自测试
模拟环路测试
原文传递
题名
MCU可测性设计的实现
被引量：
3
1
作者
孙艺
汪东旭
机构
上海交通大学
出处
《微处理机》
1999年第3期4-8,共5页
基金
国家重点技术发展项目
文摘
由于 MCU(Micro-Controller Unit)的结构非常复杂 ,因此若在设计时采用一般数字电路设计的从结构出发的 DFT(Design For Testability)技术 (包括扫描设计和 BIST—— Built-In Self-Test)将使电路的规模急剧增大。本文从功能测试的角度出发 ,提出了一种在 MCU中加入规模很小的模式选择电路 ,对部分电路作较小改动 ,就使芯片内的各块电路都可被测试的方法。在完成了 MCU 的可测性设计(Testable Design)
关键词
mcu
dft
可测性
专用集成电路
ASIC
设计
Keywords
mcu
,
dft
,
functional testing
,
scan design
,
bist
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
系统级的可测性设计
被引量：
6
2
作者
郭筝
郭炜
机构
上海交通大学微电子学院
出处
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第20期202-204,共3页
基金
国家"863"计划基金资助项目(2003AA1Z1350)
文摘
随着IC设计的不断发展,SoC由于其可重用性而被广泛应用,这使得可测性设计(DFT)也被提高到系统级的高度。从顶层模块考虑,必须对不同模块采用不同的测试策略,合理分配测试资源。该文通过实例,提供了一种可行的系统级DFT方案。
关键词
可测性设计
内建自测
扫描测试
Keywords
design
for test （
dft
）
Built-in self test （
bist
）
scan
test
分类号
TP391 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
在线阅读
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职称材料
题名
基于微控制器的嵌入式边界扫描解决方案
被引量：
2
3
作者
杜影
李洋
徐鹏程
王石记
安佰岳
郑义
机构
北京航天测控技术有限公司
出处
《计算机测量与控制》
北大核心
2014年第3期686-689,共4页
基金
总装备部预研项目(51317040204)
文摘
为了解决电路板快速诊断维修问题,嵌入式测试正以全新的概念成为板级电路测试的研究方向;嵌入式测试性设计,是将自动故障检测和诊断功能内置于电路板中,利用嵌入式测试控制器,在UUT内部实现故障检测;边界扫描技术作为高密度电路板故障检测的主流技术,将结合嵌人式测试方法,成为板级乃至系统级故障检测的新发展方向;文章首先概述了嵌入式边界扫描技术,然后提出了一种基于微控制器的嵌入式边界扫描解决方案,阐述了嵌入式边界扫描的数据生成技术,最后以数字IO电路板为对象进行了测试性设计与验证,并给出结论;总体上,嵌入式测试以增强测试自动化、提高测试覆盖率和测试效率为目的,能够更好地降低产品整个寿命周期的测试维修成本。
关键词
嵌入式测试
可测性
边界扫描
微控制器
Keywords
embedded test
dft
（
design
for test）
boundary--
scan
mcu
（micro--programmed control unit）
分类号
TM57 [电气工程—电器]
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职称材料
题名
一种兼容IEEE1149.1接口的模拟电压监测器的应用
4
作者
杜影
王石记
安百岳
机构
北京航天测控技术开发公司
出处
《计算机测量与控制》
CSCD
北大核心
2010年第10期2427-2429,共3页
基金
总装备部预研项目(51317040204)
文摘
针对模拟电压监测的技术现状,提出以支持IEEE1149.1接口标准的模拟电压监测器进行电压监测电路设计;简要介绍了模拟电压监测器的基本结构、操作原理和应用方式;通过实际电压电路可测性设计方案的制定分析、实验和测试,说明了该电压监测器的优势和特点;同时,文中提出应用FPGA作为内建自测试(BIST)控制器执行监测操作,是边界扫描技术与BIST技术结合应用的一次创新;最后的应用结果表明,该监测器的使用为电路设计人员的可测性设计提供了一种新思路和参考方法。
关键词
模拟电压监测器
边界扫描测试
可测试性设计
内建自测试
Keywords
analog voltage monitor
boundary
scan
ning test
design
for testability（
dft
）
build in self-test（
bist
）
分类号
TP273 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
基于电力线通信芯片可测性设计的研究实现
5
作者
潘照华
万培元
林平分
机构
北京工业大学北京市嵌入式系统重点实验室
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第7期554-557,共4页
基金
北京工业大学博士科研启动基金(X0002019201102)
文摘
集成电路的快速发展,迫切地需要快速、高效、低成本且具有可重复性的测试方案,这也成为可测性设计的发展方向。此次设计基于一款电力线通信芯片,数字部分采用传统常用的数字模块扫描链测试和存储器内建自测试;同时利用芯片正常的通信信道,引入模拟环路测试和芯片环路内建自测试,即覆盖了所有模拟模块又保证了芯片的基本通信功能,而且最大限度地减少了对芯片整体功能布局的影响。最终使芯片良率在98%以上,达到了大规模生产的要求。此设计可以为当前数模混合通信芯片的测试提供参考。
关键词
可测性设计
扫描测试
内建自测试
芯片环路内建自测试
模拟环路测试
Keywords
design
for test（
dft
）
scan
test
built-in self test（
bist
）
chip loopback built-in self test
analog loopback test
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN453 [电子电信—微电子学与固体电子学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
MCU可测性设计的实现
孙艺
汪东旭
《微处理机》
1999
3
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
系统级的可测性设计
郭筝
郭炜
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
2005
6
在线阅读
下载PDF
职称材料
3
基于微控制器的嵌入式边界扫描解决方案
杜影
李洋
徐鹏程
王石记
安佰岳
郑义
《计算机测量与控制》
北大核心
2014
2
在线阅读
下载PDF
职称材料
4
一种兼容IEEE1149.1接口的模拟电压监测器的应用
杜影
王石记
安百岳
《计算机测量与控制》
CSCD
北大核心
2010
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
5
基于电力线通信芯片可测性设计的研究实现
潘照华
万培元
林平分
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2011
0
原文传递
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