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车规级MCU芯片整车匹配试验及其评价方法
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作者 张永昌 李兆麟 《汽车工程》 北大核心 2025年第12期2420-2430,共11页
近年来我国汽车芯片产业虽取得长足的进步,但在推动国产汽车芯片上车应用方面仍然面临着巨大挑战。以整车控制器的核心器件——车规级MCU(微控制器)芯片为例,虽然传统的ATE测试能够模拟实车行驶的环境条件来验证芯片的功能、性能及可靠... 近年来我国汽车芯片产业虽取得长足的进步,但在推动国产汽车芯片上车应用方面仍然面临着巨大挑战。以整车控制器的核心器件——车规级MCU(微控制器)芯片为例,虽然传统的ATE测试能够模拟实车行驶的环境条件来验证芯片的功能、性能及可靠性,但是自主研制的车规级MCU芯片是否匹配实际车辆在复杂行驶条件和恶劣工作环境下的功能、性能、可靠性及功能安全等方面严苛的技术要求,存在技术空白,主要表现为我国缺少车规级MCU芯片的整车匹配试验方法,相关测试系统和实验数据统计分析方法缺失,无法开展车规级MCU芯片在实车行驶工况条件下的整车匹配评价。针对上述问题,本文提出了一种车规级MCU芯片的整车匹配性测试理念和实车试验方法。经试验证明,该试验方法可实现典型车规级MCU芯片的基本功能100%覆盖测试,整车匹配测试设备系统数据采样同步周期小于1 ms,可覆盖整车典型工况下的数据采集周期需求。此外,本文还定义了车规级MCU芯片整车环境测试性能数据的稳定性和一致性,建立了一种基于车规级MCU芯片整车环境测试性能数据的稳定性和一致性评价指标体系,提出了一种集成整车测试数据准备、分析与评价的数据统计分析方法,针对其中的变异系数进行研究并给出推荐值,填补了车规级MCU芯片在实车行驶工况条件下整车匹配评价的技术空白。 展开更多
关键词 车规级芯片 mcu芯片 整车匹配试验方法 整车匹配测试系统 数据统计分析方法
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一种基于ATE的MCU测试方法及系统研究
2
作者 孔笑荷 沈郁博 +4 位作者 聂之君 郭晗 韩滔 周若臣 么鹏 《舰船电子工程》 2025年第5期157-161,共5页
微控制器(Microcontroller Unit,MCU)芯片以其高性能、多功能、可编程等优点被广泛应用于各种信号处理和嵌入式系统。MCU芯片测试是保证产品可靠性的重要手段之一,由于市场上的MCU芯片愈发多样化,如何实现高性能和复杂功能的高效测试是... 微控制器(Microcontroller Unit,MCU)芯片以其高性能、多功能、可编程等优点被广泛应用于各种信号处理和嵌入式系统。MCU芯片测试是保证产品可靠性的重要手段之一,由于市场上的MCU芯片愈发多样化,如何实现高性能和复杂功能的高效测试是MCU芯片测试的难点。论文针对一款32位高性能MCU芯片,基于自动测试设备(Automatic Test Equipment,ATE)开展了MCU芯片在线测试技术研究,详细说明了MCU电性能测试系统的硬件电路设计方法和软件程序实现流程,实现了批量MCU芯片的产线测试,保障了MCU芯片的可靠性。 展开更多
关键词 mcu ATE系统 电测试 硬件电路 测试程序
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MCU可测性设计的实现 被引量:3
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作者 孙艺 汪东旭 《微处理机》 1999年第3期4-8,共5页
由于 MCU(Micro-Controller Unit)的结构非常复杂 ,因此若在设计时采用一般数字电路设计的从结构出发的 DFT(Design For Testability)技术 (包括扫描设计和 BIST—— Built-In Self-Test)将使电路的规模急剧增大。本文从功能测试的角度... 由于 MCU(Micro-Controller Unit)的结构非常复杂 ,因此若在设计时采用一般数字电路设计的从结构出发的 DFT(Design For Testability)技术 (包括扫描设计和 BIST—— Built-In Self-Test)将使电路的规模急剧增大。本文从功能测试的角度出发 ,提出了一种在 MCU中加入规模很小的模式选择电路 ,对部分电路作较小改动 ,就使芯片内的各块电路都可被测试的方法。在完成了 MCU 的可测性设计(Testable Design) 展开更多
关键词 mcu DFT 可测性 专用集成电路 ASIC 设计
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一种高效率MCU芯片Multi-Sites测试技术 被引量:4
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作者 陈真 陆锋 张凯虹 《电子与封装》 2014年第11期13-15,共3页
介绍了使用Multi-Sites工程测试技术提高MCU芯片测试效率的方案。针对MCU芯片Multi-Sites测试难点,阐述了在MCU芯片Multi-Sites测试中电性能测试、功能测试的影响因素和解决方案,并对MCU芯片Multi-Sites测试过程中经常遇到的干扰因素进... 介绍了使用Multi-Sites工程测试技术提高MCU芯片测试效率的方案。针对MCU芯片Multi-Sites测试难点,阐述了在MCU芯片Multi-Sites测试中电性能测试、功能测试的影响因素和解决方案,并对MCU芯片Multi-Sites测试过程中经常遇到的干扰因素进行分析,保证MCU芯片Multi-Sites测试获得稳定可靠的性能参数,有效提高测试效率。 展开更多
关键词 mcu Multi-Sites 测试效率
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边界扫描主控器MCU设计与实现 被引量:1
5
作者 罗秋明 雷海军 《微计算机信息》 北大核心 2006年第08Z期260-262,208,共4页
通过对边界扫描测试过程以及TAP的16种状态的分析,总结出边界扫描测试的核心操作,归纳出相应的核心指令,设计出一种边界扫描测试主控器的MCU控制器,并用FPGA实现。由于采用了控制器的实现方式以及具有扫描长度设置指令使得具有测试自动... 通过对边界扫描测试过程以及TAP的16种状态的分析,总结出边界扫描测试的核心操作,归纳出相应的核心指令,设计出一种边界扫描测试主控器的MCU控制器,并用FPGA实现。由于采用了控制器的实现方式以及具有扫描长度设置指令使得具有测试自动化程度高、灵活高效、成本低的优势。另外还单独配有指令用于和BIST功能配合。 展开更多
关键词 微控制器 边界扫描 主控器 FPGA
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基于J750Ex-HD的32位MCU芯片在线测试技术 被引量:3
6
作者 余永涛 王小强 +2 位作者 余俊杰 陈煜海 罗军 《电子与封装》 2022年第3期35-40,共6页
微控制器(Microcontroller Unit,MCU)芯片以其高性能、多功能、可编程、低功耗等优点被广泛应用于各种信号处理和嵌入式系统。MCU芯片在线测试是保证产品质量的重要技术手段,如何实现高性能和复杂功能的高效测试是MCU芯片在线测试的难... 微控制器(Microcontroller Unit,MCU)芯片以其高性能、多功能、可编程、低功耗等优点被广泛应用于各种信号处理和嵌入式系统。MCU芯片在线测试是保证产品质量的重要技术手段,如何实现高性能和复杂功能的高效测试是MCU芯片在线测试的难点。针对一款32位高性能MCU芯片,基于J750Ex-HD型集成电路ATE测试系统开展了MCU芯片在线测试技术研究,详细说明了MCU芯片内部的POR/PDR、GPIO、ADC、Trimming、存储器等功能模块的功能性验证方法。按照MCU在线测试方法流程,设计制作了MCU芯片测试适配器,开发了基于VBT编程的芯片测试程序,实现了批量MCU芯片的在线测试。 展开更多
关键词 微控制单元 ATE测试系统 功能测试 修调测试 ADC测试
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十进制运算功能在MCU中的实现及验证
7
作者 宋宇鲲 李伟 王晓蕾 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2001年第5期1-3,共3页
文章讨论了在MCU中以BCD码为基础的十进制加减法运算方法对设计结果进行了完备集的测试,从而确保了设计的正确性。
关键词 十进制运算 BCD码 mcu 测试 微处理器
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多MCU武器检测系统设计
8
作者 鲍学良 梁伟 周红贵 《弹箭与制导学报》 CSCD 北大核心 2008年第4期228-229,248,共3页
运用现代检测理论设计了一种武器检测系统,阐述了多MCU武器检测系统的硬件和软件设计;通过使用多个MCU,以软件代替部分硬件,可以有效减小检测仪器的体积,提高通用性和抗干扰性;系统多方面的可编程性使其具有较大的升级空间,对小型武器... 运用现代检测理论设计了一种武器检测系统,阐述了多MCU武器检测系统的硬件和软件设计;通过使用多个MCU,以软件代替部分硬件,可以有效减小检测仪器的体积,提高通用性和抗干扰性;系统多方面的可编程性使其具有较大的升级空间,对小型武器检测系统的设计有一定的参考意义。 展开更多
关键词 mcu 武器检测 系统设计 信号发生器
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MCU芯片Multi-Sites测试中几个值得关注的问题 被引量:1
9
作者 陈真 陆锋 张凯虹 《电子与封装》 2014年第6期12-14,共3页
介绍了MCU芯片Multi-Sites测试方法,针对MCU芯片Multi-Sites测试的难点,阐述了在MCU芯片Multi-Sites测试过程中经常影响测试系统和测试效率的问题。主要提出了MCU芯片MultiSites测试过程中的直流参数测试、功能测试的影响因素和解决方案... 介绍了MCU芯片Multi-Sites测试方法,针对MCU芯片Multi-Sites测试的难点,阐述了在MCU芯片Multi-Sites测试过程中经常影响测试系统和测试效率的问题。主要提出了MCU芯片MultiSites测试过程中的直流参数测试、功能测试的影响因素和解决方案,并对MCU芯片Multi-Sites测试过程中经常遇到的干扰因素进行分析,尽可能保证MCU芯片Multi-Sites测试过程中获得的各项性能参数稳定可靠。 展开更多
关键词 mcu Multi—Sites 直流参数测试 功能测试
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测试自动化在MCU设计中的应用 被引量:2
10
作者 刘方海 王晓蕾 栾铭 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2001年第4期12-15,共4页
文章以参照测试为理论基础、以 MCU设计为实例,阐述了在使用 Verilog HDL进行 MCU设计过程中如何利用高级语言 C描述的 MCU模型参与测试自动化的方法。
关键词 测试自动化 专用集成电路 微控制器 设计
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基于ATE的MCU芯片并行测试技术研究 被引量:13
11
作者 刘媛媛 高剑 蒋常斌 《电子测量技术》 2020年第4期116-120,共5页
讨论了MCU芯片测试需求及难点,针对测试过程中可能会遇到的接口板通用性和信号完整性问题给出解决方案。以FPGA为主控器件设计继电器矩阵控制电路,并通过阻抗匹配和等延时设计使多通道信号达到可靠性要求。解决了测试系统接口板的单一... 讨论了MCU芯片测试需求及难点,针对测试过程中可能会遇到的接口板通用性和信号完整性问题给出解决方案。以FPGA为主控器件设计继电器矩阵控制电路,并通过阻抗匹配和等延时设计使多通道信号达到可靠性要求。解决了测试系统接口板的单一性、专用性问题,缩短了开发周期。通过自动测试系统验证,MCU芯片并行测试实验中功能匹配测试、频率测试和参数测试可独立使用测试资源,实现了完全并行测试,与传统串行测试方法相比节约了测试时间,提高了芯片测试效率。 展开更多
关键词 微控制单元 并行测试 继电器矩阵
原文传递
基于嵌入式MCU的变转速液压测控系统设计
12
作者 王光洪 彭天好 张川 《机床与液压》 北大核心 2012年第23期86-89,共4页
以变转速泵控马达调速系统为研究对象,设计一种基于USB通信接口的嵌入式MCU的变转速测控系统,分析测控系统的下位机硬件组成和软件结构,对嵌入式系统在液压方面的应用有一定的借鉴意义。
关键词 嵌入式mcu 液压系统 测控系统 USB通信
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一种快速MCU修调测试方法 被引量:4
13
作者 钟纬坤 李景虎 付方发 《微电子学与计算机》 2021年第7期67-72,共6页
为降低具有高精度要求和功能丰富的MCU的修调测试成本,提出一种快速高效的MCU修调测试方法.此方法是将MCU芯片成品通过Flash自动修调补偿来控制电路的输出基准和频率,或者是调整电流,从而实现自动化修调MCU芯片的效果,同时控制MCU模拟... 为降低具有高精度要求和功能丰富的MCU的修调测试成本,提出一种快速高效的MCU修调测试方法.此方法是将MCU芯片成品通过Flash自动修调补偿来控制电路的输出基准和频率,或者是调整电流,从而实现自动化修调MCU芯片的效果,同时控制MCU模拟从不同pin脚上输出到测试仪器,然后再由软件自动记录测试结果.修调测试使用的是一款工业级8051芯片.测试结果表明:经过这种修调测试方法可以使MCU满足输出精度要求且能快速得到MCU模拟信号输出,并有效地降低MCU的修调测试成本. 展开更多
关键词 工业级mcu Flash自动修调 程序自动测试 算法设计与优化
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一种MCU的测试解决方案
14
作者 陈元 高剑 《电子测试》 2017年第1X期23-25,27,共4页
对MCU进行测试时,如何高效生成测试向量是测试的难点。文章以8位MCU STC12C5410AD为例,详细地介绍了通过使用仿真环境,以C语言编写功能测试程序,完成芯片寄存器控制和主要逻辑单元运算,然后使用集成电路测试系统直接生成测试向量的解决... 对MCU进行测试时,如何高效生成测试向量是测试的难点。文章以8位MCU STC12C5410AD为例,详细地介绍了通过使用仿真环境,以C语言编写功能测试程序,完成芯片寄存器控制和主要逻辑单元运算,然后使用集成电路测试系统直接生成测试向量的解决方案。使用此解决方案,可根据测试要求,在较短时间内开发出MCU测试程序,节约测试开发成本。 展开更多
关键词 单片机 mcu测试 测试向量
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基于ATE的MCU芯片工程化量产测试关键技术 被引量:5
15
作者 毛景雄 岳龙 +3 位作者 邓艺华 陆裕东 李汝冠 江雪晨 《中国集成电路》 2022年第12期84-89,共6页
微控制单元(Microcontroller Unit,MCU)是嵌入式系统的重要组成部分,渗透到消费、工业和汽车电子等行业中,遍布生活中各行各业。MCU的工程化量产过程包括设计、制造、封装、测试等多个环节,其中芯片的测试贯穿所有环节。本文对MCU测试... 微控制单元(Microcontroller Unit,MCU)是嵌入式系统的重要组成部分,渗透到消费、工业和汽车电子等行业中,遍布生活中各行各业。MCU的工程化量产过程包括设计、制造、封装、测试等多个环节,其中芯片的测试贯穿所有环节。本文对MCU测试过程中,对测试方法在各环节中的应用,测试平台设备的选择、测试软硬件开发、测试数据收集与分析三大环节中的关键技术性问题进行了简述。 展开更多
关键词 mcu测试 工程化与量产 测试硬件设计 程序开发调试 测试数据分析
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改进后MCU测试架构及其测试策略研究 被引量:3
16
作者 刘春光 《电子测试》 2021年第15期107-108,85,共3页
本文将通过对传统测试的结构进行分析,找出传统测试的缺点,并加以改进。提出改进后MCU测试构架及其测试策略,并加以分析。可以得出以下结论。改进测试架构及其测试策略的意义在于可以在提高测试准确性的同时,降低测试过程中的成本。希... 本文将通过对传统测试的结构进行分析,找出传统测试的缺点,并加以改进。提出改进后MCU测试构架及其测试策略,并加以分析。可以得出以下结论。改进测试架构及其测试策略的意义在于可以在提高测试准确性的同时,降低测试过程中的成本。希望可以为其他的同行业提供一些借鉴与帮助。 展开更多
关键词 mcu芯片 测试方法 测试结构 测试策略
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Design and Application of a MCU-based Smart Contactor System
17
作者 Fuqing Huang Weipeng Lin 《Energy and Power Engineering》 2013年第3期1-5,共5页
This paper aims to design a MCU-based smart contactor system, which will realize functions of real time surveillance of contactors’ work status and data exchange with host computer, thus instantly reflect different s... This paper aims to design a MCU-based smart contactor system, which will realize functions of real time surveillance of contactors’ work status and data exchange with host computer, thus instantly reflect different status of the system. In case of abnormal status such as over-current or under-voltage, the contactor will be able to automatically cut off power supply to protect electrical load and the circuit. Through ARINC485 bus, system computer will collect and record contactor parameters, including contact voltage, contact current, supply frequency, contact temperature and contact status to provide critical data to the examination and repair of contactors. 展开更多
关键词 AERIAL CONTACTOR mcu testING ARINC485
暂未订购
基于MCU的继电器电参数自动测试仪的设计 被引量:2
18
作者 冯凌云 陈龙骧 《自动化应用》 2013年第2期4-6,9,共4页
设计以嵌入式混合信号微处理器C8051F350为中央处理机的继电器电参数自动测试仪,能够对多种交流电压继电器和直流电压继电器的各项电气参数进行自动测试,并达到较高检测精度。
关键词 微控制器 嵌入式 继电器 参数测试 智能设备
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基于MCU的可测性设计与实现 被引量:7
19
作者 张键 鲍宜鹏 《电子与封装》 2021年第1期72-76,共5页
随着客户需求的复杂化及先进EDA工具的使用,MCU芯片向高复杂性、高集成度、高性能发展,电路规模越来越大,这使得MCU的可测性设计变得越来越困难。介绍了传统测试结构及其局限性,以及优化后的测试结构及其测试策略,实现了CKS32F0XX芯片... 随着客户需求的复杂化及先进EDA工具的使用,MCU芯片向高复杂性、高集成度、高性能发展,电路规模越来越大,这使得MCU的可测性设计变得越来越困难。介绍了传统测试结构及其局限性,以及优化后的测试结构及其测试策略,实现了CKS32F0XX芯片的测试向量产生及整体测试。 展开更多
关键词 mcu芯片 可测性设计 测试资源复用 测试成本 测试方法
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基于J750的MCU芯片测试程序开发与调试 被引量:7
20
作者 谭雪 金兰 《微处理机》 2017年第4期23-26,共4页
Teradyne J750测试系统功能强大、测试精度高,是全球装机量最大的自动测试设备。以一款MCU芯片的晶圆级测试为例,主要阐述了其在美国Teradyne公司生产的J750大规模集成电路测试系统上的测试方案开发与实现。介绍了J750测试系统的主要特... Teradyne J750测试系统功能强大、测试精度高,是全球装机量最大的自动测试设备。以一款MCU芯片的晶圆级测试为例,主要阐述了其在美国Teradyne公司生产的J750大规模集成电路测试系统上的测试方案开发与实现。介绍了J750测试系统的主要特点,开展晶圆级测试开发的一般步骤:包括测试设备评估、测试适配器加工、离线程序编写、在线测试程序调试等。程序部分主要关注功能项和频率计数测试,对调试异常情况进行研究等。通过开展16site并完成整枚晶圆的测试,根据探针台生成的Map文件,可以查看到该圆片的批号、片号、测试坐标及对应管芯的测试结果表征值,即Bin值。 展开更多
关键词 mcu芯片 J750测试机 晶圆 TDS软件 功能测试 频率计数
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