微控制器(Microcontroller Unit,MCU)芯片以其高性能、多功能、可编程等优点被广泛应用于各种信号处理和嵌入式系统。MCU芯片测试是保证产品可靠性的重要手段之一,由于市场上的MCU芯片愈发多样化,如何实现高性能和复杂功能的高效测试是...微控制器(Microcontroller Unit,MCU)芯片以其高性能、多功能、可编程等优点被广泛应用于各种信号处理和嵌入式系统。MCU芯片测试是保证产品可靠性的重要手段之一,由于市场上的MCU芯片愈发多样化,如何实现高性能和复杂功能的高效测试是MCU芯片测试的难点。论文针对一款32位高性能MCU芯片,基于自动测试设备(Automatic Test Equipment,ATE)开展了MCU芯片在线测试技术研究,详细说明了MCU电性能测试系统的硬件电路设计方法和软件程序实现流程,实现了批量MCU芯片的产线测试,保障了MCU芯片的可靠性。展开更多
文摘微控制器(Microcontroller Unit,MCU)芯片以其高性能、多功能、可编程等优点被广泛应用于各种信号处理和嵌入式系统。MCU芯片测试是保证产品可靠性的重要手段之一,由于市场上的MCU芯片愈发多样化,如何实现高性能和复杂功能的高效测试是MCU芯片测试的难点。论文针对一款32位高性能MCU芯片,基于自动测试设备(Automatic Test Equipment,ATE)开展了MCU芯片在线测试技术研究,详细说明了MCU电性能测试系统的硬件电路设计方法和软件程序实现流程,实现了批量MCU芯片的产线测试,保障了MCU芯片的可靠性。