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基于M32C87A单片机的智能测试系统控制方法研究
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作者 邹翔 李素君 杨常青 《国内外机电一体化技术》 2009年第1期65-67,72,共4页
M32C87A与其它单片机相比,具有速度快、功耗低、处理能力强、内置丰富外围电路的优势;针对目前半导体测试存在的问题。本文旨在研究M32C87A及相关理论,研究以其为核心的测试系统以提高半导体测试的速度、效率。
关键词 串行I/O m32c87a 单片机 智能测试系统 控制方法 半导体测试
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