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BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用
1
作者 江伴东 牛军伟 汪志成 《单片机与嵌入式系统应用》 2009年第9期12-13,17,共3页
介绍了SoC片上嵌入式微处理器核的一种测试技术——片内测试(BIST)。讲述了片上系统的由来以及两个重要特点。与传统的测试方法比较后,讨论了MemBIST、LogicBIST等常用BIST测试技术的结构和特点,分析了这几种测试方法的优缺点。
关键词 片上系统 片内测试 嵌入式微处理器核 MemBIST logicbist
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基于DBIST的IP核可测试设计实现
2
作者 徐新民 王倩 +1 位作者 尚丽娜 洪波 《科技通报》 2006年第3期405-409,共5页
分析了全扫描和逻辑内置自测试这两种方法在芯片可测试设计应用中的利弊,并简要介绍了结合两者优点的DBIST方法和实现该方法的SynopsysSoCBIST工具。通过与全扫描产生结果的对比,指出了对IP核做可测试设计用DBIST方法所具备的测试时间... 分析了全扫描和逻辑内置自测试这两种方法在芯片可测试设计应用中的利弊,并简要介绍了结合两者优点的DBIST方法和实现该方法的SynopsysSoCBIST工具。通过与全扫描产生结果的对比,指出了对IP核做可测试设计用DBIST方法所具备的测试时间短、测试文件小、测试覆盖率高、可做全速测试及易于在SoC系统中测试等显著优点。 展开更多
关键词 测试技术 全扫描 逻辑内建自测试 确定性内建自测试 SoCBIST 重置位
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