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LK8820测试机在集成电路数字芯片测试中的应用
1
作者 谢少潮 《电子产品世界》 2025年第10期49-52,共4页
为验证LK8820测试机在集成电路数字芯片测试中的性能优势,基于既有的硬件架构与控制系统,围绕可编程逻辑门阵列(field programmable gate array,FPGA)和数字信号处理器(digital signal processor,DSP)构建多通道并行测试方案,并对测试... 为验证LK8820测试机在集成电路数字芯片测试中的性能优势,基于既有的硬件架构与控制系统,围绕可编程逻辑门阵列(field programmable gate array,FPGA)和数字信号处理器(digital signal processor,DSP)构建多通道并行测试方案,并对测试流程与数据处理机制进行优化设计。结合数字逻辑芯片功能与关键电气参数的测试实例,对测试方案配置、时序同步控制及测试结果进行系统分析。研究结果表明,LK8820测试机依托高精度时钟同步、信号完整性控制及自动校准技术,在输入脉冲同步误差、信号抖动、测试时间及通道利用率等关键指标上均表现出显著优势,测试精度稳定维持在纳秒级水平,能够满足数字芯片高精度与高效率测试需求。 展开更多
关键词 lk8820测试机 数字芯片 测试精度
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基于LK8820测试机的芯片参数测试研究 被引量：6
2
作者 余蓓敏 《长春大学学报》 2023年第8期19-23,共5页
作为LK8810S升级版本的LK8820测试机,硬件资源更加丰富,测试机函数进一步优化。分析了LK8820测试机的特点,并以CD4511芯片为例,通过CD4511测试电路设计和搭建、静态工作电流测试、输出高电平电压测试和输入高电平电流三种参数的测试,探... 作为LK8810S升级版本的LK8820测试机,硬件资源更加丰富,测试机函数进一步优化。分析了LK8820测试机的特点,并以CD4511芯片为例,通过CD4511测试电路设计和搭建、静态工作电流测试、输出高电平电压测试和输入高电平电流三种参数的测试,探究基于LK8820测试机的芯片参数测试的方法和过程。此种基于LK8820的数字芯片直流参数测试方案可操作性强,测试速度快,推动了OBE理念教学,提升了集成电路产业链效率。 展开更多
关键词 lk8820 CD4511 参数测试
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基于LK8820平台的数字芯片性能测试方案设计 被引量：4
3
作者 付裕 徐永琪 《南方农机》 2024年第2期159-161,171,共4页
【目的】对电路成品进行全面的电路性能检测,挑选出合格的成品芯片,保障芯片在任何环境下都可以维持设计规格书上所预期的功能及性能,避免不合格的芯片流入市场。【方法】课题组以74HC138芯片为例,提出了一种基于LK8820平台的数字芯片... 【目的】对电路成品进行全面的电路性能检测,挑选出合格的成品芯片,保障芯片在任何环境下都可以维持设计规格书上所预期的功能及性能,避免不合格的芯片流入市场。【方法】课题组以74HC138芯片为例,提出了一种基于LK8820平台的数字芯片性能测试方法,通过对74HC138芯片引脚进行功能分析,搭建了测试硬件电路,编写了测试程序,并利用LK8820测试平台对74HC138芯片引脚进行了开短路测试和输入高低电平测试。【结果】14个引脚的对地开短路测试结果都在允许的范围内,异常数为0;6个输入引脚的输入高电平测试结果和输入低电平测试结果均在有效值范围内,异常数为0,验证了该数字芯片开短路测试和输入高低电平测试方案的有效性。【结论】该方法也适用于其他数字芯片的开短路测试和输入高低电平测试,具有推广价值。 展开更多
关键词 lk8820平台 74HC138芯片 性能测试 方案设计
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基于LK8820平台的DAC0832芯片电参数环境适应性测试方法分析 被引量：3
4
作者 乔倩 《集成电路应用》 2023年第7期46-47,共2页
阐述DAC0832芯片在LK8820测试平台的测试方法,采用测试电路和专用函数完成对该芯片的电参数环境适应性的测试,从而为提高芯片测试效率提供技术支持。
关键词 集成电路测试 lk8820测试平台 环境适应性
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基于LK8820平台的数字芯片开短路测试
5
作者 刘坤 马昌宁 张智涵 《微型计算机》 2024年第5期172-174,共3页
本研究聚焦于基于LK8820平台的数字芯片开短路测试方法。首先介绍了LK8820测试平台,然后阐述了数字芯片开短路测试的原理,接着详细描述了测试方案的实施步骤。通过对74HC245芯片的16个引脚进行了开短路测试,结果表明,所有引脚对地的开... 本研究聚焦于基于LK8820平台的数字芯片开短路测试方法。首先介绍了LK8820测试平台,然后阐述了数字芯片开短路测试的原理,接着详细描述了测试方案的实施步骤。通过对74HC245芯片的16个引脚进行了开短路测试,结果表明,所有引脚对地的开短路测试均通过,未显示出任何开短路异常。因此,该数字芯片开短路测试结果具有有效性。该方法不仅能够准确检测数字芯片中开短路问题,而且具有较高自动化程度,提高了测试效率和准确性。 展开更多
关键词 lk8820测试平台 74HC245芯片 开短路测试 芯片测试技术
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