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亚微米LATCHUP测试分析实例
1
作者
郑若成
刘国贤
肖志强
《电子与封装》
2004年第1期47-51,46,共6页
关于LATCHUP理论目前相当丰富,但是关于LATCHUP的具体测试和分析文献很少介绍。本文讨论门亚微米工艺LATCHUP测试的一个例子。门的LATCHUP测试不属于常规PCM参数测试,但是在新工艺开发时,必须进行相关测试来确认设计规则。在这个例子里...
关于LATCHUP理论目前相当丰富,但是关于LATCHUP的具体测试和分析文献很少介绍。本文讨论门亚微米工艺LATCHUP测试的一个例子。门的LATCHUP测试不属于常规PCM参数测试,但是在新工艺开发时,必须进行相关测试来确认设计规则。在这个例子里,作者进行LATCHUP测试和分析,最后得出相关结论。对于LATCHUP测试,不同工艺和不同测试结构在实际测试时可能会有些不同考虑,因此,希望该例子能给读者提供一些关于LATCHUP测试和分析的思路。
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关键词
亚微米
latchup
测试结构
结构尺寸
触发测试.
结构设计
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职称材料
空间单粒子锁定效应研究
被引量：
10
2
作者
薛玉雄
杨生胜
+4 位作者
陈罗婧
曹洲
把得东
安恒
郭刚
《核技术》
CAS
CSCD
北大核心
2012年第9期692-697,共6页
空间辐射效应是影响器件空间性能的重要因素,特别是单粒子锁定现象一直是困扰CMOS器件在空间应用的一个难题。为此,文中分析了空间单粒子锁定效应机理、特点、模拟试验及检测方法,并选取典型空间用器件开展了单粒子锁定试验研究,在此基...
空间辐射效应是影响器件空间性能的重要因素,特别是单粒子锁定现象一直是困扰CMOS器件在空间应用的一个难题。为此,文中分析了空间单粒子锁定效应机理、特点、模拟试验及检测方法,并选取典型空间用器件开展了单粒子锁定试验研究,在此基础上,结合试验数据分析给出了单粒子锁定防护方法、监测方法及建议,供相关技术人员参考。
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关键词
CMOS器件
单粒子锁定
模拟试验
防护设计方法
原文传递
单粒子效应对航天器的威胁及空间飞行试验评论（一）
被引量：
6
3
作者
杨兆铭
《真空与低温》
1995年第1期46-58,共13页
列举了若干航天器因单粒子效应而出现的异常或故障。阐述了单粒子效应空间飞行试验方法和预估方法。总结了多颗航天器单粒子效应空间飞行试验结果。依据空间飞行试验结果，对静止卫星、低太阳同步轨道卫星和椭圆轨道卫星在太阳宁静和太...
列举了若干航天器因单粒子效应而出现的异常或故障。阐述了单粒子效应空间飞行试验方法和预估方法。总结了多颗航天器单粒子效应空间飞行试验结果。依据空间飞行试验结果，对静止卫星、低太阳同步轨道卫星和椭圆轨道卫星在太阳宁静和太阳耀斑期间单粒子效应作了比较。
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关键词
单粒子效应
空间飞行试验
航天器
抗辐射
加固
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职称材料
单粒子效应对航天器的威胁及空间飞行试验评论（二）
被引量：
2
4
作者
杨兆铭
《真空与低温》
1995年第2期101-108,共8页
列举了若干航天器因单粒子效应而出现的异常或故障。阐述了单粒子效应空间飞行试验方法和预估方法。总结了多颗航天器单粒子效应空间飞行试验结果。依据空间飞行试验结果，对静止卫星、低太阳同步轨道卫星和椭圆轨道卫星在太阳宁静和太...
列举了若干航天器因单粒子效应而出现的异常或故障。阐述了单粒子效应空间飞行试验方法和预估方法。总结了多颗航天器单粒子效应空间飞行试验结果。依据空间飞行试验结果，对静止卫星、低太阳同步轨道卫星和椭圆轨道卫星在太阳宁静和太阳耀斑期间单粒子效应作了比较。
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关键词
单粒子效应
航天器
空间飞行试验
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职称材料
SRAM型FPGA单粒子效应测试方法及试验验证
被引量：
6
5
作者
余永涛
陈煜海
+4 位作者
余俊杰
龙伊雯
罗军
王小强
罗宏伟
《航天器环境工程》
北大核心
2021年第5期534-540,共7页
针对空间用SRAM型FPGA器件抗单粒子效应性能全面测试评估的要求,研究内部不同资源电路结构的单粒子效应敏感性及测试方法,利用重离子加速器开展抗辐射加固SRAM型FPGA单粒子效应模拟辐照试验,对配置存储器、块存储器、触发器等敏感单元...
针对空间用SRAM型FPGA器件抗单粒子效应性能全面测试评估的要求,研究内部不同资源电路结构的单粒子效应敏感性及测试方法,利用重离子加速器开展抗辐射加固SRAM型FPGA单粒子效应模拟辐照试验,对配置存储器、块存储器、触发器等敏感单元的单粒子翻转、单粒子功能中断、单粒子锁定特性进行研究。试验结果表明,所提出测试方法能有效地覆盖测试SRAM型FPGA单粒子效应敏感资源,所测试抗辐射加固SRAM型FPGA器件具有良好的抗单粒子锁定性能,但对单粒子翻转和单粒子功能中断非常敏感,静态测试模式下对单粒子翻转更为敏感。有关测试方法和结果可以为SRAM型FPGA的单粒子效应评估及防护提供参考。
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关键词
现场可编程门阵列
单粒子效应
单粒子翻转
单粒子功能中断
单粒子锁定
重离子辐照试验
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职称材料
题名
亚微米LATCHUP测试分析实例
1
作者
郑若成
刘国贤
肖志强
机构
中国电子科技集团公司第
出处
《电子与封装》
2004年第1期47-51,46,共6页
文摘
关于LATCHUP理论目前相当丰富,但是关于LATCHUP的具体测试和分析文献很少介绍。本文讨论门亚微米工艺LATCHUP测试的一个例子。门的LATCHUP测试不属于常规PCM参数测试,但是在新工艺开发时,必须进行相关测试来确认设计规则。在这个例子里,作者进行LATCHUP测试和分析,最后得出相关结论。对于LATCHUP测试,不同工艺和不同测试结构在实际测试时可能会有些不同考虑,因此,希望该例子能给读者提供一些关于LATCHUP测试和分析的思路。
关键词
亚微米
latchup
测试结构
结构尺寸
触发测试.
结构设计
Keywords
latchup test
test
structure
Trigger
Structure Dimension
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN707 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
空间单粒子锁定效应研究
被引量：
10
2
作者
薛玉雄
杨生胜
陈罗婧
曹洲
把得东
安恒
郭刚
机构
兰州空间技术物理研究所真空低温技术与物理重点实验室
航天东方红卫星有限公司
中国原子能科学研究院核物理所
出处
《核技术》
CAS
CSCD
北大核心
2012年第9期692-697,共6页
基金
真空低温技术与物理重点实验室基金(9140C55020912OC5501)资助
文摘
空间辐射效应是影响器件空间性能的重要因素,特别是单粒子锁定现象一直是困扰CMOS器件在空间应用的一个难题。为此,文中分析了空间单粒子锁定效应机理、特点、模拟试验及检测方法,并选取典型空间用器件开展了单粒子锁定试验研究,在此基础上,结合试验数据分析给出了单粒子锁定防护方法、监测方法及建议,供相关技术人员参考。
关键词
CMOS器件
单粒子锁定
模拟试验
防护设计方法
Keywords
CMOS devices, Single-event
latchup
, Simulation
test
, Hardening design methods
分类号
TN406 [电子电信—微电子学与固体电子学]
原文传递
题名
单粒子效应对航天器的威胁及空间飞行试验评论（一）
被引量：
6
3
作者
杨兆铭
机构
兰州物理研究所
出处
《真空与低温》
1995年第1期46-58,共13页
文摘
列举了若干航天器因单粒子效应而出现的异常或故障。阐述了单粒子效应空间飞行试验方法和预估方法。总结了多颗航天器单粒子效应空间飞行试验结果。依据空间飞行试验结果，对静止卫星、低太阳同步轨道卫星和椭圆轨道卫星在太阳宁静和太阳耀斑期间单粒子效应作了比较。
关键词
单粒子效应
空间飞行试验
航天器
抗辐射
加固
Keywords
SEE(single event effect),SEU(single event upset),SE(single event
latchup
),Spaceflight
test
,Spacecraft radiation hardening.
分类号
V217 [航空宇航科学与技术—航空宇航推进理论与工程]
O571.2 [理学—粒子物理与原子核物理]
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职称材料
题名
单粒子效应对航天器的威胁及空间飞行试验评论（二）
被引量：
2
4
作者
杨兆铭
机构
兰州物理研究所
出处
《真空与低温》
1995年第2期101-108,共8页
文摘
列举了若干航天器因单粒子效应而出现的异常或故障。阐述了单粒子效应空间飞行试验方法和预估方法。总结了多颗航天器单粒子效应空间飞行试验结果。依据空间飞行试验结果，对静止卫星、低太阳同步轨道卫星和椭圆轨道卫星在太阳宁静和太阳耀斑期间单粒子效应作了比较。
关键词
单粒子效应
航天器
空间飞行试验
Keywords
SEE(single event effect ), SEU(single event upset), SEL(single event
latchup
),Spaceflight
test
s,Spacecraft radiation hardening.
分类号
V417 [航空宇航科学与技术—航空宇航推进理论与工程]
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职称材料
题名
SRAM型FPGA单粒子效应测试方法及试验验证
被引量：
6
5
作者
余永涛
陈煜海
余俊杰
龙伊雯
罗军
王小强
罗宏伟
机构
工业和信息化部电子第五研究所
出处
《航天器环境工程》
北大核心
2021年第5期534-540,共7页
基金
广东省重点领域研发计划项目(编号:2020B0404030005)。
文摘
针对空间用SRAM型FPGA器件抗单粒子效应性能全面测试评估的要求,研究内部不同资源电路结构的单粒子效应敏感性及测试方法,利用重离子加速器开展抗辐射加固SRAM型FPGA单粒子效应模拟辐照试验,对配置存储器、块存储器、触发器等敏感单元的单粒子翻转、单粒子功能中断、单粒子锁定特性进行研究。试验结果表明,所提出测试方法能有效地覆盖测试SRAM型FPGA单粒子效应敏感资源,所测试抗辐射加固SRAM型FPGA器件具有良好的抗单粒子锁定性能,但对单粒子翻转和单粒子功能中断非常敏感,静态测试模式下对单粒子翻转更为敏感。有关测试方法和结果可以为SRAM型FPGA的单粒子效应评估及防护提供参考。
关键词
现场可编程门阵列
单粒子效应
单粒子翻转
单粒子功能中断
单粒子锁定
重离子辐照试验
Keywords
FPGA
single event effects
single event upset
single event function interrupt
single event
latchup
heavy ion irradiation
test
分类号
O483 [理学—固体物理]
V416.5 [航空宇航科学与技术—航空宇航推进理论与工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
亚微米LATCHUP测试分析实例
郑若成
刘国贤
肖志强
《电子与封装》
2004
0
在线阅读
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职称材料
2
空间单粒子锁定效应研究
薛玉雄
杨生胜
陈罗婧
曹洲
把得东
安恒
郭刚
《核技术》
CAS
CSCD
北大核心
2012
10
原文传递
3
单粒子效应对航天器的威胁及空间飞行试验评论（一）
杨兆铭
《真空与低温》
1995
6
在线阅读
下载PDF
职称材料
4
单粒子效应对航天器的威胁及空间飞行试验评论（二）
杨兆铭
《真空与低温》
1995
2
在线阅读
下载PDF
职称材料
5
SRAM型FPGA单粒子效应测试方法及试验验证
余永涛
陈煜海
余俊杰
龙伊雯
罗军
王小强
罗宏伟
《航天器环境工程》
北大核心
2021
6
在线阅读
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职称材料
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