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HC08芯片JVT测试方法的探究
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作者 张磊 《电子测试》 2013年第11X期124-125,共2页
本文介绍了HC08芯片JVT测试的原理、测试过程和测试环境,详细介绍了在J750硬件平台,通过IG-XL软件,对HC08芯片进行JVT测试的流程。通过与传统的开路/短路测试的对比,介绍了JVT测试在保障测试的安全性、可靠性方面的重要作用,尤其是在检... 本文介绍了HC08芯片JVT测试的原理、测试过程和测试环境,详细介绍了在J750硬件平台,通过IG-XL软件,对HC08芯片进行JVT测试的流程。通过与传统的开路/短路测试的对比,介绍了JVT测试在保障测试的安全性、可靠性方面的重要作用,尤其是在检测芯片管脚的连接二极管的可靠性方面具有无可替代的优势。 展开更多
关键词 HC08 jvt测试 开路/短路测试
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