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镀金层识别及其厚度测定的X-荧光强度比值法 被引量：3
1
作者 郑荣华 黄近丹 +1 位作者 张文芳 李叶农 《分析测试学报》 CAS CSCD 1998年第5期16-19,共4页
利用Ａｕ原子在Ｘ射线激发下所发射的Ｌβ线和Ｍ线的强度比值识别样品是镀金还是Ｋ金，同时利用这个比值测定镀金层的厚度，镀金层厚度的测定范围为０～４μｍ，测定值与标定值的相对误差小于１５％。
关键词 镀金层 识别 厚度 黄金饰品 X射线荧光光谱
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