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关于《AlGaN基远紫外LED研究进展》的编者按
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作者 闫建昌 《照明工程学报》 2025年第5期I0001-I0001,共1页
AlGaN基半导体紫外发光二极管(LED)具有无汞环保、工作电压低、开关迅速、波长精确可调、轻便灵活、易于集成等优势,在疫情防控、水净化、光固化、无创光疗、非视距通讯等领域有着广阔的应用,代表着新一代紫外光源的发展趋势。其中,260~... AlGaN基半导体紫外发光二极管(LED)具有无汞环保、工作电压低、开关迅速、波长精确可调、轻便灵活、易于集成等优势,在疫情防控、水净化、光固化、无创光疗、非视距通讯等领域有着广阔的应用,代表着新一代紫外光源的发展趋势。其中,260~280nm波段的深紫外LED因能强效破坏核酸碱基和超快速灭活,在抗击Covid-2019疫情中倍受关注。该波段紫外光会穿透人体皮肤等组织,对人类细胞有一定损害风险。 展开更多
关键词 水净化 algan基半导体 光固化 疫情防控
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晶圆键合GaAs/InGaAs双结太阳电池 被引量:1
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作者 蒋卓宇 李娟 +2 位作者 孔祥力 代盼 孙强健 《半导体技术》 北大核心 2025年第4期365-371,共7页
为了避免直接外延生长引起晶格失配问题,利用晶圆键合技术开发了GaAs/InGaAs双结太阳电池。采用金属固态源分子束外延(MBE)生长方法,在GaAs衬底上生长GaAs顶电池,在InP衬底上生长InGaAs底电池。通过晶圆键合技术将这些子电池键合在一起... 为了避免直接外延生长引起晶格失配问题,利用晶圆键合技术开发了GaAs/InGaAs双结太阳电池。采用金属固态源分子束外延(MBE)生长方法,在GaAs衬底上生长GaAs顶电池,在InP衬底上生长InGaAs底电池。通过晶圆键合技术将这些子电池键合在一起,制备了晶圆键合GaAs/InGaAs双结太阳电池。测试结果显示,通过晶圆键合技术制备的双结太阳电池具有较低的电损耗,在聚光下获得了超过31.7%的光电转换效率。双结太阳电池的晶圆键合技术改善了常规直接材料生长方法因晶格失配造成的位错问题,可以更灵活地实现双结太阳电池的优化设计。 展开更多
关键词 分子束外延(MBE) ingaaS GAAS 晶圆键合 双结太阳电池
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AlGaN/GaN HEMT器件有效栅长和栅宽提取
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作者 吴淇暄 张贺秋 +4 位作者 朱江 宁思源 代晓 王子坤 梁红伟 《大连理工大学学报》 CAS 北大核心 2025年第1期105-110,共6页
有效栅长、有效栅宽和沟道电阻等AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)参数对于工艺控制和器件设计非常重要.基于AlGaN/GaN HEMT器件源漏之间的总电阻与栅长及栅宽的倒数之间的线性关系,提出了一种简单方法提取有效栅长和有效栅宽.制作了... 有效栅长、有效栅宽和沟道电阻等AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)参数对于工艺控制和器件设计非常重要.基于AlGaN/GaN HEMT器件源漏之间的总电阻与栅长及栅宽的倒数之间的线性关系,提出了一种简单方法提取有效栅长和有效栅宽.制作了两组AlGaN/GaN HEMT器件,这两组器件的源漏间距为80μm,栅源间距为10μm.其中一组器件固定栅宽为400μm,栅长分别为10、20、30、40、50、60μm;另一组器件固定栅长为40μm,栅宽分别为200、300、400、500、600、800μm.通过研究源漏之间的总电阻随栅长和栅宽变化规律,获得栅长与有效栅长的差值为0.48989μm,栅宽与有效栅宽的差值为-11.12191μm. 展开更多
关键词 algan/GAN高电子迁移率晶体管 器件参数 有效栅长 有效栅宽
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基于线阵InGaAs相机的亮环境下光伏电池板缺陷检测方法
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作者 徐晗 钱芸生 +2 位作者 张益军 郎怡政 黄益东 《应用光学》 北大核心 2025年第1期156-162,共7页
亮环境下太阳光容易淹没光伏电池板光致发光(photoluminescence,PL)现象的缺陷信息,使检测设备无法直接感知缺陷。针对此问题,提出了一种基于时域误差的检测方法,能够有效降低亮环境下太阳光的干扰。该方法利用快速PWM(pulse width modu... 亮环境下太阳光容易淹没光伏电池板光致发光(photoluminescence,PL)现象的缺陷信息,使检测设备无法直接感知缺陷。针对此问题,提出了一种基于时域误差的检测方法,能够有效降低亮环境下太阳光的干扰。该方法利用快速PWM(pulse width modulation)斩波恒流电源输出高频调制电流信号,驱动850 nm光源输出调制光激励光伏电池板,使用短波红外线阵InGaAs相机捕捉具有调制特性的图像序列,经现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)从图像序列中提取光伏电池板的缺陷信息。实验结果表明,该方法能够在2.9 lx~(12580±5)lx的照度范围内有效地检测缺陷图案信息,实现亮环境下光伏电池板的连续性缺陷检测。 展开更多
关键词 光致发光 线阵ingaas相机 亮环境 缺陷检测
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侧壁修复提升237 nm AlGaN基Micro-LED光功率密度研究
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作者 郝家龙 李宏博 +9 位作者 吕顺鹏 朱立财 孙文超 张若甲 刘钟旭 蒋科 贲建伟 张山丽 孙晓娟 黎大兵 《人工晶体学报》 北大核心 2025年第6期970-978,共9页
AlGaN基深紫外Micro-LED在无掩膜光刻、日盲紫外保密通信等领域具有重要应用前景。然而,侧壁效应和电流拥挤效应严重制约高电流密度下的光功率密度。本研究制备了发光波长237 nm,台面半径分别为12.5、25.0、50.0μm的深紫外Micro-LED,... AlGaN基深紫外Micro-LED在无掩膜光刻、日盲紫外保密通信等领域具有重要应用前景。然而,侧壁效应和电流拥挤效应严重制约高电流密度下的光功率密度。本研究制备了发光波长237 nm,台面半径分别为12.5、25.0、50.0μm的深紫外Micro-LED,并系统探究了侧壁修复对不同尺寸和不同阵列化Micro-LED的影响规律。研究发现,使用KOH修复侧壁可有效降低AlGaN基深紫外Micro-LED侧壁缺陷密度,减小反向漏电流密度,同时降低由侧壁缺陷导致的肖特基-里德-霍尔(SRH)非辐射复合。对于单台面器件,器件尺寸越小,最大光功率密度越高,但侧壁效应严重制约着小尺寸器件的光功率密度,导致小尺寸器件在低电流密度下光功率密度最低,侧壁修复后,半径12.5μm的器件峰值光功率密度提升最多,提升了186%,且在不同电流密度下光功率密度均最高;对于相同发光面积的阵列化器件,侧壁修复后,阵列化程度越高,光功率密度越高,4×4阵列12.5μm的Micro-LED比半径50.0μm的器件峰值光功率密度提高了116%,其原因是在保持较低侧壁缺陷的情况下,阵列化可以提高电流密度分布均匀性,进而提高光效。该研究有助于提高Micro-LED的光功率密度,并将推动短波深紫外Micro-LED走向实际应用。 展开更多
关键词 侧壁效应 电流拥挤效应 algan micro-LED 侧壁修复 阵列化工程
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基于XRD和PL光谱分析的InGaAs/GaAs量子阱生长温度依赖性研究
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作者 李博 马淑芳 +9 位作者 阳智 程睿思 刘思敏 王嘉惠 郝晓东 尚林 仇伯仓 董海亮 韩丹 许并社 《光谱学与光谱分析》 北大核心 2025年第6期1584-1591,共8页
InGaAs/GaAs多量子阱(MQWs)结构因其具有独特的量子限制效应和优异的光电性能,使其作为激光器的有源区在光通信和光电器件中具有广泛应用。在该结构中通过改变In组分来调控带隙宽度进而满足不同波长的需求,分子束外延(MBE)生长MQWs时可... InGaAs/GaAs多量子阱(MQWs)结构因其具有独特的量子限制效应和优异的光电性能,使其作为激光器的有源区在光通信和光电器件中具有广泛应用。在该结构中通过改变In组分来调控带隙宽度进而满足不同波长的需求,分子束外延(MBE)生长MQWs时可以高精度的控制材料的组分和厚度,从而优化光学性能。尽管InGaAs/GaAs MQWs在许多方面取得了进展,但在In组分较高的InGaAs量子阱中,由于晶格失配会导致位错产生,进而引发界面缺陷,影响材料的晶体质量和光学性能,所以通过MBE生长调控来提高晶体质量对改善光学性质极具意义。在MBE生长过程中,利用生长温度来优化生长动力学,进而调控原子在界面的迁移,尤其是In、Ga原子的迁移,对于提高InGaAs/GaAs MQWs的界面质量和晶体质量有着至关重要的作用。为了探究生长温度对MQWs晶体质量、界面质量和发光性能的影响,我们采用MBE方法分别在505和490℃下生长了两组InGaAs/GaAs MQWs样品,并使用高分辨率X射线衍射(HRXRD)、光致发光(PL)进行了晶体质量和光学性能表征分析。HRXRD结果表明,由于高温下生长有利于提高Ⅲ族原子动力学和原子扩散长度,使得生长工艺中In和Ga原子的迁移增加,这有利于原子在外延层表面找到能量较低的位置形核;因此,在505℃生长的MQWs样品的缺陷密度为1.02×10^(5) cm^(-2),较小,缺陷少应力小,具有较好的晶体质量和界面质量。此外,光致发光性能测试分析结果表明,在505℃生长的MQWs样品发光强度高,发光均匀性良好,并进一步证明其晶体质量优于490℃生长的样品。说明了合适的生长温度有利于提高InGaAs/GaAs MQWs的界面质量和光学性能。该工艺参数对MBE制备MQWs材料具有重要的参考意义。 展开更多
关键词 ingaas/GaAs多量子阱 MBE生长 高分辨率X射线衍射谱 光致发光谱
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基于等离子体氢化的PIN型InGaAs探测器性能研究
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作者 冯斌耀 乔辉 +4 位作者 于一榛 杨力怡 贺香荣 夏润泽 李雪 《红外与激光工程》 北大核心 2025年第8期64-73,共10页
等离子氢化技术能够在室温条件下改善材料的性能,因而该方法在基于化合物半导体材料的红外探测器中具有重要的应用前景。短波红外铟镓砷(InGaAs)探测器是一种重要的红外器件,具有室温高量子效率和高灵敏度的特点,因而能应用于广泛的领... 等离子氢化技术能够在室温条件下改善材料的性能,因而该方法在基于化合物半导体材料的红外探测器中具有重要的应用前景。短波红外铟镓砷(InGaAs)探测器是一种重要的红外器件,具有室温高量子效率和高灵敏度的特点,因而能应用于广泛的领域。暗电流是短波红外InGaAs探测器的重要性能参数,降低各偏压下的暗电流能够提升器件在不同应用场景下的探测能力。针对等离子氢化技术在PIN型InGaAs探测器中的应用开展了研究,并分析其与暗电流机制及噪声特性的关系。通过I-V测试结果发现InGaAs探测器经氢化后暗电流显著降低,在-1 V的较大偏压下暗电流密度均值从36.13 nA/cm^(2)降低到17.42 nA/cm^(2),在-0.02 V的近零偏条件下暗电流密度均值从6.54 nA/cm^(2)降低到2.44 nA/cm^(2),不同偏压下暗电流密均降低了2~3倍。进一步开展暗电流机制分析,发现扩散电流、产生-复合电流和分路电流都得到不同程度的抑制,0~-0.27 V的偏压范围内氢化前后都以扩散电流占主导,在大偏压下分路电流在氢化后的占比略有增加。由于InGaAs少子寿命经过氢化从10.7μs增加6倍到75.2μs,同时零偏电阻增大了1.75倍,因而探测器的暗噪声降低了约40%。因此,采用室温等离子体氢化处理能够对PIN型InGaAs探测器的暗电流和噪声进行改善,对InGaAs探测器在更高灵敏度的应用场景下具有重要的技术参考价值。 展开更多
关键词 铟镓砷 氢化 暗电流 暗噪声
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漏场板提升增强型AlGaN/GaN/AlGaN HEMT击穿电压的研究 被引量:1
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作者 周世刚 于永强 +2 位作者 夏元治 钱君涵 吴春艳 《合肥工业大学学报(自然科学版)》 北大核心 2025年第5期622-627,共6页
p-GaN帽层增强型AlGaN/GaN/AlGaN HEMT存在背势垒,因此可显著降低GaN缓冲层泄漏电流,提升器件击穿电压,但会面临漏极下方电场强度峰值集中的问题,导致击穿电压偏离。文章通过Silvaco ATLAS仿真,探讨漏场板结构和漏场板下钝化层厚度对p-... p-GaN帽层增强型AlGaN/GaN/AlGaN HEMT存在背势垒,因此可显著降低GaN缓冲层泄漏电流,提升器件击穿电压,但会面临漏极下方电场强度峰值集中的问题,导致击穿电压偏离。文章通过Silvaco ATLAS仿真,探讨漏场板结构和漏场板下钝化层厚度对p-GaN帽层增强型AlGaN/GaN/AlGaN HEMT器件击穿电压的调制,优化漏极下方电场强度峰值分布。结果表明:漏场板的引入可显著提升器件的击穿电压,漏场板厚度在0.10~1.10μm范围时,器件的击穿电压随着漏场板厚度增大而增大;随着漏场板下方钝化层厚度的增大,漏场板边缘下方的沟道电场强度峰值减小,漏极下方的沟道电场强度峰值增大,当漏场板下方钝化层厚度增厚至0.25μm时,沟道电场强度峰值最小,器件的击穿电压提升至1370 V,增幅达53.6%。研究发现,击穿电压的提升主要是由于漏场板的电场调制效应降低了电场强度峰值。 展开更多
关键词 p-GaN帽层增强型algan/GaN/algan HEMT 漏场板 钝化层 击穿电压 电场强度
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高密度平面型InGaAs焦平面像元耦合作用数学模型
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作者 杜爱博 于春蕾 +6 位作者 邵秀梅 于金瀛 宝鹏飞 陆劲速 杨波 朱宪亮 李雪 《红外与毫米波学报》 北大核心 2025年第4期496-502,共7页
InGaAs焦平面探测器的应用追求高密度、小中心距,中心距的减小加强了面阵像元间的相互耦合作用。本文通过制备不同规模5μm中心距InGaAs小面阵器件,研究高密度焦平面像元耦合作用,创新地引入矩阵方程描述各部分的暗电流贡献,构建像元耦... InGaAs焦平面探测器的应用追求高密度、小中心距,中心距的减小加强了面阵像元间的相互耦合作用。本文通过制备不同规模5μm中心距InGaAs小面阵器件,研究高密度焦平面像元耦合作用,创新地引入矩阵方程描述各部分的暗电流贡献,构建像元耦合数学模型,定量分析了耦合作用导致的暗电流贡献。结果表明,在-0.1V偏压下,面阵中反偏状态像元对邻近反偏状态像元的暗电流抑制程度为像元本底暗电流的21.39%;零偏状态像元对邻近反偏状态像元的暗电流增幅程度可达219.42%。利用高密度焦平面像元耦合模型,总结了像元耦合对暗电流的影响规律,为高密度InGaAs焦平面的暗电流研究提供了新的思路。 展开更多
关键词 铟镓砷 焦平面 5μm中心距 暗电流 像元耦合作用
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日盲紫外AlGaN光电阴极性能提升研究 被引量:1
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作者 陈冠宇 罗伟科 +3 位作者 梁帅 陈鑫龙 王艳 程奎 《光电子技术》 2025年第2期105-111,共7页
通过调节Al组分,可使AlGaN光电阴极在获得更高灵敏度的同时,更好地兼顾光电倍增管的日盲特性。通过优化高Al组分AlGaN材料生长工艺,实现了AlGaN型紫外光电倍增管阴极灵敏度和日盲特性的提升。优化了气流调制生长法的生长温度,抑制了晶... 通过调节Al组分,可使AlGaN光电阴极在获得更高灵敏度的同时,更好地兼顾光电倍增管的日盲特性。通过优化高Al组分AlGaN材料生长工艺,实现了AlGaN型紫外光电倍增管阴极灵敏度和日盲特性的提升。优化了气流调制生长法的生长温度,抑制了晶体生长过程中预反应的发生,减少了AlGaN晶体中的缺陷。采用Mg‑In共掺的方法,提高了Mg的掺杂效率。制备了基于AlGaN光电阴极的日盲紫外光电倍增管,进行了AlGaN光电阴极灵敏度和光谱响应曲线的测试。实验结果表明:通过AlGaN外延材料生长工艺及光电阴极制备工艺的优化,AlGaN光电阴极日盲性能和灵敏度取得显著提升,最终制备出产品的灵敏度达到45 mA/W@270 nm,且截止波长(峰值响应的50%)小于280 nm。 展开更多
关键词 光电阴极 日盲紫外 灵敏度 光谱
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InGaAs-Si基光电探测器异质集成技术研究进展
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作者 李宛励 周鑫 +5 位作者 孔繁林 陈庆敏 梁丕刚 舒域鑫 代千 宋海智 《激光技术》 北大核心 2025年第4期617-625,共9页
短波红外波段包含目标的多种光谱信息,具有良好的大气传输特性,是光电探测、激光通信等应用领域的重要波段之一。硅基光电子器件具有低功耗、高带宽等优势,但其光谱响应范围局限于可见光波段,难以直接进行短波红外波段的高响应度光电探... 短波红外波段包含目标的多种光谱信息,具有良好的大气传输特性,是光电探测、激光通信等应用领域的重要波段之一。硅基光电子器件具有低功耗、高带宽等优势,但其光谱响应范围局限于可见光波段,难以直接进行短波红外波段的高响应度光电探测,将具有较高短波红外波段吸收能力的铟镓砷(InGaAs)材料与硅(Si)材料进行光电集成、研制新型高灵敏度光电探测器件成为了当前研究的热点方向。光电集成技术作为超高速、低功耗、小型化的半导体光电器件核心技术,有力支撑了大数据、云计算、物联网等新一代信息技术实现跨越式发展。通过梳理光电集成技术的国内外研究发展历程、现状和趋势,聚焦于InGaAs-Si基光电探测器,分别对材料外延生长、倒装芯片集成、芯片/晶圆键合和其他新型光电集成技术进行讨论,分析了不同光电集成技术的特点、优势、不足及应用场景,并展望了未来光电集成技术的发展方向。 展开更多
关键词 集成光学 光电集成技术 异质异构集成 铟镓砷 硅基光电子 探测器
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InGaAs焦平面探测器可见光波长拓展技术
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作者 张圆圆 张夏琦 +4 位作者 任江 陈扬 张金龙 姚彬彬 刘琨 《电子工业专用设备》 2025年第5期46-48,58,共4页
研究了“减薄/腐蚀”厚度比例分配、腐蚀液优化、读出电路金属PAD保护、减反膜设计制备等技术,获得表面光亮、最终厚度3~6μm、对0.4~1.7μm光谱范围内可见光和短波红外光同时响应的焦平面探测器。器件性能测试结果表明,可实现0.4~1.7μ... 研究了“减薄/腐蚀”厚度比例分配、腐蚀液优化、读出电路金属PAD保护、减反膜设计制备等技术,获得表面光亮、最终厚度3~6μm、对0.4~1.7μm光谱范围内可见光和短波红外光同时响应的焦平面探测器。器件性能测试结果表明,可实现0.4~1.7μm波长的响应。 展开更多
关键词 ingaas焦平面 衬底移除 可见光波长
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基于AlGaN日盲火焰探测器的智能监测系统关键技术研究
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作者 王林林 李琦 《实验室检测》 2025年第16期7-9,共3页
目的 日盲紫外波段因大气层强烈吸收太阳辐射形成“日盲区”,为火焰探测提供了天然优势。本研究针对传统探测器误报率高的问题,提出双通道时空特征融合模型(DSFFM)。方法 通过卷积神经网络(CNN)提取紫外信号空间模式,结合长短期记忆网络... 目的 日盲紫外波段因大气层强烈吸收太阳辐射形成“日盲区”,为火焰探测提供了天然优势。本研究针对传统探测器误报率高的问题,提出双通道时空特征融合模型(DSFFM)。方法 通过卷积神经网络(CNN)提取紫外信号空间模式,结合长短期记忆网络(LSTM)捕捉时序动态,引入空间-时间双注意力机制动态分配特征权重,如近距离火焰的空间分布差异、远距离火焰的脉冲周期性等,为复杂环境下探测器的精准识别提供算法支持。结果 系统在强干扰环境下具备大于50m探测距离、小于100ms响应速度和720h稳定运行能力,为复杂工业场景提供了高可靠性火灾预警解决方案。结论 本研究通过硬件与智能算法的深度融合,有效突破了传统探测技术在复杂环境中的局限性,为智慧消防、矿山安全等领域提供了核心技术支撑。 展开更多
关键词 algan 日盲火焰检测 智能检测系统 关键技术 深度学习 双通道时空融合
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Numerical simulations on the photoelectric performance of AlGaN-based ultraviolet VCSELs with a slope-shaped p-type layer
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作者 WEN Xin-xin JIA Wei +4 位作者 ZHAI Guang-mei DONG Hai-liang ZHAO Chao LI Tian-bao XU Bing-she 《中国光学(中英文)》 北大核心 2025年第3期499-509,共11页
Owing to the low p-type doping efficiency in the hole injection layers(HILs)of GaN-based ultra-violet(UV)vertical-cavity surface-emitting laser(VCSEL),effective hole injection in multi-quantum wells(MQW)is not achieve... Owing to the low p-type doping efficiency in the hole injection layers(HILs)of GaN-based ultra-violet(UV)vertical-cavity surface-emitting laser(VCSEL),effective hole injection in multi-quantum wells(MQW)is not achieved,significantly limiting the photoelectric performance of UV VCSELs.We developed a slope-shaped HIL and an EBL structure in AlGaN-based UV VCSELs.In this study,by improving hole in-jection efficiency,the hole concentration in the HIL is increased,and the hole barrier at the electron barrier layer(EBL)/HIL interface is decreased.This minimises the hindering effect of hole injection.A mathematic-al model of this structure was established using a commercial software,photonic integrated circuit simulator in three-dimension(PICS3D).We conducted simulations and theoretical analyses of the band structure and carrier concentration.Introducing polarisation doping through the Al composition gradient in the HIL en-hanced the hole concentration,thereby improving the hole injection efficiency.Furthermore,modifying the EBL eliminated the abrupt potential barrier for holes at the HIL/EBL interface,smoothing the valence band.This improved the stimulated radiative recombination rate in the MQW,increasing the laser power.There-fore,the sloped p-type layer can enhance the optoelectronic performance of UV VCSELs. 展开更多
关键词 UV VCSEL algan polarisation doping electron barrier layer(EBL) hole injection efficiency
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基于超晶格结构的高电流密度增强型AlGaN/GaN HEMT
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作者 夏元治 吴春艳 +2 位作者 周世刚 钱君涵 于永强 《合肥工业大学学报(自然科学版)》 北大核心 2025年第10期1352-1356,共5页
凹槽栅是实现增强型AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(high electron mobility transistor,HEMT)的常见技术,但随着栅下AlGaN的刻蚀,极化效应减弱,二维电子气(two-dimensional electron gas,2DEG)浓度降低,电流密度显著降低。文章提出在凹... 凹槽栅是实现增强型AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(high electron mobility transistor,HEMT)的常见技术,但随着栅下AlGaN的刻蚀,极化效应减弱,二维电子气(two-dimensional electron gas,2DEG)浓度降低,电流密度显著降低。文章提出在凹槽栅金属-绝缘层-半导体(metal-insulator-semiconductor,MIS)结构栅下叠加4 nm GaN和1 nm AlN超晶格(superlattice,SL)结构,通过在AlGaN与GaN之间引入一层超晶格层、增加一层二维电子气沟道来提高电流密度,并利用Silvaco TCAD软件系统仿真凹槽深度、栅介质以及超晶格层对器件电流密度的影响。仿真结果表明:使用5 nm HfO_(2)栅介质层并增加一层超晶格层(4 nm GaN+1 nm AlN)的AlGaN/GaN SL-MISHEMT,阈值电压V_(th)为0.14 V,电流密度I_(ds)达到1014 mA/mm(V ds=10 V,V_(gs)=10 V);与常规AlGaN/GaN HEMT(V_(th)=-3.16 V)相比,器件阈值电压增加了3.28 V;与无超晶格层的AlGaN/GaN MISHEMT相比,电流密度提高了24%。 展开更多
关键词 algan/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT) 凹槽栅 超晶格(SL) 功率器件仿真
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栅极几何结构对MIS栅结构常关p-GaN/AlGaN/GaN HEMTs性能的影响
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作者 都继瑶 《沈阳理工大学学报》 CAS 2025年第1期72-77,共6页
高电子迁移率晶体管(high electron mobility transistors,HEMTs)具有高速开关和极高击穿电场等特性,在功率器件领域应用广泛。为提高HEMT器件性能,通过实验研究了栅极几何结构对具有金属/绝缘体/半导体(MIS)栅极结构的常关型p-GaN/AlGa... 高电子迁移率晶体管(high electron mobility transistors,HEMTs)具有高速开关和极高击穿电场等特性,在功率器件领域应用广泛。为提高HEMT器件性能,通过实验研究了栅极几何结构对具有金属/绝缘体/半导体(MIS)栅极结构的常关型p-GaN/AlGaN/GaN HEMTs性能的影响。栅极介质层采用5 nm厚的原位生长AlN,AlN/p-GaN界面呈现出更明显的能带弯曲和更宽的耗尽区,有利于阈值电压向正向偏移,且其相对较宽的能带错位有助于抑制栅极电流。实验结果表明:与栅极非覆盖区长度为0μm和6μm的MIS栅极相比,非覆盖区长度为3μm的MIS栅极可提高器件综合性能,有效抑制正向栅极电流,将阈值电压提高至3 V,并较好地保持电流密度为46 mA/mm;栅极结构中两侧没有栅极覆盖的区域在导通过程和导通状态下均可引起较大的沟道电阻,且沟道电阻随着非覆盖区长度增加而上升。 展开更多
关键词 p-GaN/algan/GaN异质结 AlN介质层 常关型器件 金属/绝缘体/半导体 栅极非覆盖区
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Au敏感膜与栅极凹槽对AlGaN/GaN HEMT pH传感器的性能影响研究
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作者 王利强 敖金平 《科学技术创新》 2025年第21期13-16,共4页
本文研究Au敏感膜与栅极凹槽对AlGaN/GaN HEMT pH传感器的性能影响。栅极凹槽不仅将pH传感器在V_(DS)为1 V时的电流灵敏度从61.19μA/pH增加到286.0μA/pH,而且效率也从32.4 mA/(pH·W)提高至98.3 mA/(pH·W)。但是V_(DS)过大... 本文研究Au敏感膜与栅极凹槽对AlGaN/GaN HEMT pH传感器的性能影响。栅极凹槽不仅将pH传感器在V_(DS)为1 V时的电流灵敏度从61.19μA/pH增加到286.0μA/pH,而且效率也从32.4 mA/(pH·W)提高至98.3 mA/(pH·W)。但是V_(DS)过大会降低效率,消耗更多的功耗。Au作为pH敏感膜时,pH传感器(无凹槽和有凹槽)都具有良好的重复性,500次转移特性测试的ΔV_(REF)仅为25 mV左右。所以基于Au敏感膜凹槽pH传感器有着高电流灵敏度,高效率,以及低漂移的特性。 展开更多
关键词 algan/GaN HEMT pH传感器 Au敏感膜 凹槽 高灵敏度 高效率 低漂移
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Characterization of high-performance AlGaN-based solar-blind UV photodetectors
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作者 FU Yuting LIU Bing +2 位作者 ZHAN Jie ZHENG Fu SUN Zhaolan 《Optoelectronics Letters》 2025年第7期402-406,共5页
This study begins with the fabrication and simulation of high-performance back-illuminated AlGaN-based solar-blind ultraviolet(UV)photodetectors.Based on the photodetectors,a low-noise,high-gain UV detection system ci... This study begins with the fabrication and simulation of high-performance back-illuminated AlGaN-based solar-blind ultraviolet(UV)photodetectors.Based on the photodetectors,a low-noise,high-gain UV detection system circuit is designed and fabricated,enabling the detection,acquisition,and calibration of weak solar-blind UV signals.Experimental results demonstrate that under zero bias conditions,with a UV light power density of 3.45μW/cm^(2) at 260 nm,the sample achieves a peak responsivity(R)of 0.085 A·W^(−1),an external quantum efficiency(EQE)of 40.7%,and a detectivity(D^(*))of 7.46×10^(12) cm·Hz^(1/2)·W^(−1).The system exhibits a bandpass characteristic within the 240–280 nm wavelength range,coupled with a high signal-to-noise ratio(SNR)of 39.74 dB. 展开更多
关键词 high performance PHOTODETECTORS UV low noise solar blind ultraviolet high gain algan based
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Impact of epitaxial structural parameters on two-dimensional hole gas properties in p-GaN/AlGaN/GaN heterostructures
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作者 Fuzhou Wen Qianshu Wu +4 位作者 Jinwei Zhang Zhuoran Luo Senyuan Xu Hao Jiang Yang Liu 《Chinese Physics B》 2025年第7期510-517,共8页
Research on p-channel field-effect transistors(p-FETs)remains limited,primarily due to the significantly lower conductivity of the two-dimensional hole gas(2DHG)compared to the two-dimensional electron gas(2DEG)in n-c... Research on p-channel field-effect transistors(p-FETs)remains limited,primarily due to the significantly lower conductivity of the two-dimensional hole gas(2DHG)compared to the two-dimensional electron gas(2DEG)in n-channel field-effect transistors(n-FETs),which poses a significant challenge for monolithic integration.In this study,we investigate the impact of epitaxial structure parameters on 2DHG properties in p-Ga N/Al Ga N/Ga N heterostructures through semiconductor technology computer-aided design(TCAD)simulations and theoretical calculations,identifying the conditions necessary to achieve high-density 2DHG.Our simulations demonstrate that increasing the p-Ga N thickness leads to two critical thicknesses determined by surface states and acceptor ionization concentration:one corresponds to the onset of 2DHG formation,and the other to its saturation.Lowering the donor surface state energy level and increasing the acceptor ionization concentration promote 2DHG formation and saturation,although the saturated density remains independent of surface states.Additionally,a higher Al composition enhances intrinsic ionization due to stronger polarization effects,thereby increasing the 2DHG sheet density.Consequently,to achieve high-density 2DHG in p-Ga N/Al Ga N/Ga N heterostructures,it is essential to increase the Al composition,ensure that the p-Ga N thickness exceeds the critical thickness for 2DHG saturation,and maximize the acceptor ionization concentration.This study elucidates the impact of epitaxial structure parameters on 2DHG properties in p-Ga N/Al Ga N/Ga N heterostructures and provides valuable guidance for the optimization of p-FET designs. 展开更多
关键词 p-GaN/algan/GaN heterostructures 2DHG surface states acceptor doping
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不同光敏元尺寸对InGaAs探测器光电流的影响
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作者 黄郑东 《应用物理》 2025年第5期405-412,共8页
InGaAs光电探测器因其优异的短波红外响应特性、低暗电流和高响应度,在红外成像、激光通信和光谱检测等领域具有广泛应用。光敏元作为探测器的核心结构,其面积大小不仅影响光通量的吸收效率,还关系到器件的空间分辨率和光电性能。然而,... InGaAs光电探测器因其优异的短波红外响应特性、低暗电流和高响应度,在红外成像、激光通信和光谱检测等领域具有广泛应用。光敏元作为探测器的核心结构,其面积大小不仅影响光通量的吸收效率,还关系到器件的空间分辨率和光电性能。然而,光敏元面积对光电流特性的具体影响规律仍需系统实验验证。为此,本文设计并制备了光敏元面积从30 × 30 μm2至500 × 500 μm2的InGaAs探测器样品,测试并分析了其在暗态和光照条件下的电流–电压(I-V)特性。结果表明,随着光敏面积的增加,光电流呈明显增强趋势,且I-V曲线形状保持一致,反映出材料制程的一致性。在暗态下,暗电流随光敏元面积的增大而增大,但单位面积暗电流密度基本稳定,说明其主要来源为体电流。在光照条件下,不同面积器件的光电流接近线性增长,验证了光敏面积对光响应能力的直接影响。研究结果为InGaAs光电探测器在高分辨率与多像元集成应用中的结构设计提供了重要参考。This InGaAs photodetector, with its excellent short-wavelength infrared response, low dark current, and high responsivity, has been widely applied in infrared imaging, laser communication, and spectral detection. As the core structure of the detector, the area of the photosensitive element not only affects the efficiency of light flux absorption but also relates closely to the spatial resolution and photoelectric performance of the device. However, the specific influence of the photosensitive area on photocurrent characteristics still requires systematic experimental verification. To this end, this study designs and fabricates InGaAs detector samples with photosensitive areas ranging from 30 × 30 μm2 to 500 × 500 μm2, and investigates their current-voltage (I-V) characteristics under both dark and illuminated conditions. The results show that as the photosensitive area increases, the photocurrent exhibits a significant rising trend, while the overall I-V curve shape remains consistent, reflecting the uniformity of the material fabrication process. Under dark conditions, the dark current increases with the photosensitive area, but the dark current density per unit area remains nearly constant, indicating that the primary source is bulk current. Under illumination, the photocurrent of devices with different areas increases nearly linearly, confirming the direct impact of the photosensitive area on light response capability. These findings provide valuable reference for structural design in high-resolution and multi-pixel integrated applications of InGaAs photodetectors. 展开更多
关键词 ingaas光电探测器 光敏元 光电流 电流–电压特性
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