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利用FE-SEM分析Al-Si-Mg系和Al-Mg-Si系合金中Mg_2Si沉淀相
被引量:
3
1
作者
李建国
谭红艳
+1 位作者
史子木
何迁
《中国有色金属学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第10期1819-1824,共6页
以Al-Si-Mg系的A356合金和Al-Mg-Si系的6061合金中的Mg2Si沉淀相为研究对象,通过场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)的In-lens探头及低电压模式,分析Mg2Si沉淀相的析出情况及其表面形貌。结果表明:在低电压模式及In-lens探头双重条件下,可获...
以Al-Si-Mg系的A356合金和Al-Mg-Si系的6061合金中的Mg2Si沉淀相为研究对象,通过场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)的In-lens探头及低电压模式,分析Mg2Si沉淀相的析出情况及其表面形貌。结果表明:在低电压模式及In-lens探头双重条件下,可获得较好分辨率的Mg2Si沉淀相表面立体显微形貌;通过透射电子显微镜衍射分析发现在扫描电子显微镜中观察到的相确实为Mg2Si沉淀相。这种分析方法能够清晰观察到Mg2Si沉淀相的普遍析出情况。
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关键词
AL-SI-MG合金
AL-MG-SI合金
Mg2Si沉淀相
FE-SEM
in-lens
探头
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职称材料
扫描电子显微镜成像模式在金属材料研究中的选用
被引量:
7
2
作者
杨显
胡建军
+3 位作者
郭宁
何川
张雨晴
王静
《重庆理工大学学报(自然科学)》
CAS
北大核心
2018年第7期132-137,共6页
介绍了扫描电子显微镜的电子成像原理、特点及常见的3种信号探测器,分析了扫描电子显微镜成像技术中二次电子(SE)和背散射电子(BSE)信号与金属材料表面形貌、原子序数及晶体取向信息的表征关系。以经电子束表面处理不锈钢的熔坑、退火...
介绍了扫描电子显微镜的电子成像原理、特点及常见的3种信号探测器,分析了扫描电子显微镜成像技术中二次电子(SE)和背散射电子(BSE)信号与金属材料表面形貌、原子序数及晶体取向信息的表征关系。以经电子束表面处理不锈钢的熔坑、退火态球墨铸铁组织表征以及热扩渗40Cr钢渗层组织研究为例,详细阐述了普通SE、高分辨二次电子(In-Lens)及BSE三种成像模式在金属材料研究中的应用特点及选用。
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关键词
扫描电子显微镜
成像模式
金属材料
二次电子
in-lens
背散射电子
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职称材料
题名
利用FE-SEM分析Al-Si-Mg系和Al-Mg-Si系合金中Mg_2Si沉淀相
被引量:
3
1
作者
李建国
谭红艳
史子木
何迁
机构
清华大学材料科学与工程系
出处
《中国有色金属学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第10期1819-1824,共6页
文摘
以Al-Si-Mg系的A356合金和Al-Mg-Si系的6061合金中的Mg2Si沉淀相为研究对象,通过场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)的In-lens探头及低电压模式,分析Mg2Si沉淀相的析出情况及其表面形貌。结果表明:在低电压模式及In-lens探头双重条件下,可获得较好分辨率的Mg2Si沉淀相表面立体显微形貌;通过透射电子显微镜衍射分析发现在扫描电子显微镜中观察到的相确实为Mg2Si沉淀相。这种分析方法能够清晰观察到Mg2Si沉淀相的普遍析出情况。
关键词
AL-SI-MG合金
AL-MG-SI合金
Mg2Si沉淀相
FE-SEM
in-lens
探头
Keywords
Al-Si-Mg alloys
Al-Mg-Si alloys
Mg2Si precipitates
FE-SEM
in-lens
detector
分类号
TG146.2 [金属学及工艺—金属材料]
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职称材料
题名
扫描电子显微镜成像模式在金属材料研究中的选用
被引量:
7
2
作者
杨显
胡建军
郭宁
何川
张雨晴
王静
机构
重庆理工大学材料科学与工程学院
模具技术重庆市高校市级重点实验室
西南大学材料与能源学部
出处
《重庆理工大学学报(自然科学)》
CAS
北大核心
2018年第7期132-137,共6页
基金
国家自然科学基金资助项目(51575073)
国家国际合作专项(2015DFR70480)
+2 种基金
重庆市科委资助项目(cstc2014gjhz70003
cstc2017jcyj BX0031)
重庆高校创新团队建设计划资助项目(CXTDG20162017)
文摘
介绍了扫描电子显微镜的电子成像原理、特点及常见的3种信号探测器,分析了扫描电子显微镜成像技术中二次电子(SE)和背散射电子(BSE)信号与金属材料表面形貌、原子序数及晶体取向信息的表征关系。以经电子束表面处理不锈钢的熔坑、退火态球墨铸铁组织表征以及热扩渗40Cr钢渗层组织研究为例,详细阐述了普通SE、高分辨二次电子(In-Lens)及BSE三种成像模式在金属材料研究中的应用特点及选用。
关键词
扫描电子显微镜
成像模式
金属材料
二次电子
in-lens
背散射电子
Keywords
Scanning Electron Microscope (SEM)
imaging mode
metal material
secondaryelectrons
in-lens
backscattered electrons
分类号
TN16 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
利用FE-SEM分析Al-Si-Mg系和Al-Mg-Si系合金中Mg_2Si沉淀相
李建国
谭红艳
史子木
何迁
《中国有色金属学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008
3
在线阅读
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职称材料
2
扫描电子显微镜成像模式在金属材料研究中的选用
杨显
胡建军
郭宁
何川
张雨晴
王静
《重庆理工大学学报(自然科学)》
CAS
北大核心
2018
7
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职称材料
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