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数模混合信号测试总线——IEEE P1149.4 被引量：3
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作者 胡政 温熙森 杨拥民 《微电子测试》 1997年第2期40-43,共4页
为了解决模拟和数模混合电路芯片可测性设计问题,IEEE成立了IEEE P1149.4工作组。本文介绍了IEEE P1149.4数模混合信号测试总线的基本结构,以及应用该总线对模拟器件进行测试的方法。
关键词 VLSI 可测性 总线 ieeep11k49.4
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