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题名基于JTAG标准的边界扫描在通用CPU中的设计
被引量：3
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作者
鲁巍
杨修涛
李晓维
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机构
中国科学院计算技术研究所
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出处
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第19期30-31,87,共3页
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基金
中科院知识创新重大项目
国家"863"计划基金资助项目(2001AA111100)
+1 种基金
国家自然科学基金资助项目(69976002)
计算所领域前沿青年基金资助项目(20016280-18)
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文摘
剖析了JTAG标准的精髓,分析了其组成﹑功能与时序控制等关键技术,结合一款通用CPU的具体要求,给出了一种实现JTAG结构的具体方法,并介绍了其功能测试的方法。
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关键词
边界扫描
可测性设计
ieeei
149.1
标准(JTAG)
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Keywords
Boundary scan
Design for test (DFT)
IEEE Std. 1149.1(JTAG)
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分类号
TP302
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名用边界扫描技术检测非边扫器件
被引量：3
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作者
陈岩申
张波
李艳青
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机构
海军青岛雷达声纳修理厂
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出处
《舰船电子工程》
2012年第11期118-120,共3页
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文摘
现代电路板越来越复杂,电路节点的物理访问难度也越来越大,传统的ICT在线检测技术和ATE自动测试技术难以满足故障检测和诊断要求,边界扫描技术已成为解决上述问题的有效手段。利用边界扫描技术不但可以检测电路板中的边扫器件,还可以实现通过编写宏语言对非边扫器件进行检测。
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关键词
电路板
边界扫描
非边扫器件
ieeei149
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Keywords
circuit board, boundary-scan, non-boundary-scan devices, IEEE1149
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分类号
TN402
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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