-
题名系统芯片测试策略--IEEE P1500
被引量：2
- 1
-
-
作者
陈新武
马建中
-
机构
华中科技大学图像识别与人工智能研究所
信阳师范学院物理电子工程学院
-
出处
《计算机测量与控制》
CSCD
2005年第2期113-115,共3页
-
文摘
IEEEP1500标准旨在增强嵌入式核应用商和提供商之间的交流,为SOC的测试确定标准,以确保系统芯片的快速上市,降低芯片的开发周期和开发成本。从IEEEP1500标准的目的与意义、该标准定义的系统结构、标准的制订原则、测试的实现方式等角度对该标准进行详细的剖析,指出了该标准目前的进展状况和存在的问题,以及该标准与其他相关协议之间的关系。
-
关键词
集成电路
系统芯片
测试策略
ieee
p1500
-
Keywords
SOC
ieee p1500
embedded core
-
分类号
TN406
[电子电信—微电子学与固体电子学]
-
-
题名基于SOC测试的IEEE P1500
被引量：1
- 2
-
-
作者
何仑
杨松华
-
机构
上海大学微电子中心
-
出处
《微计算机信息》
北大核心
2005年第06Z期53-55,共3页
-
文摘
随着集成电路技术的飞速发展以及SOC系统的出现,电路的测试难度在不断增大,严重制约了SOC技术的发展,文中从SOC可测性设计出发全面介绍IEEEP1500,通过研究对比当前适用于SOC领域的测试方法,着重讨论了其在SOC测试方面应用的优点和不足。
-
关键词
SOC
可测性设计
ieee
p1500
-
Keywords
SOC, design for test, ieee p1500
-
分类号
TN406
[电子电信—微电子学与固体电子学]
-
-
题名一种基于嵌入式IP内核模块的测试方法
被引量：1
- 3
-
-
作者
须文波
黄俊
-
机构
江南大学信息工程学院
-
出处
《电子工业专用设备》
2005年第6期54-56,66,共4页
-
文摘
嵌入式内核结构的测试正面临着新的挑战,需要提出有效的测试方法。针对IP内核模块测试所面临的技术难点,详细介绍了IP核模块实现测试所需要构建的硬件环境和完整的测试方法,并分析了由测试理论和方法而形成的国际公认标准IEEEP1500。
-
关键词
系统级芯片
知识产权(IP)
内核测试标准
-
Keywords
System-on-chip(SoC)
Intellectual Property(IP)
ieee p1500
-
分类号
TN307
[电子电信—物理电子学]
-
-
题名基于IP设计的系统芯片测试策略
- 4
-
-
作者
陈新武
罗浩
-
机构
信阳师范学院物理电子工程学院
-
出处
《计算机与数字工程》
2005年第6期12-14,94,共4页
-
基金
国家自然科学基金资助项目(编号:90207020)
-
文摘
未来的系统芯片设计将基于IP设计,为了加强嵌入式核应用商和提供商之间的交流,确保系统芯片的快速上市,降低芯片的开发周期和开发成本,IEEE提出了P1500标准。从基于IP设计系统芯片的角度,对IEEEP1500标准的目的与意义、该标准定义的系统结构、标准的制订原则、测试的实现方式等角度对该标准进行详细的剖析,指出了该标准目前的进展状况和存在的问题,以及该标准与其他相关协议之间的关系。
-
关键词
系统芯片ieee
p1500
IP核
-
Keywords
SOC, ieee p1500,IP Core
-
分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
-
