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题名利用IDDQ技术测试CMOS器件
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作者
朱恒静
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机构
航天
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出处
《国外电子测量技术》
2001年第z1期36-37,43,共3页
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文摘
早在1960年,IC制造者利用I_(DDQ)技术测试器件是否存在功耗过大的问题。现在,I_(DDQ)成为CMOS电路故障检测的重要项目,已广泛用于测试功能测试所不能发现的制造过程所产生的故障。I_(DDQ)和功能测试相结合,可大大改善故障覆盖率,提高测试的有效性。
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关键词
iddq测试
缺陷
故障
功能测试
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Keywords
iddq,defect, default, function test.
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分类号
TM930.12
[电气工程—电力电子与电力传动]
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