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高重频激光冲击波对3ωHfO_(2)/SiO_(2)高反膜抗激光损伤性能的影响
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作者 周欣燕 朱千存 +1 位作者 陈雷清 刘文文 《温州大学学报(自然科学版)》 2025年第2期18-25,共8页
电子束蒸发沉积的光学薄膜是紫外高功率激光系统中的重要元件之一,但其较低的抗激光损伤性能一直是限制紫外高功率激光系统进一步发展的技术难点之一.为了提高电子束蒸发沉积的薄膜在紫外波段的抗激光损伤性能,将基于热力耦合作用的高... 电子束蒸发沉积的光学薄膜是紫外高功率激光系统中的重要元件之一,但其较低的抗激光损伤性能一直是限制紫外高功率激光系统进一步发展的技术难点之一.为了提高电子束蒸发沉积的薄膜在紫外波段的抗激光损伤性能,将基于热力耦合作用的高重频激光冲击技术作为一种全新的后处理手段作用于电子束蒸发沉积的薄膜上,探究高重频激光冲击后处理技术是否可以提升HfO_(2)/SiO_(2)高反膜在紫外波段的抗激光损伤性能.采用单脉冲方式对薄膜样品进行激光损伤测试,分析了经过与未经过高重频激光冲击后处理技术的薄膜样品的光学性能、零几率损伤阈值、损伤几率曲线及损伤形貌.结果表明:在不降低光学薄膜元件本身光学性能的前提下,基于热力耦合作用的高重频激光冲击后处理技术可以有效提升电子束蒸发沉积薄膜的抗激光损伤性能. 展开更多
关键词 hfo_(2)/sio_(2)高反膜 激光冲击波 高重频激光 后处理 抗激光损伤性能
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等离子体辅助沉积HfO_2/SiO_2减反、高反光学薄膜 被引量:3
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作者 付雄鹰 孔明东 +5 位作者 马平 邱服民 马道远 柴林 胡建平 李瑞洁 《光学技术》 CAS CSCD 1998年第3期91-93,共3页
本文报导了用等离子体辅助(Plasma-IAD)沉积技术沉积HfO2/SiO2减反及高反光学薄膜。在波长1064nm处,HfO2/SiO2减反膜透过率大于99.5%,HfO2/SiO2高反膜反射率大于99.5%。
关键词 减反膜 高反膜 光学 薄膜 IAD 氧化铪 氧化硅
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1064 nm和532 nm激光对HfO_(2)/SiO_(2)非规整高反膜的激光诱导损伤研究
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作者 邓小红 苏俊宏 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第8期617-622,共6页
规整膜系是常见的薄膜结构,但往往无法满足理想激光传输效果和仪器使用效果,由此在满足激光系统及传输的窗口要求下,以规整膜系为设计基础优化得到非规整膜系,以获得良好的激光传输效果。采用电子束热蒸发法制备了HfO_(2)/SiO_(2)非规... 规整膜系是常见的薄膜结构,但往往无法满足理想激光传输效果和仪器使用效果,由此在满足激光系统及传输的窗口要求下,以规整膜系为设计基础优化得到非规整膜系,以获得良好的激光传输效果。采用电子束热蒸发法制备了HfO_(2)/SiO_(2)非规整高反射率薄膜,该薄膜的激光诱导损伤分别通过1064 nm、10 ns脉冲和532 nm、10 ns脉冲进行测试。损伤形貌分别使用尼康L150光学显微镜和ZYGO白光干涉仪进行表征。对两种波长下的激光诱导损伤阈值和损伤形貌进行比较。得到以下结果:两种波长下激光诱导损伤的典型损伤形貌在低能量脉冲辐照下表现出凹坑,周围有一定面积的烧蚀区域,在高能量脉冲辐照下表现出材料分层现象;两个波长对薄膜损伤测试过程中,1064 nm激光损伤阈值为5.64 J/cm^(2),532 nm激光损伤阈值为1.54 J/cm^(2),损伤通常起始于电场的峰值附近;不同波长下损伤形貌可能与缺陷吸收引起的热应力有关,1064 nm损伤测试中损伤形貌近似圆形,532 nm损伤形貌不规则。分析可得以下结论:该薄膜于1064 nm激光下的薄膜抗激光损伤能力优于532nm激光;1064 nm和532 nm激光下损伤形貌均为凹陷状损伤;1064 nm激光下薄膜界面场强值和峰值场强均高于532 nm激光。 展开更多
关键词 hfo_(2)/sio_(2)非规整高反射率薄膜 激光诱导损伤 波长 损伤机理
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纳米尺度HfO_2薄膜不同厚度对光学性质的影响 被引量:1
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作者 张寅辉 任玲玲 +1 位作者 高慧芳 刘小萍 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第3期375-382,共8页
Hf O_2薄膜厚度达到纳米级别时,其光学性质会发生变化。光谱椭偏仪能够同时得到纳米尺度薄膜的厚度和光学常数,但是由于测量参数的关联性,光学常数的结果不准确可靠。本文采用溯源至SI单位的掠入射X射线反射技术对纳米尺度Hf O_2薄膜厚... Hf O_2薄膜厚度达到纳米级别时,其光学性质会发生变化。光谱椭偏仪能够同时得到纳米尺度薄膜的厚度和光学常数,但是由于测量参数的关联性,光学常数的结果不准确可靠。本文采用溯源至SI单位的掠入射X射线反射技术对纳米尺度Hf O_2薄膜厚度进行准确测量,再以该量值为准确薄膜厚度参考值。利用光谱椭偏仪测量Hf O_2膜厚和光学常数时,参考膜厚量值,从而得到对应相关膜厚的薄膜准确光学参数。研究了以Al2O_3作为薄膜缓冲层的名义值厚度分别为2,5,10 nm的超薄Hf O_2薄膜厚度对光学性质的影响。实验结果表明,随着Hf O_2薄膜厚度的增加,折射率也逐渐增大,在激光波长632.8 nm下其折射率分别为1.901,2.042,2.121,并且接近于体材料,而消光系数始终为0,表明纳米尺度Hf O_2薄膜在较宽的光谱范围内具有较好的增透作用,对光没有吸收。 展开更多
关键词 纳米尺度hfo 2薄膜 掠入射X射线反射技术 光谱椭偏 厚度和光学表征
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Damage characteristics of HfO_2/SiO_2 high reflector at 45° incidence in 1-on-1 and N-on-1 tests
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作者 刘晓凤 李大伟 +3 位作者 赵元安 李笑 凌秀兰 邵建达 《Chinese Optics Letters》 SCIE EI CAS CSCD 2010年第1期41-44,共4页
P-polarization high reflectors are deposited by e-beam from hafnia and silica. 1-on-1 and N-on-1 tests at 1064-nm wavelength with P-polarization at 45° incidence are carried out on these samples. Microscope and s... P-polarization high reflectors are deposited by e-beam from hafnia and silica. 1-on-1 and N-on-1 tests at 1064-nm wavelength with P-polarization at 45° incidence are carried out on these samples. Microscope and scanning electron microscope are applied to investigate the damage morphologies in both 1-on-1 and N-on^l tests. It is found that the laser damage threshold is higher in N-on-1 tests and nodular defect is the main inducement that leads to the damage because nodular ejection with plasma scalding is the typical damage morphology. Similar damage morphology observed in the two tests indicates that the higher laser damage threshold in N-on-1 test is attributed to the mechanical stabilization process of nodular defects, owing to the gradually increased laser fluence radiation. Based on the typical morphology study, some process optimizations are given. 展开更多
关键词 test incidence in 1-on-1 and N-on-1 tests Damage characteristics of hfo2/sio2 high reflector at 45 high
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Effects of water vapor in high vacuum chamber on the properties of HfO_2 films 被引量:2
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作者 凌波 贺洪波 邵建达 《Chinese Optics Letters》 SCIE EI CAS CSCD 2007年第8期487-489,共3页
The influence of water vapor content in high vacuum chamber during the coating process on physical properties of HfO2 films was investigated. Coatings were deposited on BK7 substrates by electron beam evaporation and ... The influence of water vapor content in high vacuum chamber during the coating process on physical properties of HfO2 films was investigated. Coatings were deposited on BK7 substrates by electron beam evaporation and photoelectric maximum control method. An in situ residual gas analyzer (RGA) was used to monitor the residual gas composition in the vacuum chamber. The optical properties, microstructure, absorption and laser-induced damage threshold (LIDT) of the samples were characterized by Lambda 900 spectrophotometer, X-ray diffraction (XRD), surface thermal lensing (STL) technique and 1064-nm Qswitched pulsed laser at a pulse duration of 12 ns respectively. It was found that a cold trap is an effective equipment to suppress water vapor in the vacuum chamber during the pumping process, and the coatings deposited in the vacuum atmosphere with relatively low water vapor composition show higher refractive index and smaller grain size. Meanwhile, the higher LIDT value is corresponding to lower absorbance. 展开更多
关键词 Effects of water vapor in high vacuum chamber on the properties of hfo2 films high
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Multiscale analysis of single- and multiple-pulse laser-induced damages in HfO_2/SiO_2 multilayer dielectric films at 532 nm 被引量:1
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作者 刘文文 魏朝阳 +1 位作者 易葵 邵建达 《Chinese Optics Letters》 SCIE EI CAS CSCD 2015年第9期53-57,共5页
Nanosecond single- and multiple-pulse laser damage studies on HfOffSiO2 high-reflection (HR) coatings are performed at 532 nm. For single-pulse irradiation, the damage is attributed to the defects and the electric i... Nanosecond single- and multiple-pulse laser damage studies on HfOffSiO2 high-reflection (HR) coatings are performed at 532 nm. For single-pulse irradiation, the damage is attributed to the defects and the electric intensity distribution in the multilayer thin films. When the defect density in the irradiated area is high, delami- nation is observed. Other than the 1064 nm laser damage, the plasma scalding of the 532 nm laser damage is not pits-centered for normal incidence, and the size of the plasma scalding has no relation to the defect density and position, but increases with the laser fluence. For multiple-pulse irradiations, some damage sites show deeper precursors than those from the single-shot irradiation due to the accumulation effects. The cumulative laser- induced damages behave as pits without the presence of plasma scalding, which is unaffected by the laser fluence and shot numbers. The damage morphologies and depth information both confirm the fatigue effect of a HfO2/SiO2 HR coating under 532 nm laser irradiation. 展开更多
关键词 Multiscale analysis of single and multiple-pulse laser-induced damages in hfo2/sio2 multilayer dielectric films at 532 nm
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电子束蒸发制备HfO_2高k薄膜的结构特性 被引量:18
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作者 阎志军 王印月 +1 位作者 徐闰 蒋最敏 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2004年第8期2771-2774,共4页
使用高真空电子束蒸发在p型Si(1 0 0 )衬底上制备了高kHfO2 薄膜 .俄歇电子能谱证实薄膜组分符合化学配比 ;x射线衍射测量表明刚沉积的薄膜是近非晶的 ,高温退火后发生部分晶化 ;原子力显微镜和扫描电子显微镜检测显示在高温退火前后薄... 使用高真空电子束蒸发在p型Si(1 0 0 )衬底上制备了高kHfO2 薄膜 .俄歇电子能谱证实薄膜组分符合化学配比 ;x射线衍射测量表明刚沉积的薄膜是近非晶的 ,高温退火后发生部分晶化 ;原子力显微镜和扫描电子显微镜检测显示在高温退火前后薄膜均具有相当平整的表面 ,表明薄膜具有优良的热稳定性 ;椭偏测得在 6 0 0nm处薄膜折射率为 2 0 9;电容 电压测试得到的薄膜介电常数为 1 9.这些特性表明高真空电子束蒸发是一种很有希望的制备作为栅介质的HfO2 展开更多
关键词 二氧化铪薄膜 电子束蒸发 高k薄膜 俄歇电子能谱 X射线衍射测量 薄膜折射率
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