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题名一款汽车电子用MCU失效分析与对策
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作者
王彬
赵志林
郭晶
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机构
智能汽车安全技术全国重点实验室
中科芯集成电路有限公司
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出处
《电子与封装》
2025年第4期77-83,共7页
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文摘
某车载电动尾门系统运行过程中,控制器直流电机运动时线缆产生的电磁辐射干扰到MCU芯片时钟路径,进一步引发内核Hardfault总线错误,导致运行故障,尾门无法到达指定位置。以MCU内核Hardfault异常为顶层事件建立故障树进行失效分析,成功定位了干扰源为直流电机线缆,干扰传播路径为空间辐射,干扰对象为MCU时钟路径,并通过故障场景复现验证了分析结果的正确性。最后从软、硬件角度提出了整改方法,对于电机运动控制系统的MCU失效分析与预防具有一定的参考借鉴价值。
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关键词
MCU
hardfault
电磁辐射
故障树分析
直流电机
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Keywords
MCU
hardfault
electromagnetic radiation
fault tree analysis
DC motor
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分类号
TN406
[电子电信—微电子学与固体电子学]
TP368.1
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
U463.61
[机械工程—车辆工程]
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