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GdI3：Ce晶体的生长及其闪烁性能研究
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作者 叶乐 史坚 +4 位作者 李焕英 陈晓峰 黄跃峰 徐家跃 任国浩 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2017年第4期346-350,共5页
通过坩埚下降法生长GdI_3:2%Ce及无掺杂GdI_3闪烁晶体,得到?15 mm×20 mm的晶体毛坯,从中加工出尺寸分别为12 mm×10 mm×2.5 mm和11 mm×8 mm×2.5 mm的无包裹体、无开裂的晶体样品,封装后检测该晶体光学性能。XR... 通过坩埚下降法生长GdI_3:2%Ce及无掺杂GdI_3闪烁晶体,得到?15 mm×20 mm的晶体毛坯,从中加工出尺寸分别为12 mm×10 mm×2.5 mm和11 mm×8 mm×2.5 mm的无包裹体、无开裂的晶体样品,封装后检测该晶体光学性能。XRD分析结果表明:掺杂晶体GdI_3:2%Ce与无掺杂GdI_3晶体结构相同。X射线激发发射(XEL)和紫外激发发射谱(PL)测试结果显示:GdI_3:2%Ce晶体在450~700 nm有宽带发光峰,发光峰位分别位于520 nm和550 nm,对应于Ce^(3+)的5d-4f跃迁发光。以550 nm为监控波长,测得在紫外激发下存在三个激发峰,分别位于262、335和440 nm。GdI_3:2%Ce晶体在137Cs源伽马射线(662 keV)激发下能量分辨率为3.4%,通过高斯拟合得到的衰减时间为58±3 ns。研究表明,GdI_3:2%Ce晶体是一种良好的伽马和中子探测材料,具有广泛的应用前景。 展开更多
关键词 gdi3:2%Ce晶体 坩埚下降法 闪烁性能
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