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用GSMBE法生长匹配型GaInAsP/InP材料及量子阱、面发射激光器结构的研究 被引量:2
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作者 林世鸣 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第5期339-343,共5页
本文报道通过在位组分调整,配合X射线双晶衍射测试和光致发光测试,生长了与InP精确匹配的GaInAsP(失配度达4×10-4).生长了GaInAs/InP量子阶结构的光致发光半峰宽达5.72meV.实验表明源炉挡... 本文报道通过在位组分调整,配合X射线双晶衍射测试和光致发光测试,生长了与InP精确匹配的GaInAsP(失配度达4×10-4).生长了GaInAs/InP量子阶结构的光致发光半峰宽达5.72meV.实验表明源炉挡板开启后生长速率是不均匀的,这对生长量子阶和DBR结构是个值得注意的问题,经考虑生长速率变化后生长的面发射激光器结构样片的反射率谱与理论计算的结果很好地相符. 展开更多
关键词 gainasp/INP 磷化铟 GSMBE法 生长 激光器 量子阱
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在n—InP(100)衬底上低温液相外延生长1.55μm GaInAsP双异质结构层的研究
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作者 邢启江 王舒民 +2 位作者 陈娓兮 章蓓 王若鹏 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1990年第4期324-328,332,共6页
在590℃温度下,不使用1.3μm GaInAsP 防回熔层,直接在 n-InP(100)衬底上液相外延生长出1.55μm InP/GaInAsP/InP 双异质结构外延片。对这种外延片的生长情况及其特性和 InP 衬底的热损伤情况,本文作了详细的分析和讨论。
关键词 gainasp 异质结构 液相外延 n-InP
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InP衬底上制备GaInAsP/GaInAs双结太阳电池的研究
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作者 张恒 刘如彬 +1 位作者 张启明 孙强 《电源技术》 CAS 北大核心 2024年第7期1375-1379,共5页
基于InP衬底的GaInAsP/GaInAs太阳电池是制备五至六结叠层太阳电池必需的低带隙子电池。采用MOCVD制备了与InP衬底晶格匹配的Ga_(0.47)In_(0.53)As三元材料和Ga_(0.16)In_(0.84)As_(0.3)P_(0.7)四元材料,禁带宽度分别为0.77和1.11 eV,... 基于InP衬底的GaInAsP/GaInAs太阳电池是制备五至六结叠层太阳电池必需的低带隙子电池。采用MOCVD制备了与InP衬底晶格匹配的Ga_(0.47)In_(0.53)As三元材料和Ga_(0.16)In_(0.84)As_(0.3)P_(0.7)四元材料,禁带宽度分别为0.77和1.11 eV,它们都具有较高的晶体质量。以此为有源层制备了GaInAsP/GaInAs双结叠层太阳电池,该双结太阳电池的开路电压为1.09V,光电转换效率为11.2%(AM0,25℃)。 展开更多
关键词 INP gainasp GAINAS 太阳电池 MOCVD
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Ga_xIn_(1-x)As/GaInAsP应变量子阱结构能带的计算 被引量:3
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作者 高少文 陈意桥 李爱珍 《功能材料与器件学报》 CAS CSCD 2002年第3期218-222,共5页
对含有Luttinger-Kohn哈密顿量的有效质量方程,利用S.L.Chuang提出的传递矩阵法,计算了量子阱中不同Ga组分的GaxIn1-xAs/GaInAsP应变量子阱结构的能带,该结构可被选作980nm光通信泵浦激光器的有源层。研究还得到了GaxIn1-xAs/GaInAsP双... 对含有Luttinger-Kohn哈密顿量的有效质量方程,利用S.L.Chuang提出的传递矩阵法,计算了量子阱中不同Ga组分的GaxIn1-xAs/GaInAsP应变量子阱结构的能带,该结构可被选作980nm光通信泵浦激光器的有源层。研究还得到了GaxIn1-xAs/GaInAsP双应变量子阱结构中电子和空穴的能级以及能级的色散关系。 展开更多
关键词 GaInAs/gainasp 应变量子阱 色散 能带 粒体激光器
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MOCVD生长InP/GaInAsP DBR结构及相关材料特性 被引量:2
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作者 蒋红 金亿鑫 +2 位作者 缪国庆 宋航 元光 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第6期632-636,共5页
采用金属有机化学气相沉积(MOCVD)法InP衬底上成功地制备了GaxIn1-xAsyP1-y/InP交替生长的分布布喇格反射镜(DBR)结构以及与之相关的四元合金GaxIn1-xAsyP1-y和InP外延层。利用X射线衍射、扫描电子显微镜(SEM)、低温光致发光(PL)光谱等... 采用金属有机化学气相沉积(MOCVD)法InP衬底上成功地制备了GaxIn1-xAsyP1-y/InP交替生长的分布布喇格反射镜(DBR)结构以及与之相关的四元合金GaxIn1-xAsyP1-y和InP外延层。利用X射线衍射、扫描电子显微镜(SEM)、低温光致发光(PL)光谱等测量手段对材料的物理特性进行了表征。结果表明,在InP衬底上生长的InP外延层和四元合金GaxIn1-xAsyP1-y外延层77K光致发光(PL)谱线半峰全宽(FWHM)分别为9.3meV和32meV,说明形成DBRs结构的交替层均具有良好的光学质量。X射线衍射测量结果表明,四元合金GaxIn1-xAsyP1-y外延层与InP衬底之间的相对晶格失配仅为1×10-3。GaxIn1-xAsyP1-y/InP交替生长的DBR结构每层膜的光学厚度约为λ/4n(λ=1.55/μm)。根据多层膜增反原理计算得出当膜的周期数为23时,反射率可达90%。 展开更多
关键词 金属有机化学气相沉积 MOCVD 半导体材料 磷化铟 磷砷铟镓 布喇格反射镜 X射线衍射 扫描电子显微镜 低温光致发光光谱 反射率 周期数
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超薄溶液LPE技术生长GaInAsP/InP超晶格的理论与实验
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作者 李洵 陈根祥 简水生 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第1期70-77,共8页
本文由有限厚度溶液及自由表面浓度和恒定表面浓度二种模型出发对LPE生长动力学过程进行了理论分析,并导出了实现薄层生长的参数控制条件,根据这一条件用LPE技术实际生长了GaInAsP/InP超晶格,570℃下用突冷法及... 本文由有限厚度溶液及自由表面浓度和恒定表面浓度二种模型出发对LPE生长动力学过程进行了理论分析,并导出了实现薄层生长的参数控制条件,根据这一条件用LPE技术实际生长了GaInAsP/InP超晶格,570℃下用突冷法及被压缩到200μm~500μm的薄层溶液在0.2s的驻留时间内分别重复长出了5nm(Ga0.40In0.60As0.89P0.11)和10nm(InP)的超晶格,证明了用重复推拉舟的LPE系统在一定的参数条件下可以生长MQW结构. 展开更多
关键词 液相外延 量子阱 超晶格 gainasp INP
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基于GaInAsP/InP材料的串联微环车比雪夫滤波器
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作者 董姗姗 齐雪 曹浩 《蚌埠学院学报》 2022年第5期49-53,共5页
采用3 dB耦合器将微环谐振器相互耦合,设计出一种新型的串联微环车比雪夫滤波器。与传统串联、并联微环滤波器结构相比,在相邻两个微环间设置了一个耦合角度,从而控制光信号在微环谐振器中的增益,通过调节环间耦合器的耦合系数,设计出... 采用3 dB耦合器将微环谐振器相互耦合,设计出一种新型的串联微环车比雪夫滤波器。与传统串联、并联微环滤波器结构相比,在相邻两个微环间设置了一个耦合角度,从而控制光信号在微环谐振器中的增益,通过调节环间耦合器的耦合系数,设计出一种输出光谱顶部平坦的微环滤波器。采用GaInAsP/InP材料设计微环,能够很好地利用该材料在1.55μm处低色散的特点。数值模拟表明:耦合系数的偏差率越大,通带的平坦性越差;环间耦合系数增大,通带的带宽加宽;微环与直波导间耦合系数的增大,通带由三个尖锐的谐振峰逐渐过渡为单一的谐振峰。 展开更多
关键词 集成光学 微环谐振器 gainasp/INP 光学滤波器
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Voltage reduction of 808 nm GaAsP/(Al)GaInP laser diodes with GaInAsP intermediate layer
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作者 朱振 张新 +2 位作者 李沛旭 王钢 徐现刚 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 2015年第1期105-107,共3页
Ga In As P layers and Ga As P/(Al) Ga In P laser diodes(LDs) have been grown on Ga As substrates by metalorganic chemical vapor deposition. The Ga In As P layer, which is lattice matched to Ga As, has an intermedi... Ga In As P layers and Ga As P/(Al) Ga In P laser diodes(LDs) have been grown on Ga As substrates by metalorganic chemical vapor deposition. The Ga In As P layer, which is lattice matched to Ga As, has an intermediate band gap between Ga0.5In0.5P and Ga As. The Ga In P/Ga As heterojunction spikes, especially in the valence band,can be suppressed by introducing this thin Ga In As P layer into the heterostructure interface. The 808 nm Ga As P/(Al)Ga In P LDs with Ga In As P intermediate layer show a reduced operating voltage compared to the conventional LDs with abrupt Ga In P/Ga As interface due to the enhanced hole injection. As a result, the power conversion efficiency is improved from 52% to 60% at 350 m W output power. At high current injection, the LD with Ga In As P intermediate layer has higher light power owing to the decreased joule heating. 展开更多
关键词 MOCVD gainasp layer heterojunction voltage reduction
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掺杂GaInAsP/InP LPE生长特性的计算机模拟与实验之比较
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作者 肖德元 郭康瑾 《科技通讯(上海)》 CSCD 1990年第3期47-50,共4页
关键词 掺杂 计算机模拟 生长 gainasp
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