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PCVD低水峰光纤的制备与性能 被引量:1
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作者 韩庆荣 谢康 +1 位作者 张树强 罗杰 《光通信技术》 CSCD 北大核心 2006年第5期56-58,共3页
介绍了PCVD低水峰光纤生产工艺和其材料组成、结构及性能,在生产普通单模光纤的基础上,通过优化PCVD工艺,成功抑制了普通单模光纤在1383nm由于羟基(OH)吸收造成的水峰损耗。光纤中功能梯度的芯层和光学包层、高纯均匀的机械包层和性能... 介绍了PCVD低水峰光纤生产工艺和其材料组成、结构及性能,在生产普通单模光纤的基础上,通过优化PCVD工艺,成功抑制了普通单模光纤在1383nm由于羟基(OH)吸收造成的水峰损耗。光纤中功能梯度的芯层和光学包层、高纯均匀的机械包层和性能优越的双层涂覆层,使PCVD低水峰光纤各项性能指标全面达到或优于最严格的ITU-TG.652.C/D和IEC60793-2-50B.1.3光纤标准要求。 展开更多
关键词 PcVd低水峰光纤 PcVd工艺 ITU-T g.652.c/d IEc 6079 3-2-50 B.1.3
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