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Random testing for system-level functional verification of system-on-chip 被引量:4
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作者 Ma Qinsheng Cao Yang +1 位作者 Yang Jun Wang Min 《Journal of Systems Engineering and Electronics》 SCIE EI CSCD 2009年第6期1378-1383,共6页
In order to deal with the limitations during the register transfer level verification, a new functional verification method based on the random testing for the system-level of system-on-chip is proposed.The validity o... In order to deal with the limitations during the register transfer level verification, a new functional verification method based on the random testing for the system-level of system-on-chip is proposed.The validity of this method is proven theoretically.Specifically, testcases are generated according to many approaches of randomization.Moreover, the testbench for the system-level verification according to the proposed method is designed by using advanced modeling language.Therefore, under the circumstances that the testbench generates testcases quickly, the hardware/software co-simulation and co-verification can be implemented and the hardware/software partitioning planning can be evaluated easily.The comparison method is put to use in the evaluation approach of the testing validity.The evaluation result indicates that the efficiency of the partition testing is better than that of the random testing only when one or more subdomains are covered over with the area of errors, although the efficiency of the random testing is generally better than that of the partition testing.The experimental result indicates that this method has a good performance in the functional coverage and the cost of testing and can discover the functional errors as soon as possible. 展开更多
关键词 vlsi circuit verification random process function TESTING SYSTEM-ON-chip system-level.
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VLSI设计中一种新型的功能验证方法 被引量:3
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作者 任宇 王以伍 《微计算机信息》 北大核心 2006年第12Z期285-287,共3页
本文在研究了传统的VLSI设计中采用的功能验证方法后,分析了各种方法的特点和不足之处。提出了一种新型的适合于大规模集成电路功能验证的新方法,详细介绍了这种功能验证方法的度量进度机制和验证完备性判断依据,并给出了这种新方法的... 本文在研究了传统的VLSI设计中采用的功能验证方法后,分析了各种方法的特点和不足之处。提出了一种新型的适合于大规模集成电路功能验证的新方法,详细介绍了这种功能验证方法的度量进度机制和验证完备性判断依据,并给出了这种新方法的操作流程和关键点。 展开更多
关键词 功能验证 vlsi asic 芯片
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FPGA硬核处理器系统加速数字电路功能验证的方法 被引量:5
3
作者 刘小强 袁国顺 乔树山 《电子与信息学报》 EI CSCD 北大核心 2019年第5期1251-1256,共6页
为了缩短专用集成电路和片上系统的功能验证周期,该文提出FPGA硬核处理器系统加速数字电路功能验证的方法。所提方法综合软件仿真功能验证和现场可编程门阵列原型验证的优点,利用集成在片上系统现场可编程门阵列器件中的硬核处理器系统... 为了缩短专用集成电路和片上系统的功能验证周期,该文提出FPGA硬核处理器系统加速数字电路功能验证的方法。所提方法综合软件仿真功能验证和现场可编程门阵列原型验证的优点,利用集成在片上系统现场可编程门阵列器件中的硬核处理器系统作为验证激励发生单元和功能验证覆盖率分析单元,解决了验证速度和灵活性不能统一的问题。与软件仿真验证相比,所提方法可以有效缩短数字电路的功能验证时间;在功能验证效率和验证知识产权可重用方面表现优于现有的FPGA原型验证技术。 展开更多
关键词 专用集成电路 功能验证 片上系统 FPGA原型验证 SoCFPGA
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