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一种有效的EEPLA的测试算法
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作者 张万鹏 童家榕 唐璞山 《计算机应用与软件》 CSCD 1999年第2期31-34,61,共5页
本文提出了一种硬件电路很少,故障覆盖率最高的EEPLA的测试算法。同其他测试算法相比,该方法可以对每一个交叉点进行编程控制。所有单一的或多重的交叉点故障、线电位固定在“1”(“0”)、桥连故障都可以测试到,且测试算法简单易行。
关键词 可编程逻辑阵列 测试算法 eepla
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