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基于NAND Flash的ECC校验
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作者 朱振麟 焦新泉 《电子器件》 2025年第5期1008-1012,共5页
针对NAND Flash在数据存储过程中出现的小几率“位错误”,对数据存储的可靠性带来很大影响的问题,提出基于汉明码的ECC数据检测及纠正算法,可以检测2 bit错误且检测并纠正1 bit错误。选用三星生产的K9WAG08U1A,该芯片一页容量为2 kbyte... 针对NAND Flash在数据存储过程中出现的小几率“位错误”,对数据存储的可靠性带来很大影响的问题,提出基于汉明码的ECC数据检测及纠正算法,可以检测2 bit错误且检测并纠正1 bit错误。选用三星生产的K9WAG08U1A,该芯片一页容量为2 kbyte,以一页为单位生成ECC校验码,增强可行性的同时可以实现1 bit/2 kbyte的纠错及2 bit/2 kbyte的检错能力。针对传统校验码生成速度慢,影响数据传输速率,提出校验码的预生成机制。测试结果表明,该算法可行性强,提高了数据传输的速率及可靠性。 展开更多
关键词 NAND Flash 小几率 ecc校验码 可靠性
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ECC技术在大容量智能Smart Media卡上的应用 被引量:1
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作者 史富强 林辉 《电子设计工程》 2009年第1期103-105,共3页
分析了Smart Media(SM)智能卡的使用现状,特别是大容量SM卡数据存储系统的关键技术问题。提出利用ECC编码技术在SM卡实现DOS文件系统的ECC编码,从而解决大容量SM卡在实际应用中的关键技术问题。
关键词 SMART Media(SM卡)/智能卡 大容量 错误检查和纠正编码(ecc) DOS文件系统
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Quad-Level Cell NAND Design and Soft-Bit Generation for Low-Density Parity-Check Decoding in System-Level Application
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作者 LIU Shijun ZOU Xuecheng WANG Baocun 《Wuhan University Journal of Natural Sciences》 CAS CSCD 2018年第1期70-78,共9页
QLC(Quad-Level Cell) NAND flash will be one of the future technologies for next generation memory chip after three-dimensional(3D) TLC(Triple-Level Cell) stacked NAND flash. In QLC device, data errors will easil... QLC(Quad-Level Cell) NAND flash will be one of the future technologies for next generation memory chip after three-dimensional(3D) TLC(Triple-Level Cell) stacked NAND flash. In QLC device, data errors will easily occur because of 2~4 data levels in the limited voltage range. This paper studies QLC NAND technology which is 4 bits per cell. QLC programming methods based on 16 voltage levels and reading method based on "half-change" Gray coding are researched. Because of the probable error impact of QLC NAND cell's voltage change, the solution of generating the soft information after XOR(exclusive OR) the soft bits by internal read mechanism is presented for Low-Density Parity-Check(LDPC) Belief Propagation(BP) decoding in QLC design for its system level application. 展开更多
关键词 QLC (Quad-Level Cell)NAND error-correcting codeecc Low-Density Parity-check (LDPC) Soft-Bit Generation
原文传递
分簇无线传感器网络中根校验全分集LDPC码设计与能效分析 被引量:4
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作者 郭锐 刘春于 +2 位作者 张华 包建荣 姜斌 《电子与信息学报》 EI CSCD 北大核心 2015年第7期1580-1585,共6页
高效的差错控制编码技术(ECC)可以增强无线传感器网络传输稳定性、网络的能量利用效率。为了充分利用无线传感器网络中蕴含的分集资源应对恶劣信道环境导致的高差错概率,该文研究了基于根校验全分集LDPC码的差错控制编码技术。首先,提... 高效的差错控制编码技术(ECC)可以增强无线传感器网络传输稳定性、网络的能量利用效率。为了充分利用无线传感器网络中蕴含的分集资源应对恶劣信道环境导致的高差错概率,该文研究了基于根校验全分集LDPC码的差错控制编码技术。首先,提出在分簇无线传感器网络中,基于根校验全分集LDPC码的编码方案;其次,设计了适用于所提方案的速率兼容全分集LDPC码字结构。最后,分析了所提编码系统的能效。仿真结果表明,在信道条件较差的环境中(仿真中,信道噪声大于44 10 m W-′),采用该文的编码方案,能够显著提高无线传感器网络的能效。 展开更多
关键词 无线传感器网络 差错控制编码 能效 全分集 低密度奇偶校验
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