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Defect Cluster-Induced X-Ray Diffuse Scattering in GaN Films Grown by MOCVD
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作者 马志芳 王玉田 +8 位作者 江德生 赵德刚 张书明 朱建军 刘宗顺 孙宝娟 段瑞飞 杨辉 梁骏吾 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第7期1242-1245,共4页
High-resolution X-ray diffraction has been employed to investigate the diffuse scattering in a (0001) oriented GaN epitaxial film grown on sapphire substrate. The analysis reveals that defect clusters are present in... High-resolution X-ray diffraction has been employed to investigate the diffuse scattering in a (0001) oriented GaN epitaxial film grown on sapphire substrate. The analysis reveals that defect clusters are present in GaN films and their concentration increases as the density of threading dislocations increases. Meanwhile, the mean radius of these defect clus- ters shows a reverse tendency. This result is explained by the effect of clusters preferentially forming around dislocations, which act as effective sinks for the segregation of point defects. The electric mobility is found to decrease as the cluster concentration increases. 展开更多
关键词 X-ray diffuse scattering GAN defect cluster
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Triggering in-plane defect cluster on MoS_(2) for accelerated dinitrogen electroreduction to ammonia 被引量:9
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作者 Wanru Liao Ke Xie +5 位作者 Lijuan Liu Xiuyun Wang Yu Luo Shijing Liang Fujian Liu Lilong Jiang 《Journal of Energy Chemistry》 SCIE EI CAS CSCD 2021年第11期359-366,I0008,共9页
Electrochemical nitrogen reduction reaction (eNRR) is an alternative promising manner for sustainable N2 fixation with low-emission. The major challenge for developing an efficient electrocatalyst is the cleaving of t... Electrochemical nitrogen reduction reaction (eNRR) is an alternative promising manner for sustainable N2 fixation with low-emission. The major challenge for developing an efficient electrocatalyst is the cleaving of the stable Ntriple bondN triple bonds. Herein, we design a new MoS_(2) with in-plane defect cluster through a bottom-up approach for the first time, where the defect cluster is composed of three adjacent S vacancies. The well-defined in-plane defect clusters could contribute to the strong chemical adsorption and activation towards inert nitrogen, achieving an excellent eNRR performance with an ammonia yield rate of 43.4 ± 3 μg h^(−1) mgcat.^(−1) and a Faradaic efficiency of 16.8 ± 2% at −0.3 V (vs. RHE). The performance is much higher than that of MoS_(2) with the edge defect. Isotopic labeling confirms that N atoms of produced NH4+ originate from N2. Furthermore, the in-plane defect clusters realized the alternate hydrogenation of nitrogen in a side-on way to synthesize ammonia. This work provides a prospecting strategy for fine-tuning in-plane defects in a catalyst, and also promotes the progress of eNRR. 展开更多
关键词 In-plane defect clusters Ammonia synthesis MoS_(2) ELECTROCATALYSIS Isotopic labeling
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Effect of vacancy defect clusters on the optical property of the aluminium filter used for the space solar telescope 被引量:4
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作者 程秀围 关庆丰 +1 位作者 范鲜红 陈波 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2010年第1期417-421,共5页
We investigate the microstructures of the pure aluminium foil and filter used on the space solar telescope, irradiated by photons with different doses. The vacancy defect clusters induced by proton irradiation in both... We investigate the microstructures of the pure aluminium foil and filter used on the space solar telescope, irradiated by photons with different doses. The vacancy defect clusters induced by proton irradiation in both samples are characterized by transmission electron microscopy, and the density and the size distribution of vacancy defect clusters are determined. Their transmittances are measured before and after irradiating the samples by protons with energy E = 100 keV and dose φ = 6 × 10^11/mm^2. Our experimental results show that the density and the size of vacancy defect clusters increase with the increase of irradiation doses in the irradiated pure aluminium foils. As irradiation dose increases, vacancies incline to form larger defect clusters. In the irradiated filter, a large number of banded void defects are observed at the agglomerate boundary, which results in the degradation of the optical and mechanical performances of the filter after proton irradiation. 展开更多
关键词 proton irradiation vacancy defect clusters aluminium filter optical performance
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Effects of O defects on adsorption of small Ag clusters on a MgO(001) surface 被引量:2
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作者 邓永和 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2010年第1期466-471,共6页
The interaction of Ag atoms with a defective MgO(001) surface is systematically studied based on density functional theory. The Ag clusters are deposited on neutral and charged oxygen vacancies of the MgO(001) sur... The interaction of Ag atoms with a defective MgO(001) surface is systematically studied based on density functional theory. The Ag clusters are deposited on neutral and charged oxygen vacancies of the MgO(001) surface. The structures of Ag clusters take the shape of simple models of two- or three-dimensional (2D and 3D) metal particles deposited on the MgO surface. When the nucleation of the metal clusters occurs in the Fs (missing neutral O) centre, the interaction with the substrate is considerably stronger than that in the Fs^+ (missing O-) centre. The results show that the adsorption of Ag atoms on the MgO surface with oxygcn vacancy is stronger than on a clear MgO surface, thereby attracting more Ag atoms to cluster together, and forming atomic islands. 展开更多
关键词 Mg0(001) surface density functional theory calculations O defects Ag clusters
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Clusters of Radiation Defects in Silicon Crystals
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作者 Hrant N. Yeritsyan Aram A. Sahakyan +3 位作者 Norair E. Grigoryan Vachagan V. Harutunyan Vahan A. Sahakyan Armenuhi A. Khachatryan 《Journal of Modern Physics》 2015年第9期1270-1276,共7页
While considerable progress has been achieved in radiation influence on the solid states, the quantitative assessment of defect production is very scarce. In this paper radiation defects studies in silicon crystals ar... While considerable progress has been achieved in radiation influence on the solid states, the quantitative assessment of defect production is very scarce. In this paper radiation defects studies in silicon crystals are briefly reviewed and comprehensively analyzed depending on irradiation energy and dose, paying special attention to electron irradiation in wide energy spectrum when crystal lattice disordered regions (clusters) occur. Electron irradiation, which is a simple way to introduce intrinsic defects, was used as one of the most powerful techniques to study point and cluster defects which affect properties of semiconductors depending on irradiation energy. Fundamental aspects of radiation induced defects are discussed and it is shown that they bring information on the threshold energy for atomic displacement, on the recombination of vacancy—interstitial pair and mainly, on radiation defects cluster formation which essentially influences on the irradiating material properties. The determination of the irradiation critical dose and energy for the formation of homogeneous disordered regions (clusters) are detailed. 展开更多
关键词 clusterS of RADIATION defectS Point RADIATION defectS IRRADIATION DOSE IRRADIATION Energy SEMICONDUCTORS Silicon
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缺陷团簇对Cu/W纳米多层膜辐照肿胀影响的分子动力学模拟研究
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作者 陈文 李敏 +3 位作者 付宝勤 陈暾 崔节超 侯氢 《四川大学学报(自然科学版)》 北大核心 2025年第4期931-939,共9页
纳米结构材料具有优异的抗辐照损伤性能,可以抑制辐照肿胀,但其潜在物理机制仍待深入研究.为此,本文采用分子动力学方法模拟对比研究了单晶Cu、单晶W和Cu/W纳米多层膜3种材料中空位和间隙型缺陷团簇对辐照肿胀的影响.模拟结果表明,相同... 纳米结构材料具有优异的抗辐照损伤性能,可以抑制辐照肿胀,但其潜在物理机制仍待深入研究.为此,本文采用分子动力学方法模拟对比研究了单晶Cu、单晶W和Cu/W纳米多层膜3种材料中空位和间隙型缺陷团簇对辐照肿胀的影响.模拟结果表明,相同缺陷浓度时,间隙团簇引起的3种材料体积肿胀差异较小.空位团簇则不同,Cu/W纳米多层膜中空位团簇导致的体积收缩程度与单晶Cu类似,但显著高于单晶W.此外,Cu/W异质界面作为优异的缺陷陷阱,能够有效捕获空位/间隙型缺陷,有效降低晶粒中缺陷浓度.上述效应协同作用,使得Cu/W纳米多层膜展现出优异的抗辐照肿胀性能. 展开更多
关键词 Cu/W纳米多层膜 分子动力学 缺陷团簇 辐照肿胀
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基于聚类算法的钢轨内部伤损检测与分类 被引量:1
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作者 吴福培 周旭 李昇平 《铁道学报》 北大核心 2025年第8期134-142,共9页
准确检测钢轨内部伤损对确保列车的运行安全具有重要意义。为提高钢轨内部伤损智能检测的学习能力,提出一种基于聚类算法的钢轨内部伤损检测与分类方法。首先,通过分析B型图像噪声特征提出基于游程编码的噪声去除方法,有效去除噪声并保... 准确检测钢轨内部伤损对确保列车的运行安全具有重要意义。为提高钢轨内部伤损智能检测的学习能力,提出一种基于聚类算法的钢轨内部伤损检测与分类方法。首先,通过分析B型图像噪声特征提出基于游程编码的噪声去除方法,有效去除噪声并保留关键信息。其次,基于轨头、轨腰、轨底三个区域常见伤损特征的分布规律,提出一种基于多维特征融合的聚类算法(CMF),以实现对钢轨内部伤损的准确分类。最后,由开发的伤损检测仪采集的76张钢轨B型图像进行伤损检测和分类,评估所提方法的准确性。实验结果表明,样品集所含的1554个伤损中,本文所提出方法的平均检测分类正确率为97.55%,漏检率为1.93%,其中轨头区域、轨腰区域和轨底区域的伤损检测正确率分别为99.03%、96.21%和97.99%,而对应漏检率分别为0.72%、2.79%和2.01%,实验结果验证了所提方法的有效性。 展开更多
关键词 钢轨内部伤损 缺陷检测 聚类算法 噪声去除
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基于机器视觉的电池模组极柱焊接缺陷检测
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作者 陈甦欣 姚俊杰 赵毅 《组合机床与自动化加工技术》 北大核心 2025年第5期136-139,144,共5页
为解决电池模组极柱焊接缺陷检测精度低、效率低的问题,提出了一种基于机器视觉的焊接缺陷检测算法。首先,对采集图像进行预处理操作;其次,通过组件筛选结合改进的Canny算法获取目标区域的无干扰边缘轮廓,为了改善拟合干扰现象,利用基... 为解决电池模组极柱焊接缺陷检测精度低、效率低的问题,提出了一种基于机器视觉的焊接缺陷检测算法。首先,对采集图像进行预处理操作;其次,通过组件筛选结合改进的Canny算法获取目标区域的无干扰边缘轮廓,为了改善拟合干扰现象,利用基于密度的聚类(density-based spatial clustering of applications with noise,DBSCAN)算法对焊接区域的内外圆边缘点集进行分离;然后,采用改进的最小二乘法对内外圆点集分别进行拟合得到精准的焊接区域;最后,以焊接区域内外圆的面积差和同心度来检测焊接面积缺陷和焊偏,通过双向扫面检测法进行焊接区域灰度值遍历,根据对应的灰度值范围和区域大小来检测焊穿和炸点缺陷。实验表明,该算法能够精确拟合焊接区域并准确识别出焊接缺陷,具有较高的检测精度和效率,能够满足工业生产需求。 展开更多
关键词 机器视觉 聚类 最小二乘法 圆拟合 缺陷检测
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基于谐波异常特征的配网电缆绝缘缺陷检测技术研究 被引量:2
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作者 王安哲 赵健康 +2 位作者 王昱力 王格 夏荣 《高电压技术》 北大核心 2025年第1期467-477,共11页
配网电缆因其复杂的运行环境和苛刻的停电检修要求,迫切需求准确有效的新型带电检测技术。为此以10 kV单芯电缆金属屏蔽层的感应电流作为研究对象,通过采用理论公式推导和建模仿真的方式,研究了感应电流中谐波畸变的演变规律、内含机理... 配网电缆因其复杂的运行环境和苛刻的停电检修要求,迫切需求准确有效的新型带电检测技术。为此以10 kV单芯电缆金属屏蔽层的感应电流作为研究对象,通过采用理论公式推导和建模仿真的方式,研究了感应电流中谐波畸变的演变规律、内含机理及其影响因素。仿真表明,绝缘缺陷位置的磁场畸变会引起金属屏蔽层中感应电流出现异常谐波分量,其成分为第3、5和7次谐波。进一步真型实验表明,谐波的主要成分与负荷电流、绝缘缺陷的类型以及绝缘材料的通流老化时间等因素相关,其中金属悬浮缺陷的3次谐波含量约为正常电缆的140.2%。最后,通过对实测谐波数据应用K-means聚类分析算法实现了配网电缆绝缘缺陷的有效分类。在导体电流为300 A时,水珠缺陷的识别率达84.09%,为实现绝缘缺陷及时预警和带电诊断提供了理论基础。 展开更多
关键词 电力电缆 谐波电流 磁场畸变 绝缘缺陷 聚类分析
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Defect engineering of rutile TiO_(2) ceramics:Route to high voltage stability of colossal permittivity 被引量:2
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作者 Yang Yu Yu Zhao +3 位作者 Yu-Long Qiao Yu Feng Wei-Li Li Wei-Dong Fei 《Journal of Materials Science & Technology》 SCIE EI CAS CSCD 2021年第25期10-15,共6页
Donor-acceptor co-doped rutile TiO_(2) ceramics with colossal permittivity(CP)have been extensively investigated in recent years due to their potential applications in modern microelectronics.In addition to CP and low... Donor-acceptor co-doped rutile TiO_(2) ceramics with colossal permittivity(CP)have been extensively investigated in recent years due to their potential applications in modern microelectronics.In addition to CP and low dielectric loss,voltage stability is an essential property for CP materials utilized in high-power and high-energy density storage devices.Unfortunately,the voltage stability of CP materials based on codoped TiO_(2) does not catch enough attention.Here,we propose a strategy to enhance the voltage stability of co-doped TiO_(2),where different ionic defect clusters are formed by two acceptor ions with different radii to localize free carriers and result in high performance CP materials.The(Ta+Al+La)co-doped TiO_(2) ceramic with suitable La/Al ratio exhibits colossal permittivity with excellent temperature stability as well as outstanding dc bias stability.The density functional theory analysis suggests that La^(3+)Al^(3+)V_(0)Ti^(3+)defect clusters and Ta^(5+)-Al^(3+)pairs are responsible for the excellent dielectric properties in(Ta+Al+La)co-doped TiO_(2).The results and mechanisms presented in this work open up a feasible route to design high performance CP materials via defect engineering. 展开更多
关键词 Colossal permittivity Co-doped TiO_(2) defect cluster Voltage stability
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改进相位相关与聚类思想的Micro-LED芯片显微图像拼接
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作者 林坚普 王廷雨 +6 位作者 蔡苾芃 张建豪 梅婷 林珊玲 林志贤 乐建避 吴朝兴 《光学精密工程》 北大核心 2025年第4期641-652,共12页
针对现有Micro-LED芯片的显微图像由于存在大量相似且整齐排列的LED而导致算法拼接速度慢及准确率低的问题,本文提出了一种基于聚类思想的Micro-LED芯片显微图像拼接方法。首先使用最大类间方差法对图像进行预处理,随后使用自适应面积... 针对现有Micro-LED芯片的显微图像由于存在大量相似且整齐排列的LED而导致算法拼接速度慢及准确率低的问题,本文提出了一种基于聚类思想的Micro-LED芯片显微图像拼接方法。首先使用最大类间方差法对图像进行预处理,随后使用自适应面积拓展相位相关算法对相邻两幅图像的重叠区域进行峰值计算以求得初步配准的偏移量,接着使用图像分块联合差异值哈希算法的优化配准策略得到优化后的偏移量,最后引入基于密度的噪声应用空间聚类对可能存在的错误偏移量进行自动筛出和处理。实验结果表明本文算法平均耗时为64 ms,满足拼接实时性的需求,拼接正确率达到99.4%,配准精度控制在1个pixel之内,融合处理后在主观上可以达到完美的拼接效果,为错误偏移量导致的整体错位问题也提供了新的解决思路。本文算法有效解决了晶圆级Micro-LED芯片检测中显微图像拼接的关键环节,并可推广应用于具有重复特征且高精度要求的其他机器视觉自动化领域,具有较高的实际工程应用价值。 展开更多
关键词 图像拼接 Micro-LED芯片显微图像 相位相关 差异值哈希 聚类思想 缺陷检测
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碳纤维聚氨酯夹芯板气孔敲击信号识别方法研究
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作者 谭昭胜 涂君 +2 位作者 张旭 陈涛 宋小春 《传感器与微系统》 北大核心 2025年第9期37-40,45,共5页
碳纤维聚氨酯(CFR-PU)夹芯板在冷藏行业中应用广泛,然而,这类产品在制作过程中容易形成聚氨酯层内气孔缺陷,直接影响其保温效果以及结构稳定性。采用敲击法实现气孔缺陷检测。由于常规K-means算法对多种振动信号的区分正确率很难超过50%... 碳纤维聚氨酯(CFR-PU)夹芯板在冷藏行业中应用广泛,然而,这类产品在制作过程中容易形成聚氨酯层内气孔缺陷,直接影响其保温效果以及结构稳定性。采用敲击法实现气孔缺陷检测。由于常规K-means算法对多种振动信号的区分正确率很难超过50%,所以提出一种带约束K-means算法,以实现缺陷的定位和定量。研究搭建了一种敲击检测系统,先针对盲测中存在的4种情况进行区分试验,接着对有效检测距离进行探究,最后对缺陷大小进行定量划分。在3类试验中,本文所提出的带约束K-means方法均表现良好,缺陷识别准确率相较于常规K-means方法最高可提升6.55倍。 展开更多
关键词 碳纤维聚氨酯夹芯板 气孔缺陷 敲击法 K-MEANS聚类
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基于动态联合加权的带钢表面缺陷分类方法
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作者 王亚 甘青松 +4 位作者 沈琦 宋余庆 刘毅 韩凯 刘哲 《计算机工程》 北大核心 2025年第6期286-296,共11页
带钢表面质量是衡量钢铁产品质量的重要指标之一,针对全流程表面缺陷进行分类研究,可以减少表面缺陷的发生,同时提升表面缺陷信息捕获的准确性。在实际生产过程中,带钢缺陷样本的精准类别标签往往难以获取,因此不依赖标签数据的无监督... 带钢表面质量是衡量钢铁产品质量的重要指标之一,针对全流程表面缺陷进行分类研究,可以减少表面缺陷的发生,同时提升表面缺陷信息捕获的准确性。在实际生产过程中,带钢缺陷样本的精准类别标签往往难以获取,因此不依赖标签数据的无监督分类方法逐渐成为研究热点。现有的传统机器学习无监督分类方法对噪声数据鲁棒性差,而基于深度学习的无监督方法对数据量依赖性较强。为此,将传统的机器学习算法和深度学习算法相结合,提出一种无监督动态加权联合的带钢表面缺陷分类(DWJC)方法。首先,根据纹理特征聚类算法为缺陷图像分配初始类别标签;然后,通过卷积神经网络(CNN)提取图像的深度特征;最后,基于KL散度提出一种动态加权重标注方法,联合初始类别标签、Softmax、约束聚类等多个分类方法,在模型训练过程中不断修正初始类别标签,以获取更加稳定且精准的缺陷分类结果。在NEU公共数据集和上海宝钢缺陷数据集上进行大量实验,结果表明,DWJC分别取得了99.5%和94.3%的平均精度。 展开更多
关键词 表面缺陷分类 无监督分类 纹理特征 聚类算法 动态权重
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吸附在Cu_(2)O(111)表面的Pd_(n)(n=2~8)团簇稳定性的DFT研究
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作者 范祥瑞 李志斌 +2 位作者 赵子萱 刘汉阳 王红涛 《现代化工》 北大核心 2025年第S1期104-108,共5页
采用周期密度泛函理论计算研究了Pd_(n)团簇在Cu_(2)O(111)表面和Cu_(2)O(111)Cu缺陷表面的吸附作用。结果表明,相比于在Cu_(2)O表面,Pd_(n)团簇更容易吸附在Cu_(2)O(111)Cu缺陷表面。应用Bader电荷研究了Pd_(n)在Cu_(2)O表面的结构稳定... 采用周期密度泛函理论计算研究了Pd_(n)团簇在Cu_(2)O(111)表面和Cu_(2)O(111)Cu缺陷表面的吸附作用。结果表明,相比于在Cu_(2)O表面,Pd_(n)团簇更容易吸附在Cu_(2)O(111)Cu缺陷表面。应用Bader电荷研究了Pd_(n)在Cu_(2)O表面的结构稳定性,揭示了当Pd_(n)团簇吸附在Cu_(2)O表面时,Pd_(n)团簇会向Cu_(2)O表面转移电子,这增强了Cu_(2)O的抗氧化性。Pd_(2)在Cu_(2)O表面时倾向于解离吸附,这是由于Pd与Cu_(2)O表面的相互作用更大。 展开更多
关键词 Cu_(2)O(111)表面 Cu缺陷 Pd_(n)团簇 吸附 密度泛函理论
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基于KMW-YOLOv5的PCB表面缺陷检测算法研究
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作者 程瑶 石肖伊 +1 位作者 王玉菡 龚奥 《仪表技术与传感器》 北大核心 2025年第4期108-114,共7页
随着电路板制作越来越小型化、轻薄化,针对现有PCB缺陷检测算法存在检测性能差,容易出现漏检、误检等问题,文中提出基于KMW-YOLOv5的PCB缺陷检测算法。首先针对PCB微小缺陷,采用K-means++算法重新聚类生成更适合于目标数据集的锚框尺寸... 随着电路板制作越来越小型化、轻薄化,针对现有PCB缺陷检测算法存在检测性能差,容易出现漏检、误检等问题,文中提出基于KMW-YOLOv5的PCB缺陷检测算法。首先针对PCB微小缺陷,采用K-means++算法重新聚类生成更适合于目标数据集的锚框尺寸,提高模型对缺陷的检测效率。然后,对YOLOv5的特征融合层进行改进,加强PCB语义特征信息的融合,降低对PCB缺陷检测的漏检率以及误检率。最后,采用回归损失函数WIoU,提高网络对改进锚框的关注度、对PCB缺陷目标的定位能力。实验结果表明:KMW-YOLOv5算法在PCB Defect公开数据集测试中,其平均检测精度为98.3%,相较于YOLOv5提高了1.9%,优于其他PCB缺陷检测算法。 展开更多
关键词 PCB缺陷检测 YOLOv5 聚类算法 MobileViT
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基于深度学习的少样本光伏边框划痕检测
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作者 刘骞 陈茂林 《机械与电子》 2025年第8期47-53,60,共8页
针对光伏板铝合金边框表面划痕检测中存在的小样本、背景复杂等问题,提出了一种基于改进YOLOv5s的深度学习检测方法。先通过k-means聚类算法训练锚框数据,再引入SPPFCSPC模块,融合AKConv卷积,并采用Shape-IoU损失函数与Soft-NMS算法。... 针对光伏板铝合金边框表面划痕检测中存在的小样本、背景复杂等问题,提出了一种基于改进YOLOv5s的深度学习检测方法。先通过k-means聚类算法训练锚框数据,再引入SPPFCSPC模块,融合AKConv卷积,并采用Shape-IoU损失函数与Soft-NMS算法。实验选用73张工业现场采集的划痕图像(训练集66张,验证集7张),在有限算力环境下进行训练。结果表明,改进后的YOLOv5s-KSASS模型在平均精度、精确率和召回率上分别达到0.93211、0.99975和0.85714,较原始YOLOv5s模型提升了126.3%、16.2%和100.7%,有效解决了小样本条件下复杂背景干扰和微弱缺陷检测难题,为工业场景中的高精度表面缺陷检测提供了轻量化解决方案。未来将进一步优化模型对低对比度划痕的敏感性,并扩展至多类别缺陷检测任务。 展开更多
关键词 缺陷检测 深度学习 K-MEANS聚类 SPPFCSPC AKConv 损失函数
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双相钢冷轧基料边部簇状细线缺陷成因分析及改进
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作者 余志军 梁泽成 +2 位作者 宁子识 宁琳锋 周晓仪 《轧钢》 北大核心 2025年第4期156-160,共5页
针对双相钢冷轧基料边部簇状细线缺陷导致冷轧切损量大的问题,对缺陷进行宏观及微观形貌分析,并排查热轧生产过程,明确了双相钢冷轧基料边部簇状细线缺陷的产生原因,提出了针对性改进措施。结果表明:双相钢冷轧基料边部簇状细线缺陷的... 针对双相钢冷轧基料边部簇状细线缺陷导致冷轧切损量大的问题,对缺陷进行宏观及微观形貌分析,并排查热轧生产过程,明确了双相钢冷轧基料边部簇状细线缺陷的产生原因,提出了针对性改进措施。结果表明:双相钢冷轧基料边部簇状细线缺陷的形成是由于在粗轧过程中,板坯与立辊粗糙面接触后形成凹坑缺陷,凹坑缺陷在轧制过程中沿轧制方向延伸形成细线状缺陷,并随着粗轧过程中板坯边角部金属流动逐渐上翻至上表面,经平辊轧制后在双相钢冷轧基料上表面形成边部簇状细线缺陷。通过缩短立辊更换周期和调整粗轧轧制模式,消除了双相钢冷轧基料边部簇状细线缺陷,提高了双相钢边部质量。 展开更多
关键词 双相钢 簇状细线缺陷 立辊表面质量 轧制模式
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基于改进Faster R-CNN的轴承端面缺陷检测方法
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作者 李晓宇 张涛 +1 位作者 刘宏伟 汪勇 《计算机仿真》 2025年第1期491-496,共6页
针对轴承端面小目标缺陷识别率不高、漏检多等问题,提出一种基于改进Faster R-CNN的轴承端面缺陷检测方法。首先,自主采集了轴承端面缺陷数据集,并利用Mixup、Mosaic和Getrandom三种方式对数据集进行扩增,保证数据样本充足,有效避免了... 针对轴承端面小目标缺陷识别率不高、漏检多等问题,提出一种基于改进Faster R-CNN的轴承端面缺陷检测方法。首先,自主采集了轴承端面缺陷数据集,并利用Mixup、Mosaic和Getrandom三种方式对数据集进行扩增,保证数据样本充足,有效避免了过拟合问题;其次,对比了ResNet50和VGG16两种不同特征提取网络,选择检测精度更优的ResNet50作为主干网络,并结合特征金字塔(FPN)网络,以提升网络训练性能;最后,针对原有算法锚框过大的问题,使用K-means算法改进锚框方案,提高小目标缺陷检测能力。实验结果表明,改进Faster R-CNN算法的平均精度均值(mAP)可达85.80%,具有更好的检测精度和较低的漏检率,以上研究为轴承端面缺陷检测系统的改进提供了新思路和方法,对工程实践具有重要意义。 展开更多
关键词 轴承端面 缺陷检测 数据增强 多尺度融合 聚类算法
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基于计算机视觉的陶瓷缺陷检测系统研究
19
作者 刘英 许世杰 周成 《佛山陶瓷》 2025年第10期78-82,共5页
针对镜头畸变、摆放不正、光线不均及运动模糊等因素导致的圆形陶瓷缺陷检测与定位难题,本研究提出了一种基于计算机视觉技术的日用陶瓷在线缺陷检测系统。该系统通过构建包含局部凹度系数、离散曲率梯度、角度变化率和径向偏差分量的... 针对镜头畸变、摆放不正、光线不均及运动模糊等因素导致的圆形陶瓷缺陷检测与定位难题,本研究提出了一种基于计算机视觉技术的日用陶瓷在线缺陷检测系统。该系统通过构建包含局部凹度系数、离散曲率梯度、角度变化率和径向偏差分量的四维形态学特征空间,结合非线性特征增强与层次化特征融合,实现了对圆形及非圆形陶瓷缺陷的高效检测与精准定位。实验表明,该方法在复杂工况下仍能实现高精度缺陷检测与定位,为陶瓷产品质量控制提供了理论依据与技术支撑。 展开更多
关键词 形态学图像分析 多维特征融合 非线性增强 自适应阈值聚类 陶瓷缺陷检测
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基于YOLOv4-tiny-SR的涂层表面缺陷嵌入式检测方法
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作者 赵辉 侯旭涛 +3 位作者 宋龙 徐可 沙建军 陈宗阳 《计算机工程与应用》 北大核心 2025年第8期239-249,共11页
提出一种涂层表面缺陷检测方法,解决涂层表面缺陷嵌入式检测过程中的检测精度低、速度慢以及对硬件配置要求高等难题。YOLOv4-tiny-SR中使用了新模型块DSRBlock,该模型块的局部结构能够在保证检测精度的同时大幅降低内存消耗并提升检测... 提出一种涂层表面缺陷检测方法,解决涂层表面缺陷嵌入式检测过程中的检测精度低、速度慢以及对硬件配置要求高等难题。YOLOv4-tiny-SR中使用了新模型块DSRBlock,该模型块的局部结构能够在保证检测精度的同时大幅降低内存消耗并提升检测速度;提出几何平均聚类方法,将聚类中心的更新方式由算术平均转换为几何平均,以避免聚类中心向大目标框偏移;同时针对难检测样本,设计包围盒聚焦损失函数,以增大网络对其学习强度,改善检测效果。基于涂层表面缺陷实测数据的比对实验结果显示,该方法与其他方法相比在参数量、模型大小、检测速度及精度上均具有明显优势,其中与目前主流的YOLOv4-tiny相比,参数量降低51.82%,模型大小减小46%,速度提升39.47%,精度也提升了1.25个百分点。该方法检测速度更快、检测精度更高、内存消耗更小,在面向工业应用的嵌入式设备上实时检测表面缺陷实用价值高,可向相关领域推广应用。 展开更多
关键词 涂层表面缺陷 YOLOv4-tiny-SR 几何平均聚类 包围盒聚焦损失
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