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(100)应变对立方相Ca_2P_(0.25)Si_(0.75)光电特性的影响 被引量：1
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作者 岑伟富 杨吟野 +2 位作者 范梦慧 杨文帮 姚娟 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2014年第9期707-713,共7页
采用基于密度泛函理论（DFT）的第一性原理赝势平面波方法对（100）应变下立方相Ca2P0.25Si0.75的能带结构及光学性质进行了模拟计算。计算结果表明：在90%~100%的压应变范围,立方相Ca2P0.25Si0.75的带隙随着压应变增加逐渐减小;在100%~... 采用基于密度泛函理论（DFT）的第一性原理赝势平面波方法对（100）应变下立方相Ca2P0.25Si0.75的能带结构及光学性质进行了模拟计算。计算结果表明：在90%~100%的压应变范围,立方相Ca2P0.25Si0.75的带隙随着压应变增加逐渐减小;在100%~102%张应变范围,带隙随着张应变增加逐渐增大,张应变为102%时,带隙达到最大,Eg=0.513 9 eV;当张应变大于102%,立方相Ca2P0.25Si0.75转化为间接带隙半导体。在102%~120%应变范围,带隙随着应变增大而减小。当施加应变后立方相Ca2P0.25Si0.75的光学性质发生显著变化：增加压应变,立方相Ca2P0.25Si0.75的介电常数、折射率及吸收系数逐渐增加;增加张应变,反射率增加。因此,采用（100）应变可调制立方相Ca2P0.25Si0.75的能带结构和光学常数,是一种有效调节其光电传输性能的手段。 展开更多
关键词 ca2p0 25Si0 75 能带结构 光学性质 应变 第一性原理
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