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题名一种CPU芯片功能自动测试平台的设计
被引量：4
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作者
侯庆庆
刘凯
李文学
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机构
中科芯集成电路有限公司
中电科申泰信息科技有限公司
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出处
《电子与封装》
2021年第11期9-13,共5页
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文摘
针对CPU芯片的复杂性,芯片的自动化测试可节约测试时间,提高测试的准确度。设计了一种CPU芯片功能自动测试平台,该测试平台由待测CPU芯片、主控芯片和FPGA组成,主控芯片实现对待测电路的功能测试,FPGA负责协助处理,测试平台可实现CPU芯片的自动测试,测试结果通过串口输出表格化信息,便于观察测试结果与故障判断,弥补了测试机的不足。验证结果表明,该测试平台操作方便,可实现对复杂CPU的自动化测试,提高产品的测试效率。
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关键词
测试平台
自动化测试
CPU芯片
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Keywords
testplatform
automatedtesting
cpuchip
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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