期刊文献+
共找到4篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
CMOS APS质子辐照效应实验 被引量:1
1
作者 李永宏 李洋 +7 位作者 杨业 刘方 王迪 赵铭彤 刘昌举 赵浩昱 贺朝会 徐江涛 《现代应用物理》 2021年第3期140-144,共5页
利用西安200 MeV质子应用装置进行了互补金属氧化物半导体有源像素图像传感器(CMOS APS)的质子辐照效应研究。设计了便携式暗室,解决了图像传感器质子辐照效应难以在线测量问题。实验结果表明,质子辐照在CMOS APS中产生的暗电流随质子... 利用西安200 MeV质子应用装置进行了互补金属氧化物半导体有源像素图像传感器(CMOS APS)的质子辐照效应研究。设计了便携式暗室,解决了图像传感器质子辐照效应难以在线测量问题。实验结果表明,质子辐照在CMOS APS中产生的暗电流随质子注量呈线性增长;当质子注量小于5×10^(12)cm^(-2)时,CMOS APS暗信号的非均匀性、光响应的非均匀性和不同光场强度下的平均输出值等参数的变化趋势不明显;当质子注量大于5×10^(12)cm^(-2)时,这些参数会产生不同程度的增加。 展开更多
关键词 cmos aps 质子辐照效应 暗信号 光响应非均匀性
在线阅读 下载PDF
多分辨率CMOS图像传感器芯片设计 被引量:2
2
作者 解宁 丁毅 +1 位作者 王欣 陈世军 《半导体技术》 CAS 北大核心 2019年第7期506-510,519,共6页
在一些特殊图像处理任务如模式识别、目标跟踪和图像压缩等中需要图像传感器能够实现动态的可编程帧频和多分辨率。介绍了一种CMOS图像传感器设计,可以通过编程方式获得动态像素分辨率。在普通模式下,作为典型的图像传感器获得全帧图像... 在一些特殊图像处理任务如模式识别、目标跟踪和图像压缩等中需要图像传感器能够实现动态的可编程帧频和多分辨率。介绍了一种CMOS图像传感器设计,可以通过编程方式获得动态像素分辨率。在普通模式下,作为典型的图像传感器获得全帧图像数据;在合并模式下,将传感器像素阵列分为特定子模块并且合并读出,同时获得更高的帧频,子模块的规格可通过编程进行定义。该CMOS有源像素传感器(APS)采用0.18μm CMOS工艺实现,阵列规模为256×512,既可以像素全部输出,又可实现任意p×q像素合并读出。通过将信号处理电路转移到焦平面的方式,可大大降低后续图像处理的计算量,从而使系统降低了功耗并提高了处理效率。 展开更多
关键词 cmos有源像素传感器(aps) 像素合并 可编程多分辨率 动态帧频 低功耗
原文传递
CMOS图象传感器 被引量:2
3
作者 董守愚 《安徽电子信息职业技术学院学报》 2006年第6期100-101,112,共3页
本文简要介绍了CMOS图象传感器的结构类型和基本原理,并对CMOS传感器和CCD传感器的主要特点做以比较,对CMOS传感器的现状和发展进行介绍。
关键词 互补金属氧化物半导体图象传感器 cmosaps 电荷耦合器件 CCD 光电效应 无源像素 有源像素
在线阅读 下载PDF
Radiation effects on scientific CMOS image sensor 被引量:2
4
作者 赵元富 刘丽艳 +2 位作者 刘晓会 晋孝峰 李想 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 2015年第11期53-57,共5页
A systemic solution for radiation hardened design is presented. Besides, a series of experiments have been carried out on the samples, and then the photoelectric response characteristic and spectral characteristic bef... A systemic solution for radiation hardened design is presented. Besides, a series of experiments have been carried out on the samples, and then the photoelectric response characteristic and spectral characteristic before and after the experiments have been comprehensively analyzed. The performance of the CMOS image sensor with the radiation hardened design technique realized total-dose resilience up to 300 krad(Si) and resilience to singleevent latch up for LET up to110 Me V cm^2/mg. 展开更多
关键词 cmos image sensor(aps dark current dark signal response non-uniformity total dose effects single event effects
原文传递
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部