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基于BSIM4模型的不对称性研究及改进
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作者 李斌 潘元真 许跃彬 《华中科技大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第1期102-105,共4页
以BSIM4模型为基础,从沟道电荷密度、有效源漏电压、载流子速度饱和及阈值电压等几个方面出发,找出BSIM4模型中导致不对称的因素,给出了对称的沟道电荷密度公式、源漏有效电压公式和载流子速度饱和公式;同时通过在源端和漏端分别计算的... 以BSIM4模型为基础,从沟道电荷密度、有效源漏电压、载流子速度饱和及阈值电压等几个方面出发,找出BSIM4模型中导致不对称的因素,给出了对称的沟道电荷密度公式、源漏有效电压公式和载流子速度饱和公式;同时通过在源端和漏端分别计算的方法,抵消源/漏电压处理方式不同所带来的不对称性;最后推导出新的对称的沟道电流公式.模型验证表明:改进后的模型不但可以准确地模拟器件的特性,而且拥有更高的对称性.改进模型拓宽了BSIM4模型的运用范围,可以更有效地运用于RF集成电路设计和仿真. 展开更多
关键词 集成电路 bsim4模型 RF集成电路设计 对称性 仿真
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一种基于BSIM4的屏蔽栅沟槽MOSFET紧凑型模型 被引量:1
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作者 江逸洵 乔明 +4 位作者 高文明 何小东 冯骏波 张森 张波 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2020年第17期201-212,共12页
提出了一种基于BSIM4的屏蔽栅沟槽MOSFET紧凑型模型.在直流模型中使用两端电势建立JFET区等效电阻模型,并引入电子扩散区等效电阻,解决了因忽视JFET区源端电势导致的电流存在误差的问题.在电容模型中,漏源电容模型在BSIM4的基础上添加... 提出了一种基于BSIM4的屏蔽栅沟槽MOSFET紧凑型模型.在直流模型中使用两端电势建立JFET区等效电阻模型,并引入电子扩散区等效电阻,解决了因忽视JFET区源端电势导致的电流存在误差的问题.在电容模型中,漏源电容模型在BSIM4的基础上添加了屏蔽栅-漏等效电容模型,栅漏电容模型将栅漏偏置电压修改为栅极同栅-漂移区重叠区末端节点的电势差.使用泊松方程求解该节点电势,并引入栅氧厚度因子k1、屏蔽栅氧化层厚度因子k2、等效栅-漂移区重叠长度Lovequ和等效屏蔽栅长LSHequ对栅和屏蔽栅的结构进行等效,以简化泊松方程的计算并确保该节点电势曲线的光滑性.使用Verilog-A编写模型程序,搭建实验平台测试屏蔽栅沟槽MOSFET的直流特性、电容特性和开关特性,模型仿真结果与测试数据有较好的拟合,验证了所建模型的有效性. 展开更多
关键词 屏蔽栅沟槽MOSFET 紧凑型模型 bsim4 VERILOG-A
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BSIM4和ULTRA-BULK模型对称性和连续性的检验
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作者 李博 牛旭东 +2 位作者 宋岩 何进 林信南 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2010年第1期27-31,共5页
以对比的形式用GUMMEL对称测试电路的模拟结果检验了伯克利大学的BSIM4和北京大学的ULTRA-BULK两个CMOS器件模型的对称性和连续性特性。SPICE模拟结果表明:工业标准模型BSIM4在电荷、电流高阶导数以及电容等的连续性和对称性上具有一系... 以对比的形式用GUMMEL对称测试电路的模拟结果检验了伯克利大学的BSIM4和北京大学的ULTRA-BULK两个CMOS器件模型的对称性和连续性特性。SPICE模拟结果表明:工业标准模型BSIM4在电荷、电流高阶导数以及电容等的连续性和对称性上具有一系列的缺陷,而最新发展的基于表面势的MOSFET解析模型ULTRA-BULK却表现出必需的连续性和对称性。既然这些属性对于模拟电路和射频电路设计都是非常重要的,那么新一代CMOS模型采用基于表面势的各种MOSFET解析模型将是必然的发展。 展开更多
关键词 解析模型 bsim4 ULTRA—BULK 电路设计和模拟 连续性 对称性
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Benchmark tests on symmetry and continuity characteristics between BSIM4 and ULTRA-BULK
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作者 牛旭东 李博 +2 位作者 宋岩 张立宁 何进 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第3期63-66,共4页
This paper presents the benchmark test results on the symmetry and continuity characteristics between BSIM4 from Berkeley and ULTRA-BULK from Peking University. It is shown that the industry standard model BSIM4 has a... This paper presents the benchmark test results on the symmetry and continuity characteristics between BSIM4 from Berkeley and ULTRA-BULK from Peking University. It is shown that the industry standard model BSIM4 has a series of the shortcomings of the continuity and symmetry, such as the charge, high-order current derivatives, and the trans-capacitances while the latest advanced surface-potential based MOSFET compact model, ULTRA-BULK, demonstrates all necessary continuity and symmetry characteristics, which are very important for analog and RF circuit design. 展开更多
关键词 compact model bsim4 ULTRA-BULK circuit design CONTINUITY SYMMETRY
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BSIM Model Research and Recent Progress 被引量:5
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作者 何进 陈文新 +4 位作者 奚雪梅 宛辉 品书 阿里.力克纪达 胡正明 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第3期388-396,共9页
The continued development of CMOS technology and the emergence of new applications demand continued improvement and enhancement of compact models. This paper outlines the recent work of the BSIM project at the Univers... The continued development of CMOS technology and the emergence of new applications demand continued improvement and enhancement of compact models. This paper outlines the recent work of the BSIM project at the University of California, Berkeley,including BSIM5 research, BSIM4 enhancements, and BSIMSOI development. BSIM5 addresses the needs of nano-CMOS technology and RF high-speed CMOS circuit simulation. BSIM4 is a mature industrial standard MOSFET model with several improvements to meet the technology requirements. BSIMSOI is developed into a generic model framework for PD and FD SOI technology. An operation mode choice,via the calculation of the body potential △Vbi and body current/charge,helps circuit designers in the trend of the coexistence of PD and FD devices. 展开更多
关键词 compact modeling BSIM5 bsim4 BSIMSOI device physics MOSFETS
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